Устройство для контроля отклонений поверхности от заданной формы

Устройство для контроля отклонений поверхности от заданной формы

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П И С А Н И Е >Бо4о79

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Соеетских

Социапистимеских

Респубв ч

К АВТОРСКОМУ СВИДЮТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 21.03.74(21) 2007231/25-28 (51) М Кл г

Q01 В 1 1/24 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано25.02.76. Бюллетень №7 (45) Дата опубликования описания10,02.76

Государственный комитет

Совета Министров СССР оо делам нэооретений н о6рытнй (53) УДК

531.72 (088.8) (72) Авторы изобретения

Б. М. Левин и А. Г. Флейшер (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ОТКЛОНЕНИЙ ПОВЕРХНОСТИ

ОТ ЗАДАННОЙ ФОРМЫ

Изобретение относится к измерительной технике, предназначено для контроля отклонений поверхностей от заданной формы и может быть использовано в производстве, занятым изготовлением высокоточных поверхностей.

Известно устройство для контроля откло,.нений поверхностей от заданной формы, содержащее станину, каретку с расположенными в ней микрообъективом, тубусным объ- !О ективом, фотодатчиком, несущую пружинный подвес со щупом, эталон, выполненный в

"виде стеклянного бруса, который встроен в станину.

Известное устройство имеет сравнитель- 15 но низкую точность измерений и достаточно .сложную конструкцию, так как повер.хность стеклянного эталона должна быть обработа.ta с интерференционной точностью, что не всегда возможно, особенно при 20 больших размерах и сложной форме эталона, Предложенное устройство отличается от известного тем, что эталон в нем выполнен в виде пеленой диафрагмы и уста новлен в предметную плоскость микрообьектива.

Такой эталон достаточно просто изготовить известными оптическими или механическими способами с высокой точностью, причем профиль эталона может быть и сложным. Эталон в виде шелевой диафрагмы позволяет упростить конструкциКЕ устройства и повысить точность измерений, е

На фиг. 1 представлена схема устройства, на фиг. 2 — схема контроля отклонений поверхности от прямолинейности.

Устройство (содержит станину l, на которэй закреплены направляющие, эталон, выполненный в виде щелевой диафрагмы 2, и мотопривод для перемещения каретки 3.

На каретке 3 укреплены микрообъектив 4, тубусный объектив 5, фотодатчик 6 и пружинный подвес с ощупывающим штифтом 7, связанный .с микрообъективом 4.

Предметная плоскость микрообъектива

4 совмещена с ттлоскостью щелевой диафрагмы заданной формы, укрепленной в станине 1. Форма щелевой дигьрягмы мо50407 <.) жет быть выполнена или на делительной машине для случая измерения отклонений от нрямоличейности, как показано на фиг, 2, или фотопутем для иных форм. В последнем случае направляющие должны быть выполнены с приближением. к форме диафрагмы., При движении каретки 3 ощупывающий штифт 7 скользит по контролируемой поверхности „отклонения которой вызывают .ы смешение его и укрепленного на нем микрообъектива 4 относительно .неподвижной освещенной шелевой диафрагмы 2, что приводит к смещению изображения видимой в иикрообъектив 4 части этой диафрагмы и фокальной плоскости тубусного объектива

5, с которой совмещен фотодатчик 6. СигHBJl с фотодатчика передается на cFiMoaHсе ц.

Формула изобретения б

Устройство для контроля отклонений поверхности от заданной формы, содержащее станину, перемещаемую по ней каретку с расположенными в ней микрообъективом, тубусным объективом, фотодатчиком и пружинным подвесом со щупом, эталон, встроенный в станину, о т л. и ч а ю щ е е с я тем, что, с делью повышения точности измерений и упрощения конструкции, эталон

1б

«выполнен в виде щелевой диафрагмы и установлен в предметную плоскость микрообъектива.

504079

Тираж. 864 Подписное

Заказ 6

ИНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035.,Москва, Ж-35, Раушская наб., a. 4/5

Филиал Г1ПП Патент, г..Ужгород, ул. Гагарина, 101

Составитель B. Горшков

Редактор В. Дибобес Техред М. Ликович Корректор 3. Фанта