Интерференционный спектрометр

Интерференционный спектрометр

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

(и 525857 и Н С _#_:,."=.,! -, Е (M Ъ, Е Ъ . P В P. Я 4

iN ДИОР "NQfA_#_ ; Й- - ЕЕ! Е ---"Ъ ::Р> е (61) Дополееительееое и авт. Свеед-ву

i ! (22) Заявлено = :;2. 10.74 (r 1 06:.;-:603/25

i.

r с привесе-:деенениам йявкее, 1

1 (лд) Нре10рнтет (Я) м, кл.

lC: О .е 3/i8// фГ 01 В 9/02

ГОСПОДЬ СЕНИ:. ЫЧ К",МИТ6Т г*- 8 1. Е 1„.--;;:I ф

50 Дил и и 0 Г "Р": Й и Qr -rpwITI .) E

Е г (4,ý 1 ОИ1, б пи ковано 2" ::.*ь,. . 5 i! кд ;;-,, 1(г (:1Ь ) Дата ои".б..ико -.-.И ::.. (,ЬБ) УДК

5 3 5.8 (088.8) Ь 1, Л хец: .в 4 (72) ЛВТОРЫ нзобретееее; я (7 1) Заявитель

Ц, -,,,-р спектрадьнв.:;.;;-Оиборам с: —.— р. . -::.; —::.--;;.:..с. ной селективной аме пи!=„,е-..o ; :.!О ., Hи.

I H предн узна:roiеQ для Океr -,l lрации -, .;- «p:-.:„

,В ВЕЕдИМОй И ИифпапраСНО.,"Е Обл эС гя-:-;-:цех:: а.

Известны спектрометры содержа цце, : MocKyro дифцакционег.ю Ое;,..:="; ку .— е . пи:епь и два плосl Н, зеркала, =-кап. ров.":.--.

I HH8 В rLOTOPalX ОСУШЕСТВПЯЕтеан Р ЗВСРОЪ",: ! ОДНОГО ИПИ ОДНОВРЕМЕНПО ДВУХ ЗЕРКап Л. I. rr» - аибопее близкимH K пседпае армс су л ,пяются Hope лрукции итерфере1щис--;-D. трОметрОвр содерж&1цл = пло;;":.io д.:, . а: ".il. ( онееуео решетку светодепитепь с cr;:, :.;е-.с-,;— грофипем llrTpHKi r u rilrH плоски. - з, еб капа Одно из которых разделено ". .а, :.е части и явп . ется мО,. J i:.,» .pзое .:, и Е;=""О . О

1 разную диашраглг7 вход-» il выход:..-. 2 (.: —..)В известном спек=рометре скав::р - а:..;;:

Осуществляется за C rà т возвратно=rrcc гула- 9О

1 тельного цв жеНИ Д О„а :.. ., ОЕ:::О:.:: ООЦ.Е rl: и одновременного разворота зерна-, с по, МОЕЦЬЕО КУПачКОВ СЛОЖНОГО ПРОфц:ЕЕ.;Вак"Е --= пенных на каретке с дифракциоцнОЙ рещетКО А» ар

ыв -тс-и ролики - кото .:,:;:ц.;. каретки передают ры ги, разворачивающие,,зер1

" «.с Е - О,а ; .rc3KOLI : Ей уЕ ОЕЕ» (ТСутСТВИЕ СИС -.н жив =-., . работой оеетической схе .п.е и спо;,-,; ессть вогнутого профили кулачка у .О : т, е снижают;+Вствй

-,=-е :;--:Осте- 1:-астройки Оцтееческой схемы и

: ено-: ь :;-,.;;".:.: Системы сканировании.

Lепь взобретс :.HH =- повысееть чувстВитель

- .:.—.. .;-К .1КИ ОИТЕЕЧЕСКОИ СХЕМЫ.

Е::.r;: =--,or:o в; —:.." -;,- =...;T"íoì интерференцион=:.;:; ..: —.. е-; ðo--: па иииц между осями .:;Овсро",:а;:,;:ркап, с :.::1ого перпендиг"пярно к ! ,Г

I ! ппв Е,ocт:.l lr;rl pmг пео енот решетки установ пены .дополнительное зеркало," и кулачок снаб Ф и. " - - р: . --TD:2ã.0 е:.- ремещення допОлни - Ольное зеркало может быть выполнено дву :.. ОрОчким пол".прозрачным.

На . ертеже показана схема предлагаемого ,« пекТро sic, .! 4

r". 11THчес:..ая часть спектрометра построена пО схо: =. ре гопьиика с обратно-круговы.„. ходo;,: -.-;-чзи. е .а содержит дифракцион;::-:.„ю,аев:етку -- св тодепитепь 1, плоские зерО25&57 кала 2 и 3, крестообрвзцую диафрвгму 4 вхо-,! да-выхода, блок фоторегистрации 5 и карет- ку 6. На каретке 6 уствт. явлены решетка 1,, кулачок клиновидного профиля, выполненный из двух симметричных деталей 7 и 8, и ро- 5 пики 9 и 10, соединенные рычвгвми 11 и

12 соответственно с зерквлвми 2 и 3. Пере-!

Ф мещение каретки 6 Осуществляется по направляющим 13 с помощью привода 14.

