Камера образца электронного микроскопа

Камера образца электронного микроскопа

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИ

ИЗОБРЕТЕНИЯ й11 493837

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 01.06,73 (21) 1925467!26-25 (51) М. Кл. Н 01j 37/26 с присоединением заявки №

Государствеииый комитет

Совета Мииистров СССР по делам иаобретеиий и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 30.11.75. Бюллетень ¹ 44

Дата опубликования описания 24.02.76 (53) УДК 621.385.833 (088.8) <72) Авторы изобретения

В. И. Апарин, E. А, Духовской, В. Н. Захаров, В. И. Насонкин и А, А. Силин 71) Заявитель (54) КАМЕРА ОБРАЗЦА ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА

Изобретение относится к устройствам для электроннографических исследований материалов.

Известны устройства для создания того или иного воздействия на объект, изучаемый в электронном микроскопе. Однако эти устройства не позволяют исследовать, структурные изменения в образцах, образовавшиеся в процессе трения.

Целью изобретения является создание устройства для исследования структурных изменений в облученных образцах в процессе трения.

Достижение поставленной цели осуществляется тем, что камера образца электронного микроскопа снабжена нагрузочным устройством с контртелом, закрепленным на защитном стакане с возможностью перемещения контртела в направлении, перпендикулярном к поверхности образца, укрепленного на поворотном столе, ось вращения которого связана с внешним приводом.

На чертеже изображена предлагаемая камера.

Камера содержит поворотный стол 1, размещенный внутри защитного стакана 2, в который встроен источник облучения 3, и нагрузочное устройство с контртелом 4. Внутри защитного стакана, коаксиально с ним, установлен азотный экран 5, закрепленный на фланце 6 с герметизирующей прокладкой 7.

Камера работает следующим образом.

На поворотном столе 1, ось вращения которого связана с внешним приводом, закрепляется предварительно промытый в спирте

5 исследуемый образец и устанавливается защитный стакан 2 с источником облучения 3 и нагрузочным устройством с контртелом 4, позволяющим изменять, например, нормальные и тангенциальные усилия. Для пре10 дотвращения попадания паров масла на образец с диаметрально противоположной стороны коаксиально по отношению к защитному стакану устанавливается азотный экран 5. Колонна микроскопа откачивается до вакуума

15 порядка 10 —" тор, и снимается дифракционная картина с исследуемого образца. Затем образцу придается вращательное движение, поверхность образца с помощью нагрузочного устройства с контртелом подвергается меха20 ническим воздействиям и непосредственно в процессе этих воздействий фиксируется изменение дифракционной картины.

25 Предмет изобретения

Камера образца электронного микроскопа, содержащая поворотный стол, о т л и ч а ющ а я с я тем, что, с целью исследования

30 структурных изменений в образцах в процессе трения, она снабжена нагрузочным устройст493837

Составитель Б. Калин

Текред М, Семенов

Корректор М. Лейзерман

Редактор Е. Караулова

Заказ 177/13 Изд. № 2043 Тираж 833 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 вом с контртелом, установленным с возможностью перемещения контртела в направлении, перпендикулярном к поверхности образца, укрепленного на поворотном столе, ось вращения которого связана с внешним приводом.