Способ фотохимического изготовления рамок многопроволочных электродов детекторов элементарных частиц

Способ фотохимического изготовления рамок многопроволочных электродов детекторов элементарных частиц

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

{61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено13,12,74 (21) 2084324/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 05.06.76,Бюллетень ¹ 21 (45) Дата опубликования описания 25.06.77

Государственный номитет

Совета. Министров СССР по делам изобретений и открытий (51) м к

Н 01 S 39/02

Н 01 Х 38/29 (53) УДК 621.38

|,088.8) (72) Авторы изобретения

В. Ю. Глебов и В, И. Полетаев (71) Заявитель (54) СПОСОЬ ФОТОХИМИЧЕСКОГО ИЗГОТОВ 1ЕНИЯ РАМОК

МНОГОПРОВОЛОЧНЫХ ЭЛЕКТРОДОВ ДЕТЕКТОРОВ

ЭЛЕМЕНТАРНЫХ ЧАСТИЦ

Изобретение относится к технологии изготовления многопроволочных электродов детекторов элементарных частиц.

Известны способы изготовления многопроволочных электродов детекторов элементар- 5 ных частиц — искровых и пропорциональных камер - путем фотохимической обработки рамок из фольгированных изоляционных материалов .с изолированными друг от друга металлизированными участками печатного монтажа, (ламелями), намотки à эти рамки тонкой металлической проволоки с заданным шагом между соседними витками, припайки концов проволок к ламелям и отрезки лишней проволоки за пределами паек. 15

Рамки с участками ламелей изготовляют так же, как и печатные платы: вычерчивают оригинал на белом фоне черными линиями, соотьетствуюшими металлизированным участкам печатной платы, с оригинала фотогра- 2р фируют негатив в натуральном масштабе, а с негатива контактным фотохимическим способом переносят рисунок на печатные платы, после чего эти платы наклеивают на рабочую рамку. 25

Недостаток известного способа заключается в том, что в гроцессе изготовления негатива возникает ряд искажений, в том числе из-за различных аберраций проекпионной оптики, деформации материалов оригичала и негатива при изменении температуры и влажности окружающей среды и т.д. Эти искажения составляют 1-3 о и не имеют существенного значения в художественной фотографии или при изготовлении рамок электродов, если при заданном шаге проволок вызывают смещение ламелей более,чем на ширину ламели на всеи длине ламельной части рамки, так как в этом случае часть наматываемых проволочек электрода проходит мимо соответствующих ламелей. Для уменьшения искажений негативов используют недеформируемые материалы, разрабатывают более сложную и совершенную оптику проекционных установок, ужесточают требования к условиям хранения оригиналов и негативов и т,д. Применяют также изготовленные отдельные участки, которые наклеивают на рамки.

517081

Цель изобретения — устранение влияния искажения шага ламелей, возникающих по любым причинам в процессе изготовления рамок электродов.

Сущность изобретения заключается в 5 том, что ламели на оригинале выполняют удлиненными и располагают под постоянным или переменным углом к направлению проволок электрода так, чтобы проекция ламели на перпендикуляр к оси проволоки была tp больше возможных нарушений шага ламелей.

После этого изготавливают негатив и производят корректировку шага ламелей путем укорачивания каждой ламели таким образом, чтобы шаг оставшихся частей ламелей по их 35 концам соответствовал заданному. Корректировку шага ламелей производят путем закрывания лишних. частей ламелей на негативе непрозрачным экраном, а отпечатанные рабочие рамки корректируют, удаляя лишние 20 части ламелей механическим или химическим путем.

На фиг. 1 показано предлагаемое расположение ламелей на оригинале; на фиг. 2— откорректированные ламели с припаянными 25 проволоками.

На рамке 1 электрода расположены металлизированные участки печатного монтажа-ламели 2, к которым пайками 3 присоединены проволоки 4 электрода, причем про- ЗО волоки электрода присоединены с шагом 1, ламели выполнены с шагом 4 на оригинале и с шагом 1 на негативе с учетом ис2 кажений, возникших при его изготовлении.

Если оригинал вычерчивают в увеличенном масштабе, то ь,™, где м — масштабный коэффициент между оригиналом и негативом.

Предположим, что деформации привели к уменьшению шага ламелей (усадка негати1 т.е, -Ь (Корректировка заключается в удалении части ламелей, показанной пунктиром, Для акого удаления измеряют фактический шаг ламелей 4>, после чего непосредственно - åpåä экспонированием рабочей рамки нак..адывают на негатив непрозрачный экран, закрывающий показанную пунктиром часть да мелей.

Очевидно, что если деформации привели к увеличению шага ламелей негатива, т.е.

2 то линия удаления части ламелей по фиг. 2 пройдет слева-вниз- направо. Если искажения приведут к нелинейному закону изменения шага ламелей, то и контур обрезки ламелей окажется криволинейным. Закон этой кривой легко определить, наложив на негатив прозрачный шаблон с параллельными прямыми, соотвествующими шагу проволок электрода. Соединив точки пересечения линий на шаблоне с краями ламелей, получим искомую линию контура корректирующего экрана.

В некоторых случаях, когда одна из проволок является базовой и ее положение относительно посадочных мест рамки должно быть строго определенным, ламели целесообразно распологать веером, причем ламель базовой проволоки разместить в центре веера coocHD с этой проволокой.

Для упрощения фотографических работ в единичном производстве целесообразно печатать рамку электрода с некорректированного негатива, а лишнюю часть ламелей удалять с готовой рамки механическим или химическим путем, Формула изобретения

1. Способ фотохимического изготовления рамок многопроволочных электродов детекторов элементарных частиц, включающий в себя изготовление оригинала в виде масштабного изображения на белом фоне темными линиями металлизированных участков печатного монтажа рамки, в том числе участков для припайки проволок, т.е. ламелей, фотографирования с оригинала негатива в натуральную величину прозрачными линиями на темном фоне и контактногD печатания с негатива рабочих плат, отличающийся тем, что, с целью исключения влияния ошибок от нарушения шага ламелей, ламели на оригинале выполняют удлиненными и распололагают под постоянным или переменным углом (веером) к направлению проволок электрода так, чтобы проекция ламели на перпендикуляр к оси проволоки была больше этих ошибок, после чего изготавливают негатив и производят корректировку шага ламелей путем укорачивания их таким образом, чтобы шаг оставшихся частей ламелей по их концам соответствовал требуемому.

2. Способ по п.1, о т л и ч а ю щ и й— с я тем, что корректировку шага ламелей производят путем закрывания лишных частей ламелей на негативе непрозрачным экраном.

3. Способ по и 1, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что отпечатанные рабочие рамки корректируют, удаляя лишние части ламелей механическим или химическим путем.

517081

Составитель А. Шадрин

Редактор Т. Орловская Техред М <е>НН«> Корректор А. Власенко

Заказ 952/166 Тираж 977 Подписное

БНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4