Способ фотографического спектрального анализа
Иллюстрации
Показать всеРеферат
О П И С А Н И Е (!!)ывз79
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ)/ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено09.10.74 (21) 2066096/25 с присоединением заявки Л (23) Приоритет (51) М, Кл."G 01 J 3/40
Государственный комитет
Соввтв Министров СССР по делам изобрвтений и открытий (43) Опубликовано25.09.76.Бюллетень М 25 (53) $ ÄK 585.88 (088.8 ) (45) Дата опубликования описания 24.11.76
Ю. A. Пальчиков, В. И, Волков, Г. К, Погорелов, Б, А, Нудельштейн и К, И. Малашина (?2) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) СПОСОБ ФОТОГРАФИЧЕСКОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА
Изобретение относится к аналитическим методам контроля производства и может быть использовано в лабораториях, применяющих фотографический спектральный анализ. 5
Известны способы фотографического спектрального анализа, заключающиеся в фотографировании на пластину спектра анализируемой пробы и эталонов и фотометрировании аналитических линий 17, 10
Однако такие способы не позволяют добиться высокой точности спектрального анализа.
Наиболее близким к прототипу является способ фотографического спектрального ана- 15 лиза, заключающийся в фотографировании на пластинку нескольких спектров анализируемой пробы и эталонов и фотометрировании аналитических линий спектров с последующим усреднением полученных результатов(2),20
Трудоемкость такого способа связана с необходимостью фотометрирования каждой линии в отдельности и вычисления среднего результата.
Бель изобретения состоит в уменьшении 25. трудоемкости фотографического спектрального анализа.
Это достигается тем, что фотографирование спектров анализируемой пробы и эталонов осуществляют группами, в которых линии одинаковой длины волны находятся строго одна под другой, а усреднение результатов производят путем одновременного фотометрирования групп аналитических линий одной длины волны, Такое фотографирование спектральных линий группами, в которых линии одной длины волны расположены строго одна под другой, можно осуществить путем открывания различных участков входной щели спектрографа при каждой экспозиции. Затем соответствующие группы линий фотометрируют на микрофотометре, так что в его входную щель попадает изображение всей группы, При этом результат фотометрирования автоматически усредняется по всей группе. Промежутки между изображениями линий одной группы на входной щели микрофотометра перекрываются с помощью соответствующей диафрагмы. С увеличением количества одновре3
52937 менно определяемых элементов в пробе выигрыш в трудоемкости предлагаемого способа будет еще больше.
Формула изобретения б
Способ фотографического спектрального анали. эа, заключающийся в фотографировании на пластинку нескольких спектров анализируемой пробы и эталонов и фотометрировании аналитических линий спектров с последующим усреднением полученных результатов, отличающийся тем,что, с целью уменьшения трудоемкости анализа, фотографирование спектров анализируемой пробы и эталона осуществляют группами, в которых линии одинаковой длины волны находятся строго одна под другой, а усреднение результатов производят путем одновременного фотометрирования групп аналитических линий одной длины волны, Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:
1..Кустанович И. М,, Спектральный ан лиз, М., Высшая школа, 1962г„с,236, 2, Зайдель А. Н., Основы спектрального анализа, М„Наука, 1965 г., c,151-152 (прототип).
Составитель М, Кротов
Редактор Л. Народная Техред А, Демьянова Корректор Б. Югас
Заказ 5 35 3/85 Тираж 814 П одписное
11НИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„д. 4/5
Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4