Электроискровой дефектоскоп

Электроискровой дефектоскоп

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

OfIH Н И Е

ИЗОБРЕТЕН Ия

Союз Советскии

Социалистических

Ресиубиик (i))504145

К АВТОРСКОМУ СВЯДИТВЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-вуМ. 426181 (22) Заявлено12.09.74 (21) 2059031/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет (43) Опубликовано25.02.76. Бюллетень № 7 (45) Дата опубликования описаиия05.04.76 (51) М. Кл.

01 N 27/62

6 01 В 7/06

Государственный комитет

Совета Мннистроа СССР оо делам изобретений и открытий (53) УДК 620.179.14 (088.8) Е. С. Демков, Н. Г. Махийлусь, В. И. Виценко и И. П. Ефременко (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) ЭЛЕКТРОИСКРОВОЙ ДЕФЕКТОСКОП

Изобретение относится к средствам дефектоскопии и размерометрии и может быть испольЗовано для контроля качества и толтпины диэлектрических покрытий на электропроводящих основах. 5, Известный электроискровой дефектоскоп î авт. св. K 426181 содержит высоковольтный трансформатор, шуп, подключенный к обмотке высокого напряжения, бесконтактный пороговый ключ, включенный в цепь об- p, мотки низкого напряжения, и индикатор постоянного тока, включенный в цепь заземленног > вывода обмотки высокого напряжения трансформатора.

Однако известный дефектоскоп не обеспе- l5 чивает контроля толщины диэлектрических слоев на электропроводяших основах одновременно с дефектоскопией.

Целью изобретения является также и контроль толщины диэлектрических слоев на элек-20

1 тропроводящих основах, для чего дефектоскоп снабжен дросселем, включенным параллельно индикатору постоянного тока.

На чертеже дана схема предложенного дефектоскопа. 25

Он содержит источник 1 питания, бесконтактный пороговый ключ 2, йС-двухполюсник 3, обмотку 4 низкого напряжении, тиристор 5, обмотку 6 высокого напряжения, высокочастотный дроссель 7, подвижный шуп 8, соприкасающийся с контролируемым слоем 9 на металлической основе 10, индикатор 11 постоянного тока, диод 12 и шунтирующий конденсатор 13.

При стационарном режиме (дефекты в слое 9 отсутствуют) величина реактивного тока определяется толщиной диэлектрического слоя и по индикатору 11 регистрируют по падению напряжения на дросселе 7 указанную толщину; при нестационарном режилк (наличие дефекта в слое 9) на дросселе 7 возникают импульсные сигналы, амплитуда которых заметно превышает амплитуду напряжения при стационарном: режиме на это.. дросселе, что фиксируют по отклонению стрелки индикатора 1 1.

Таким образом предлагаемый дефектоскоп осуществляет комплексный контроль качества диэлектрических слоев: дефектос.к пню и толщинометрию,