Способ анализа состава материала в потоке

Способ анализа состава материала в потоке

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДИТИЯЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (») 5941 41 (6!) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено25.11.74 (2l) 2077822/26-25 с присоединением заявки №(23) Приоритет(43) Опубликовано25.02.76.Бюллетень № 7 (45) Дата опубликования описания 05.04.76 (51) М. Кл.

601 8 23/22

Гасударставнный «ам«тат

Санат« Мнннвтрва СССР ав двлам нзвбрвтвннй

N OT«PblTNN (%) ДК621. 386 . (088.8) A. М. Онишенко, А. Г. Васильев, 3. А. Черняк и B. М. Славинский (72) Авторы изобретения

Ордена Трудового Красного Знамени институт горного дела им. A. А. Скочинского (71) Заявитель (54) СПОСОБ АНАЛИЗА СОСТАВА МАТЕРИАЛОВ В ПОТОКЕ

Изобретение тносится к радиоиэотопным способам измерения состава бинарных

1, и кваэвбинарных материалов в потоке, на пример состава листовых сйлавов, пленок,, проката, стекла, пластмасс и т.п.

Известны способы контроля состава биt парных и кваэибинарных смесей, основанные на измерении потока рассеянного вперед ф-,- - или рентгеновского излучения. Однако в этом случае результаты из.мерения зависят от поверхностной плотности контролируемых материалов.

Целью изобретения является повышение точности измерения за счет уменьшения влияния на результат измерения колебаний толшины, плотности или поверхностной плотности материала при малых значениях поверхностной плотности, Поставленная цель достигается тем, что одновременно с регистрацией потока рассеянного вперед излучения регистрируют некоторую долю прямого потока излучения, прошедшего через анализируемый материал.

Для этого между детектором и пробой помешают полупрозрачный экран частично ос! лабляюший прямое излучение, причем коэффициент ослабления выбирают иэ условий равенства нулю производной от суммарного потока излучения, регистрируемого детек5, тором, по величине поверхностной плотности контролируемого материала при ее среднем значении.

На чертеже изображена схема для осушествления способа. т0 По разные стороны от контролируемого слоя 1 материала расположены источйик 2 излучения в зашитном контейнере 3 и детектор 4. Перед детектором на линии источник — детектор установлен полупроэрачт5 ный экран 5. Выход детектора соединен со входом электронного блока 6.

На детектор попадает излучение, рассе; янное в контролируемом слое материала вперед. Кроме того, на детектор попадает

20 часть прямого излучения, прошедшего чере. :. контролируемый слой материала и полупрозрачный экран.

С увеличением поверхностной плотности

, материала ((при значениях pl/((< 1, М где ф - массовый коэффициент ослабления

Составитель E. Кохов

Редактор О. Кузнецова Техред О. Луговая Корректор Н. Ковалева

Заказ 1 13

Подписное

Тираж 1029

UHHHIIH Государственного комитета Совета Министс в СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Гагарина, 101