Устройство для измерения температуры

Устройство для измерения температуры

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

00 499508

ОП ИСАНИ Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Юоюа Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСИОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 08.08.73 (21) 1952075/18-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 15.01.76. Бюллетень № 2

Дата опубликования описания 05.04.76 (51) М. Кл. G 01К 11/00

Госудврствеииый комитет

Совета Иииистров СССР ло лелем иаобретеиий и открытий (53) УДК 536 5(088 8) (72) Авторы изобретения

Б. И. Молочников и Г. К. Костюк (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ

Изобретение относится к области температурных измерений.

Известны устройства для измерения температуры, содержащие источник плоскополяризованного света, фотоэлектрический измери,тельный блок, термочувств ительный элемент, расположенный между источником света и измерительны|м блоком.

Однако эти устройства обладают низкой чувствительностью.

Для повышения чувствительности в предлагаемом устройстве термочувствительный элемент выполнен из одноосного кристалла, вырезанного параллельно главной опти.:еской оси, причем его главные направления составляют у"гол 45 с плоскостью поляризации падающего света и главными направлениями компенсатора фотоэлектрического блока.

Прин ципиальная схема описываемого устройства изображена на чертеже.

Источник плоскополяризованного света образован лазером 1, зеркалом 2 и поляризатором 3. Свет от лазера 1 отражается зеркалом 2, проходит через поляризатор 3 и через защитное стекло 4 по падает в камеру, температуру внутри которой измеряют.

В камере расположен кристалл-термодатчик 5,,вырезанный параллельно оптической оси. Главные направления кристалла ориентированы под углом 45 к плоскости поляризации поляризатора 3. Для уменьшения габаритов устройства на поверхность 6 кристалла нанесено отражающее покрытие.

5 Плоокополяризованный световой пучок после прохождения кристалла преобразуется в эллиптически поляризованный. Величина элиптичности света, зависящая от двулучепреломления кристалла, которая, в свою очередь, 10 является функцией температуры, измеряется компенсатором 7 разности фаз, главное направление которого параллельно плоскости поляризации поляризатора 3, и фотоэлектрической системой, содержащей модулятор 8

15 типа Фарадея, анализатор 9, фотоприемник

10, усилитель 11, отрабатывающий, двигатель с редуктором 12 и отсчетную шкалу 13. Измерение осуществляется в следящем режиме обычным образом.

20 В качестве термочувствительного элемента иопользуются кристаллы, обладающие ярко выраженной зависимостью двулучепреломления от температуры, например кристаллы кальцита, АДР, КДР и др. У этих кристал25 лов разл ичны термооптические коэф фициенты показателя преломления для обыкновенного и необыкновенного лучей. Изменение температуры среды, а следовательно, и кри сталла приводит к изменению разности хода

30 между обыкновенным и необыкновенным лу4995О8

Формула изобретения

Составитель В. Куликов

Техред Е. Митрофанова Корректор А. Галахова

Редактор И. Петрашень

Заказ 571/6 Изд. ¹ 1048 Тираж 814 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, %-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 чами, т. е. к изменению эллиптичности прошедшей световой волны, которая и регистрируется фогоэлектрическим измерительным блоком.

Предлагаемое устройство позволяет оценить изменение температуры с чувствительностью выше К вЂ” " град.

Устройство для измерения температуры, содержащее источник плоскополяризованного света, фотоэлектрический измерительный блок, состоящий из компенсатора, модулятор ра, анализатора и фотопр иемника, термочу ствительный элемент, расположенный между источни ко м света и измерителыным блоком, отл.ич ающееся тем, что, с целью повышения чувствительности, термочувствительElbIH элемент выполнен из одноосного кристалла, вырезанного параллельно главной оптической оси,,причем его глав ные направления составляют угол 45 с плоскостью поляризации падающего света и главными направлениями ком пенсатора фотоэлектрического блока.