Устройство для электромагнитного многопараметрового контроля качества поверхностной обработки ферромагнитных металлических изделий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

00 501347

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН Ь1 Я

Союз Советских

Социалистических

Респуслик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.05.72 (21) 1783936/25-28

f (1) М, 1(л."- О 01M 27 86! с присоединением заявки № ! (23) Приоритет

Опубликовано 30.01.76. Бюллетень № 4

Госудаостееииьй комите-;

Соеета Ыинистрое СССР оо делая иаебретсиий и от ритий (53) УДК 620.179.14 (088.8) Дата опубликования описания 07.04.76 (72) Авторы пзооретEе! ия

В. Г, Пустынников и Б. В. Лаврентьев (71) Заявитель Ростовский-на-Дону институт сельскохозяйственного машиностроения (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО

МНОГОПАРАМЕТРОВОГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА

ПОВЕРХНОСТНОЙ ОБРАБОТКИ ФЕРРОМАГНИТНЫХ

МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к области неразрушающего контроля физических и механических свойств ферромагнитных материалов.

Известно устройство для контроля качества поверхностно-упроченных слоев ферромагнитных материалов.

Известное устройство содержит первый счетно-решающий блок, группу генераторов синусоидальных колебаний, по числу измерительных каналов, сумматор, эталонный и измерительный датчики, возбуждающие обмотки которых соединены последовательно и через сумматор подключены к генераторам синусоидальных колебаний, группу синхронных детекторов, опорные входы которых подключены каждый к своему генератору синусоидальных колебаний, а сигнальные — соединены с концами последовательно соединенных измерительных обмоток эталонного и измерительного датчиков, выходы же — с первым счетно-решающим блоком.

Недостатком известного устройства является большая составляющая погрешности контроля, возникающая в результате отсутствия контроля неоднородности качества поверхностной обработки (например, изменения контролируемой глубины поверхностного упрочненного слоя) в пределах базы измерительного датчика.

Цель изобретения — повышение точности контроля.

Для этого устройство дополнительно снабжено двумя счетно-решающими блоками, группой блоков анализа годности, группой функциональных преобразователей, двумя группами синхронных -детекторов, а измерительный датчик снабжен дополнительными измерительными обмотками, опорные же входы

10 синхронных детекторов подключены к генераторам синусоидальных колебаний, сигнальные — к концам дополнительных измерительных обмоток измерительного датчика, а выходы — ко второму и третьему счетно-решаю15 щим блокам, выходы каждого из которых соединены со входами функциональных преобразователей, подключенных выходами к входам группы блоков анализа годности, на другие входы которых поданы выходы первого счет20 но-решающего блока.

На чертеже изображена блок-схема предлагаемого устройства.

Электромагнитные трансформаторные дат25 чики и 2 включены в дифференциальную измерительную схему. Датчик 1 расположен на контролируемом изделии, датчик 2 — ца эталонном. Датчик 1 снабжен двумя парами дополнительных измерительных обмоток, вклю30 ченных попарно, последовательно и встречно.

501347

Составитель А. Матвеев

Техред М. Семенов

Редактор Н. Коляда

Корректоры: Л. Денискина и О. Тюрина

Заказ 561 10 Изд, М 1047 Тираж 1029 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 последовательно соединенных измерительных обмоток эталонного и измерительного датчиков, выходы же — с первым счетно-решаюшим блоком, отл ича ющееся тем, что, с целью повышения точности контроля, устройство дополнительно снабжено двумя счетнорешающими блоками, группой блоков анализа годности, группой функциональных преобразователей, двумя группами синхронных детекторов, а измерительный датчик снабжен дополнительными измерительными обмотками, опорные же входы синхронных детекторов подключены к генераторам синусоидальных колебаний, сигнальные — к концам дополнительных измерительных обмоток измеритель5 ного датчика, а выходы — ко второму и третьему счетно-решающим блокам, выходы каждого из которых соединены со входами функциональных преобразователей, подключенных выходами к входам группы блоков анализа год10 ности, на другие входы которых поданы выходы первого счетно-решающего блока.