Интерферометр
Иллюстрации
Показать всеРеферат
и® - аида »
° аа
° Фаа баее т рд щ
ОП ИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВЯДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик (») 532755 (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено03.01 74 (21) 1983919/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет(43) Опубликовано25,10.76.Бюллетень №39 (45) Дата опубликования описания 22.02.77 (51) И. К .
G 01 B 9/02
Государственный комитет
Совета Министров СССР по делам изооретений и открытий (53) УДК 535,854 (088,8) (72) Авторы изобретения Il. H. Белевцева, Е, А. Королев, Ю, Д. Пушкин и Н. В. Кириллова (71) Заявитель (54) ИНТЕРФЕРОМЕТР
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для определения оптических неоднородностей синтетических кристаллов, например рубина, 5
Известен интерферометр Майкельсона, содержащий источник монохроматического излучения, входную диафрагму, коллиматор, светоделитель, два плоских зеркала, компенсатор разности хода; приемный объектив 10 и фотокамеру (11. Такие интерферометры широко используются для исследования неоднородностей прозрачных сред, Известен также интерферометр типа Майкельсона, содержаший те же самые основ- 15 ные элементы для контроля оптической неоднородности синтетических кристаллов (2 $.
В рабочую ветвь интерферометра вводится исследуемый образец и в монохроматическом свете фотографируется интегральная интерфе- 20 ренционная картина фронта волны, искаженного неоднородностями образца. Полученная таким образом интерферограмма требует обработки, т,е, определения графически и с помощью расчетов поддающихся коррекции сос тавляюших общей неоднородности, в частности сферической и клиновой, которые обусловлены существующей технологией получения синтетических кристаллов.
Однако этот интерферометр дает низкую точность определения величин составляющих неоднородности из-за трудности расшифров ки интерферограмм, содержащих большое число интерференционных полос сложной формы, что приводит к необоснованно малому выходу годных кристаллов, Цель изобретения — раздельное определение и повышение точности измерения сферической и клиновой составляющих оптической неоднородности образпа в широких пределах и повышение производительности интерферометра, line этого в рабочей ветви интерферометра перед образцом установлена система переменной оптической силы, выполненная из двух линз — положительной и отрицательной, снабженная средствами для продольного перемещения одной линзы относительно другой и поперечных перемещений всей системы, 532755
Составитель Н. Решетников
Редактор Н. Козлова Техред М. Левипкая КорректорС. Яолдижар
Заказ 5646/192 Тираж 864 Подписное
0НИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4