Испытательный образец для вихретокового дефектоскопа с дифференциальным первичным преобразователем

Испытательный образец для вихретокового дефектоскопа с дифференциальным первичным преобразователем

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

асцсаючнАя

«ATKHT,;: UvAR

О П И С""A Я И Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ (11) 530239 (61} Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 03.06,74 (21) 2030889/28 (51) М. Кл, с присоединением заявки №

G 01 N 27/82

Гиударств иаый яит т

60ната 44им тр05 бьат по дгяам кищитивнЙ я 0":кpéiiíì (23) Приоритет (43) Опубликовачо30.09,76,Бюллетень № 36 ! (45} Дата опубликования описания 01.02.77 (53) УДК 620.179.14 (088.8) (72) Авторы изобретения

В, С. Никульшин и Л. И. Трахтенберг (71} Заявитель

54) ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ВИХРЕТОКОВОГО ДЕФЕКТОСКОПА

С ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫМ ПЕРВИЧНЫМ ПРЕОЬРАЗОЫАТЕЛЕМ

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано при дефектоскопии материалов и изделий вихретэковым методом.

Известны испытательные образцы для на- 5 стройки вихретэковых дефектоскопов, содержа:цие бездефектя эе эпектрэпрэв эдящее изделие f,èëè егэ имитатор), в котором выпэпнен искусственный дефект в виде углубления заданных размеров и формы в тепе изделия.

Известные образцы слэжяы в изготовлении и имеют плохую воспроизвэдимэсть, поскольку труднэ выпэлнить в тепе изделия углубление заданных малых размеров и фэр- д мы.

Известен также образец, состоящий из эпектрэпрэводяшего основания и механически сэединеняэгэ с ним HMHTBTopG дефекта, выполненного ввиде твепдого тела из элек- 20 тропрэвэдяшегэ и/или магнитного материала.

Этот образец также сложен в изготовлении, тьэскольку предъявляются высокие требэ вания к gJ "Ð1 ян тву чдельн эи влек тр ической проводим эсти, размерам и форме- основания 25 и к отсутствию в нем естественных дефектов (раковин, тре iBH,,ïýý, включений).

Последний аналог является ближайшим по техническому существу к данному изэбретению, Упрошение технэпэгии изготовления испытательного образца дпя дефектоскэяа с дифференциальным первичным преобразователем достигается тем, чтэ основание выполнено из яемагяитяэгэ диэлектрика.

На чертеже показана конструкция испы-,àòîïüíîãî образца дл; дефектэскэпа с проходным дифференциальным первичным преэбра з эв а тепе м.

Испыта — =льный образец содержит основание, выполненное из стержней 1 и 2, имеюших между собой резьбовэе соединение, и имитатор 3 дефекта, расположенный между стержнями. Основание выполнено из механически прэчнэгэ немагнитногэ диэлектрика, например текстолита. Форма и размеры основания выбираются такими, чтобы эсуи ествлялось сканирование по его поверхности первичным преобразователем дефектьскопа. Имитатор дефекта может быть вы530239 электрика.

Составитель И. Кесоян

Редактор О. Юркова Техред A. Ь™ьянова Корректор С, Бс пдижар

Заказ 5219/648 Тираж 1029 Подписное

11НИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раущская наб., p,. 4/5

Филиал ППП Патент"„г. Ужгород, ул. Проектная, 4 полнея в виде твердого тела из различных материалов, взаимодействующих с электромагнитным полем: меди, латуни, феррнта и др. Механическое соединение имитатора 3 дефекта с основанием может осуществляться различным образом: с помощью клея, резьбового соединения и r.д.

Изготавливают предлагаемый испытательный образец следующим образом.

Из механически прочноГО немЯГнитнэго диэлектрика изготавливают основание, свoбодно проходящее через проходное отверстие первичного преобразователя„Зятем Выбира— ют материал, форму и размеры имитатора г> дефекта, прикрепляют его к основанию и снимают изменение выходного напряжения преобразэвателя дефектоскэпа при прохождении через него испытательногэ образца. После этого, изменяя материал, размеры и форму у имитатора дефекта, добиваются того, чтобы изменение выходнэго напряжения преэбрязователя дефектоскопа было бы идентичным при прохождении через него предлагаемого испытательного образца и образца с дефек- 25 Ъ оу В Випе углубления В теле изделыя. йаI тем уточняют размеры имитатора дею".ектя, Быполненногo В Виде ТВердОГО теляр и изго» тявливают всю партию испь1тятельных эораз .ОВ при этом леГКО дэстиГяется ндентнчнэсть Всей партии,.

Поедлагаемый испытательный образец прост в изгэтовлении, имеет хорощу=.о воспэоизводимэсть н повышенную механическую

I стойкость, особенно по сравнение с образцами, изготовленными из твердых и хрупких материалов, например карбидов.

Ф"-,ð".мула изобретения

Испытательный образец для внхретоковэГо дефектоскэпа с дифференциальным первичным п.еобразователем содержащий основание и соединенный с ним имитатор дефекта, Выполненный в виде твердого тела из электоопооводящего и/или магнитного материаJ ла, orëè÷àJoøèéñ÷ тем,чтэ, с целью упрощения технологии изготовления, хновяние Выпслнено из немагннтногo ди