Испытательный образец для вихретоковой дефектоскопии

Испытательный образец для вихретоковой дефектоскопии

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Сьюз Советских

Сьцналистннеских

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТИРЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свнд-ву— (>I) 527652 (22) Заявленб 03.06.74(21) 2030899/28 (о!) М. Кл.

@01 и 27/82 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (43) Опубликовант105.09.76.БюллетЕнь № 33

Государстеенный комитет

Совета Миннотроа СССР по делам изобретений и открытий

РЗ) УД1 620.179.14. (088.8) (46) Дата опубликования описания08.07.77

В, С. Никульшин и Л. И. Трахтенберг (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) ИСПЫТАТЕЛЪНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ

ВИХРЕТОКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при дефектоскопии материалов и иэделий вихретоковым методом. б

Известны испытательные образцы для настройки вихретоковых дефектоскопов, содержащие бездефектное электропроводящее изделие (или его имитатор), в котором выполнен искусственный дефект в виде углубления заданных размеров и формы в теле изделия 13, $2), t3j.

Известные образцы сложны в изготовлении и имеют плохую воспроизводимость, поо-та кольку трудно выполнить в теле изделия углубления заданных малых размеров и формы. Особенно сложньг в изготовлении образцы из твердых и хрупких материалов, например карбидов, поскольку для их из- щ готовления требуется специальное оборудование. Кроме того, в зоне, в которой изготавливается углубление в теле изделия, изменяются физико-механические свойства материала изделия. Аналог (3) является 25 ближайшим по техническому существу к данному изобретению.

Упрощение технологии изготовления испытательного образца достигается тем, что он снабжен имитатором дефекта, выполненным в виде твердого тела из электропроводящего и/или магнитного материала и м ханически соединенным с поверхностью имитатора бездегоектного изделия.

На фнг. 1 показан предлагаемый испытательный образец для дефектоскопа с проходным первичным преобразователем; на фиг. 2 - разрез по А-А на фиг. 1.

Испытательный образец состоит из имитатора 1 бездефектного, изделия и имитатора

2 дефекта. Механическое соединение ими татора 2 дефекта с имитатором 1 бездефектного изделия может осуществляться различным способом: с помощью клея, диффузионной сварки и др. Имитатор дефекта может быть выполнен в виде твердого тела из различных материалов, взаимодействующих с электромагнитным полем: меди, латуни, феррита и др.

А-Л

Фиг. 2

Составитель И. Кесоян

Редактор И, Бродская Техред С. Беца Корректор Л, Веселовская

Заказ 864/49 Тираж 1029 Подписное

ПНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент", r, Ужгород, ул. Проектная, 4

Изготавливают предлагаемый испытатель ный образец следующим способом.

Выбирают материал, форму и размеры имитатора дефекта, прикрепляют его к поверхности бездефектного электропроводя« щего издекия (или ымитатора) и снимают изменение выходного напряжения преобразо-, вателя дефектоскопа при .прохождении через него испытательного образца. После этого, изменяя материал, размеры и форму имитатора дефекта, добиваются того, чтобы изменение выходного налряжения преобра зователя дефектоскопа было бы идентичным при прохождении через него предлагаемого испытательного образца и образца с дефекroM в виде углубления в теле изделия. Затем уточняют размеры имитатора дефекта, выполненного в виде твердого тела, и изготавливают всю партию испытательных образцов, при этом легко достигается идентичность всей партии.

Преимушеством предлагаемого испытатель ного образца является простота изготовле.ния хорошая воспроизводимость и повышенная р механическая стойкость, особенно по срав4 нению с образцами, изготовленными из твер дых и хрупких материалов, например карбидов.

Формула изобретения

Испытательный образец для вихретоковой дефектоскопии, содержаший имитатор изделия из электропроводяшего материала, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что, с целью упрощения технологии изготовления, он снабжен имитатором дефекта, выполненным в виде твердого тела из электропроводяшего и/или магнитного материала и механически соединенным с поверхностью имитатора бездефектного изделия.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Дефектоскопия, 1969, ¹ 3,103.

2. Дефектоскопия, 1974, ¹ 1,120.

3. Электромагнитные методы неразрушаюшего контроля . Под ред. Дорофеева А.Л., Минск, Наука и техника, 1971, стр. 196.