Нв этой же каретке, перпендикулярно к !0

ПЛОСКОСТИ ДнфРВКЦЧОННОЙ РЕШЕТКИ, Н& ПИ нии между Осями вращения зеркал 2 и 3, расположено дополнительное пиоское эерквло 15, которое может быть выполнено квк с двусторонним,! так и с попупрозрвч- 15 ,1

НЫМ ПОКРЫТИЕМ

Рвдивция от источника 16, пройдя объек-, тив 17, падает пв -зеркальную диафрагму 4,, c Tosutyla В фо усе Объективв 1 Я дифрвгирует!

Ъ н д!- ф- .";.:::.::..,:.:-:.:тке - 1асть иэлуче- 26 ! пия аде-. >ч -" р11а11О 2, а другая часть нв

ЗЕРКа;1О

Отрвже1!П.зе От эерквда 3 излучение идет

hG зсрквпо 2р в звтем нв дпфрвклионнуто решетку 1. Т-.=. чвсть излучения, которая М ив!тря влп . т<.:я О 1 ди!урвкц1101шои pBIIIBткн HH эерка1:I ",;:;I:.i н Обратном направлении: к зеры пу ., H также IIQ дифрвкционную ре- щетку 1. Луч!!, прошедшие через оптическую схему интерф&рОметрв lpH встрече нв диф рвкцио11r ñ р1 решетке 1 i|нтерферируют и пройдя:iñ .:B:I .: арка.п-.ну1о диафрагму 4, попвдвтот нв Uj i" 1 GIIpiiBi;QIIIK 1 9 Основной сис» темы бпо11 I фоторегистрвции 5.

При исп;;-1ьэоввпип дополнительного зерквлв 1 э с двус1 Оришим покрьетием ОнО ! вводится в ход лучей так, что перекрывает лишь часть пучка. Тогда одна часть излу-, чения проход11т через прибор по обратнокруговой схеме (как описано), а другая 40 часть излучения, отраженная.от зеркал 2, и 3, падает на зеркало 15 по нормали с двух сторон. Отразившись, эти лучи воз- врвщвются нв зеркала 2 и 3 и идут обратно нв дифракционную решетку 1, затем через диафрагму 4 попадвют на полупрозрачное зеркало 20, которое направляет это излучение на фотоприемник 21 контрольной системы.

В случае, выполнения допопнитепьного зеркала 15 полупрозрачным оно уствнввпива ется твк, что можетперекрывать весь пучок лучей полностью. В этом случае, часть из-! пучения проходит через зеркало 15 по об-

1 55 ратно-круговой схеме и попадает нв прием- ник 19 основной системы, а другая часть изпучения, отраженная от зерквлв 15, прой-, дя через оптическую схему интерферометрв, попадает нв приемник 21 контрольной сис- темы.

В обоих случаях сигнвлы контрольной и основной систем сравниваются.

При регистрвции в ИК-области спектра по основной системе, контрольная система может регистрироввть спектр квпибровочного источникв и выдавать метки длин волны для основной системы.

В случае наличия ошибок в угле между,. нормвлями к эер. щвм 2, 3 и рвчагвми 11, 12 пучки лучей попадают на зеркало 15 не по нормвли, а отразившись От него, попвдают нв зеркале 2, 3 и на дифракционную решетку 1 под углом, равным учетверенной

I ошибке. Так квк угол падения на дифрвкци- онную решетку меняется, то сигнал, полуI ченный От контрольной системы в этом слу чае, Отличяется - от сигнале лри правильной настройке.

Ошибка устраняется путем поворота эерквл 2 и 3 относительно рычагов 11 и 12.

В процессе сканирования зеркало 15, закрепленное нв каретке 6, перемешается стро-, l го перпендикулярно к плоскости дифрвкционной решетки 1 и параллельно линии сим- метрии кулачка.

Формула изобретения

1. Интерференционный спектрометр, содержащий плоскую дифрвкционную решеткусветоделитепь, двв плоских зеркала, снабженных средствами поворота, одно иэ кото-, рых рвздепено пополам, и крестообразную диафрагму входа и выхода, о т и и ч в юш и и с я, тем, что, с цепью повь1шения чувствитепьности настройки оптической схе-, ! мы, на линии между осями поворота зеркал, строго. перпендикулярно, к плоскости д фрак- ционной решетки установлены дополнительное зеркало и кулачок, снабженные средствами перемещения.

2. Спектрометр по и. 1, о т и и ч аю ш и и с я тем, что дополнительно зеркало выполнено двусторонним.

3. Спектрометр по и. 1, о т и и ч аю шийся тем, что дополнительное зеркало выполнено полупрозрачным.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Физические проблемы спектроскопии.

Т. 2, N., Иэд, AH СССР, 1963, с. 66.

2. Киселев Б. А. и др. Новые приборы интерференционной спектроскопии, Труды

ГОИ. Т. 34, вып. 163, 1966, с. 3-16.

525887

Составитель А. Медведев

Редактор О, Стенина Техред H. Ковач Корректор Н, Бабурка

Заказ 5140/480 Тираж 814 . Подписное

UHHHfIH Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

1 1 303 5, Москва, Ж-3 5, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4