Способ квалиметрии неферромагнитных слоев изделий

Способ квалиметрии неферромагнитных слоев изделий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОГ)ИСАЙИ д ()ар ете н и Я

1ii1 5067>

Союэ Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.12,73 (21) 1976507/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 15.03.76. Бюллетень № 10

Дата опубликования описания 25.05.76 (51) М. Кл, G OIN 27/80

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам иэсбретений и открытий (53) УДК 620.179.14 (088.8) (72) Авторы изобретения

А. Л. Дорофеев, Л. И, Ванина, Ю. Г. Казаманов, С. Н. Садовников, В. В. Корсаков и В. А. Сергеев (71) Заявитель (54) СПОСОБ КВАЛИМЕТРИИ НЕФЕРРОМАГНИТНЫХ СЛОЕВ

ИЗДЕЛ И Й

Изобретение относится к средствам электромагнитного контроля материалов и изделий и может быть использовано для оценки качества их поверхности.

Известен способ квалиметрии неферромагнитных слоев изделий, заключающийся в том, что на слой наносят магниточувствительную жидкость и определяют участки, содержащие эту жидкость, по которым судят о качестве поверхности слоя.

Однако достоверность определения указанных участков известным способом недостаточна, поскольку производится оно визуально.

Для повышения достоверности контроля по предлагаемому способу контролируемые слои подвергают взаимодействию с электромагнитными преобразователями и проводят амплитудно-частотный анализ спектра их сигналов.

Сущность изобретения заключается в том, что на контролируемый слой наносят магниточувствительную жидкость, остатки которой в несплощностях поверхности вносят соответствующие составляющие в сигналы взаимодействующего с контролируемым слоем электромагнитного преобразователя. В качестве последнего может быть использован любой из известных. В результате амплитудно-частот5 ного анализа указанных сигналов выявляют эти составляющие и по их значению при фиксируемых взаимных положениях преобразователя и контролируемого слоя судят о размерах и координатах дефектов на поверхности

10 контролируемого слоя.

Формула изобретения

Способ квалиметрии неферромагнитных слоев изделий, заключающийся в том, что на

15 слой наносят магниточувствительную жидкость и определяют участки, содержащие эту жидкость, по которым судят о качестве поверхности слоя, отлич ающийся тем, что, с целью повьгшения достоверности контроля, 20 контролируемые слои подвергают взаимодействию с электромагнитными преобразователями и проводят амплитудно-частотный анализ спектра их сигналов.