Способ испытания на надежность мощных электронных ламп с наружным анодом

Патент 515076

Авторы

Иллюстрации

Показать все

Реферат

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К. АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (11) I 515О76 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено и 0.07. 72 (21) 1809504/21 с присоединением заявки №вЂ” (51) M K C оп З1/25

Н Ol J 9/42

Государственный комитет

Совета Министров СССР оо делам изооретений н открытий (23) Приоритет о (43) Опубликовано 25. 05. 76.Бюллетень № 1 9 (53} УДК 621.I385 (088, 8) (45) Дата опубликования описания30.09.75

Д. Я. Деревянко, И. И. Долгинцев, A. А. Легкова и Г. М. Московская (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИСПЫТАНИЯ НА НАДЕЖНОСТЬ МОШНЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ,ЛАМП С НАРУЖНЫМ АНОДОМ

Изобретение относится к электровакуумному приборостроению, в частности к способу

,испытания на надежность электровакуумных

;ламп с жидкостным охлаждением анода, Способ можно испольэовать при разработке, серийном производстве электронных ламп, а также при их эксплуатации.

Надежность электронных ламп определя .ется многими факторами, одним из котс рых .вляется однородность электродной (, структуры, Известен способ прогнозирования отка:зов приемно-усилительных ламп, согласно

,,которому определяют параметры лампы в

;процессе ее испытания, в частности изме.ряют нарастание температуры баллона лам1 .пы, и по полученной зависимости темперагуры от времени расчетным путем опреде,.ляют ожидаемый срок службы лампы 1 .

Недостатком этого способа является сложность осуществления и низкая точность полученных результатов.

Наиболее близким техническим решением

I к данному изобретению является способ ucl пытания на надежность мощных электронных

2 ламй с наружным анодом, охлаждаемым жидкостью, который по существу повторяГ" ет работу ламп в реальных условиях 2 .

Согласно этому способу постепенно повышают мощности рассеивания на аноде.

Известный способ не позволяет судить

| об, однородности электродной структуры элект1ронной лампы и требует длительных испы таний. Кроме того, электронные лампы после испытаний нельзя использовать, и следовательно, лампы можно испытывать выб р очно.

Целью изобретения является выявление

I неоднородности электродной структуры элект;ронных ламп с жидкостным охлаждением анод&.

Цель достигается тем, что испытания Р проводят в устройстве испарительного охлаж-! . дения, повышая мощность рассеивания на иоде до момента возникновения кризиса кипе ния, и,сравнивая значение мощности рассеи:вания в моМент воэникновенйя кризиса кипе-, ! ! ния с нормированным значением, производят

DT6p&K овку.

515076

ЦНИИНИ Государственного коиитета Совета Министров ЧССР по дел в и изобретений и открытий аааскаа, II3035, Рауааскаа ааб., 4 аУнииаи ППП "Патент", г. Ужгоуода Уи. ПРоектнаа, 4

Кризис кипа вЂ”:ния можно определить по резкому Возрастанию i обратного сеточного тока.

Кризис кипения можно также определить по видимому свечению BHDAB.

Электронную лампу - генераторный триод с принудительным водяным охлаждением анода-помещают в устройство испарительного охлаждения. Н ормированная критическая мощность рассеивания на аноде этой ламг1ы; при которой кризис кипения возникает равномерно по всей поверхности анода, теоретически рассчитана и составляет 80 квт.

Подают напряжения на электроды; накал, напряжение цмещения на сетку, анодное напряжение,-обеспечивающие мощность рассеивания на аноде 20 квт., т.е. пример= но 25% от нормированной мощности.

Ступенями уменьшая I напряжение смещения на сетке, повышают мсацность рассеивания на аноде на 5-10% от нормированной и выдерживают 1-5 мин на каждой ступени. При этом контролируют стабильность обратного сеточного тока. По резкому возрастанию обратнсого сеточного тока фиксируют, момент возникновения кризиса кипения. Измеряют мощность рассеивания на аноде в этот момент - 46 квт, Снимают напряжения "";-«уектродов. Сравнива- ют значение 46 вЂ”: с нормированной мощ= ностью 80 квт. Их,:.:: ошение составляет

G, 57, т. е, испытаемая электронная лампа обладает существенной неоднородностью электродной структуры и ее отбраковывают.

Если это отношение больше или равно 0,6лампу счите. т огодной, В случае качественной сборки и завар= ки электронной лампы ее электродная ст ук-- тура достаточно однородна, и, следовательно, имеет место равномерное распределение тепловых нагрузок по поверхнос-, I тиу электродсэ и анода. При нарушении соосности электродов илИ децентрации их относительно анода происходит перераспре- 1 деление электронного потока в лампе и, следовательно, неравномерный нагрев ано да. На отдельных участках анода величина теплового потока может превысить крити- . ческую, при которой йроиэойдет(переход: от пузырькового режима кйпения к пленочному, т.е, пузырьки пара сольются и обра- зуют паровую пленку, которая изолирует поверхность анода от охлаждающей жидкос

Заказ 6 94 Изд. И Щ т". . Таким с.= лааои, aTvr участок анода нрактичес с! i:. врастает тохлаждаться, 3TG явление получило название кризис кипения, . оозникающий при локальном перегреве анода кризис кипения можно определить по резкому Возрастанию обратного сеточно- го тока, вызванного газоотдеге-ием с перегретого участка. Зто наиб".:лее чувствительный и безынерционный нйикатор возt

НИКНОВЕУНИЯ КРУаЗИСа КИПЕНИЯ.

Кризис кипения можно также определится либо Визуальи: по видимому свечению перегретого участка анода, либо c: пы.вошью, Предлагаемый способ позволяет Выявить:

Неоднородность электродной структуры злекФ= ронных ламп у проводить их отбраковку на стадии технического контроля готовой про дукции, а также в процессе эксплуатации, причем испытанию могут быть подвергнуты

100% ламп, оТ способ является способом кра гковременних испытаний, .Ф о р м у л а,и з о б р е т е и и я

1. Способ испытания на надежи(ьсту61мощ= ных электронных ламп с наружным анодом, охлаждаемым жидкос;-тью, путем постепенйого повышения мощности рассеивания на

ЯО уаноде,отличающийся тем,что, 4 целью выявления неоднородности электрод ной структуры, испытания проводят в уст ройстве испарительного охлаждения, .повьа шая мощность рассеивания на аноде до мо= мента возникновения кризиса кипения„и срвв нивам значение МОщности ассеивания в

Момент возникновения кризиса кипения снормированным значением, производят . отбрак оВку, 2. Способпоп, 1, отличающий- с я тем, что кризис кипения определяют по резкому:возрастанию обратного сеточно.-в го тока.

Э. Способ по и. 1, о т л и ч а ю щ и В. с я тем, что кризис кипения определяют по видимому свечению анода.

Источники информации, принятые во вни-:

Мание при экспертизе:

1. Авторское свидетельство СССР

#<208778, ЯКл. С. 01Р 31/.24, приоритет

24 декабря 1965 г.

2. A. Е. Иориш Основы технологии пройзводства,. электровакуумных приборсэ, 1961 г., стр. 490.

Тираж 1029 Поднисиое