Устройство для контроля несферических поверхностей вращения

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОГ1ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (ii) 489930

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 06.03.74 (21) 2002714/25-28 с присоединением заявки №

1осуаарственный комитет (23) ПРиоРитет

Совета Министров СССР

Опубликовано 30.10.75. Бюллетень ¹ 40 (51) М. Кл. С 01Ь 5/20 (53) УДК 531.71(088.8) оо делам изобретений ч открытий

Дата опубликования описания 18.02.76 (72) Авторы изобретения

В. В. Горелик, T. М. Леушина, Г. И. Амур и К. А. Воронков (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ

ПОВЕРХНОСТЕЙ ВРАЩ

Изобретение относится к области измерительной техники и касается устройства для контроля формы несферических поверхностей вращения, например крупногабаритных оптических деталей.

Известны устройства для контроля несферичсских поверхностей вращения, содержащие поворотньш стол и стойку., расположенную соосно с ним и имеющую две взаимно перпсндикулярпыс направляющие, эталонную поверхность, закрепленную на одной из направляющих, и отсчетный прибор с опорным и измерительным наконечниками, закрепленный с возможностью перемещения по другой направляющей. В этом устройстве эталонная поверхность расположена под постоянным прямым углом к плоскости поворотного стола, а отсчетное устройство передвигается по одной из направляющих. Однако такими устройствами можно контролировать только поверхности, имеющие небольшую асферичность (отклонение от сферической или плоской поверхности) .

Кроме того, при измерениях крупногабаритных деталей измерительное устройство должно иметь значительные габариты, сравнимые с габаритами проверяемой поверхности.

Целью изобретения является создание такой конструкции устройства для контроля несферических поверхностей вращения, которая обеспечивала бы повышение точности контроля и расширение пределов измерения.

Эта цель достигается тем, что ось стойки наклонена под заданным углом а к оси стола и выполняет также функции оси вращения отсчетного прибора. его опорный наконе пшк контактирует с эталонной поверхностью, которая выполнена установочно поворотной под задаппыM > глом р к осп стойки.

На чертеже изображена принцшшальная с.,сма устройства.

Оно содержит ось 1 для установки и поворота детали 2 с проверяемой поверхпост>по 3.

15 На основании 4 под рассчитанным углом R к оси 1 закреплена стойка 5, имеющая на конце ось 6, на которой установлен с возможностью поворота кронштсш11 7, регулируемый Но длине. На этом кронштейне на расстоянии / от

20 осп 6 в прямолинейных направляющих 8 установлена стойка О. Одним концом она поджимается к проверяемой поверхности 3, например, с помощью пружины 10. На другом ес конце закреплен индикатор или микрокатор

25 11, измерительный наконечник которого коп Iàêòèðóåò с эталонной плоскостью пластины

12. Последняя установлена на оси 13 под рассчитанным углом р к оси 6. Положение стойки 5 относительно основания 4 регулируется с

30 помощью раздвижного кронштейна 14.

489930

oos (2З вЂ” я) cos " е

cos (2, — я) Для уменьшения размеров пластины 12 II!Ill контроле крупногабаритных деталей ollcl уста овлепа с возможностью поворота вокруг перпендикулярной эталонной плоскости осп (на фигуре не показана).

Для автоматизации процесса считывания результатов измерений вместо индикатора или микрокатора 11 устанавливается автоматический датчик линейных перемещений, например электрический или пневматический, который соединен с помощью усилительно-преобразующего тракта с записывающим устройством.

При контроле правильности формы поверхности второго порядка, профиль которой задан уравнением у-": — 2r,õ + (е — 1) х, где г, — радиус кривизны в вершине поверхности; е — эксцснтриситет, величины я, Р и Р определяются IIs слсдуюпlих зависимостей:

Контроль формы поверхностей второго порядка с помощью предлагаемого устройства производится следующим образом. Стойка 9 поворачивается, например, с помощью привода (на фигуре нс показан) вокруг оси 6 и перемещается в прямолинейных направляю1цих

H. При этом один ее конец поджимается к проверяемой поверхности, описывая замкнутую траекторию, касающуюся края и вершины поверхности. В свою очередь, измерительный наконечник индикатора или микрокатора !! контактирует с эталонной плоскостью пластины о

7;)

40!

2 и конец с10 описывает таку;о же траекторп1о ila эталонной плоскости. Если проверяемая поверхность имеет отклонения от теоретического профиля, по шкале индикатора и Ili микрокатора фиксируется это отклонение. Для контроля другого сечения деталь 2 поворачивается на оси 1.

Таким образом, при контроле формы криволинейных поверхностей с помощью предлагаемого устройства в качестве эта IQHHQH:. ñïîëüзуется простейшая поверхность — плоскость; при этом, размеры ее могут быть значительно меньше размеров проверяемой поверхности.

Kpol le того, асферичпость проверяемой lioвсрхности не ограш1чпвается диапазоном измерения отсчетного устройства, а определяется параметрами установки прибора — углами о. и )a и радиусом R и х!о коз достигать значительной величины.

Предмет изобретения

Устройство для контроля несферическпх поверхностей вра1цени11, содержащее поворотный стол и стойку, соосно расположенную с ним и пмсющу10 две взаимно перпендикулярные направляющие, эталонную поверхность, закреплеш!ую а одной з направл11101цпх, и отсчетпый прибор с опорным и измерптслы1ым наконечниками, закрепленный с возможное".ью псремсгцеш1я по другой направляющей, отличающееся тем, что, с целью иовыi!!0!II то шости и расширения пределов и;»срсппя, ось стойки наклонена под заданным углом а к оси стола Il выполняет также функI,èè ocII прап!ения Отсчетного прибора, его опорный наконечник коптак1ирует с эталонной поверхностью, которая выполнена устянОВО IIIO поворотной под 3 яда ни ы 331 глоъ! (1 к

Осп стОЙки.

489930

Составитель Л, Трншина

Текред М. Семенов

Редактор Е. Дайч

Корректор Л. Деннскнна

Заказ 119,7 Изд. ¹ 1978 Тираж 782 Подписное

Ц11ИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретешш и открытий

113035, Москва, OI(-35, Раушская наб., д. 4 5

Типография, пр. Сапунова, 2