Устройство для контроля центрировки оптических систем

Устройство для контроля центрировки оптических систем

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советских

Социалистических

Республик (11) 540134 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 27..10 75 (21) 2183987/10 (51) M. Кл.

601 В 11/26

G 0l М l l/00 с присоединением заявки №вЂ”

Государственный квинтет

Соната Министров СССР но делаи изооретеннй и отира тнй (23) Приоритет (43) Опубликовано 25 12.76. Бюллетень №47 (45) Дата опубликования описания 27.07.77

Ю. A. Степин, Е. А. Васильев и М. Г. Ицелев (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦЕНТРИРОВКИ

ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ

Поставленная . цель достигается тем, что устройство снабжено установленными за объективом, перекрывающим половину его поля зрения наклонным зеркалом и центрированной относительно оси объектива опорой со сменными отражателями, разность кривизны которых равна расстояниям между автоколлимационными точками контролируемой оптической системы, На фиг.1 представлена принципиальная схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 — поле зрения.

Сменный отражатель 1 (набор пробных стекол, количество которых, например, 12 штук) базируется на оноре 2, закрепленной на корпусе автоколлимационной трубки 3, состоящей из осветителя 4 с наблюдательным устройством 5 (микроскопом) и объектива 6, установленного с воэможностью перемещения вдоль оси. За объективом 6 установлено наклонное зеркало 7, пеперекрывающее половину поля зрения объектива 6 и изменяющего направление оси автоколлимационной трубки 3, относительно которой отцентрирована опора 2. Разности радиусов кривизны сменных отражателей равны расстояниям между автоколлнмационными точками контролируемого объектива 8. Положение автоколлимационных

Изобретение относится к оптико-механической промышленности и может быть использовано в приборостроении при сборке и контроле объективов и других систем, требующих центрированного расположения оптических поверхностей, Известны устройства для центрировки и контроля центрировки оптических деталей ло отношению друг к другу (2!.

Недостатком известных устройств является необходимость вращения контролируемого изделия !о вокруг оси автоколлимационного устройства.

Иэ известных автоколлимационных устройств для контроля центрировки оптических поверхностей наиболее близким к предлагаемому устройству по технической сущности является трубка у

Забелина, содержащая осветитель с наблюдатель-. ным устройством и фокусирующий объектив (1) ..

К недостаткам этого устройства относится большие погрешности, обусловленные ошибками в движении объектива при лерефокусировке с одной оптической поверхности на другую.

Цель изобретения — повышение точности контроля центрировки поверхностей неподвижных оптических деталей. 26 (53) УДК 535 885.5(088.8) 540134

3 точек обозначено знаком и индексами, а положение центров кривизны отражателей 1 знаком х и индексами А..., а положение центров кривизны отражателей 1 — знаком" " и индексами О,,, Контролируемый объектив 8 и автоколлимационнЫя трубка 3 установлены отноеительно-друг друга так, что центры кривизны двух отражателей 1 совпадают с автоколлимационными точками А и А

1 Z объектива 8, Все отражатели опираются на одну и ту же опору 2, благодаря чему их центры кривизны расположены на одной прямой. Поэтому несовпадение автоколлимационных точек А,-А, с центрами кривизны соответствующих отражателей свидетельствует о наличии децентрировки .соответствующих поверхностей контролируемого объектива относительно оси, проходящей точки А и Аэ, на которой расположены центры кривизны всех отражателей.

Контроль центрировки поверхностей объектива 8 производят следующим образом. Сохраняя неизменной взаимную ориентировку объектива 8 и корпуса автоколлнмационной трубки 3, перемещают вдоль оси объектив 6 до получения в поле зрения наблюдательного устройства 5 резкого изображения А 1 марки от контролируемой поверхности N объектива 8 и изображения д той же марки от отражателя N. Децентрировка контролируемой поверхности N объектива 8 определяется из выражения где а — цена деления сетки 9 наблюдательного устройства 5 для данного положения объектива 6;

P — увеличение части оптики объектива 8, расположенной между объективом 6 и контролируемой поверхностью N; у — коэффициент, учитывающий влияние децентрнровки оптических поверхностей объектива 8, расположенных между..объективом 6 и контройируеМой поверхностью Й;

Аналогичные операции выполняют при контроле всех последующих поверхностей объектива 8.

Форму ла изобретения

Устройство для контроля центрировки оптических систем, содержащее осветитель с наблю- дательным усдройством и фокусирутощий объектив, о т л и ч а ю щ е е с я тем, чтд, «с фпью пЬвышения точности контроля центриро вки поверхностей. неподвижных оптических деталей, оно снабжено установленными за объективом, перекрывающим половину его поля зрения наклонным зеркалом и центрированной относительно оси объектива опорой со сменными отражателями, разность радиусов кривизны которых равна расстояниям между автоколлимационными точками контролируемой оптической системы.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Елоников Н.Т. и др. "Сборка и юстировка ийко-мемнических приборов". М.:," Машиностроение, 1974 стр. 111-114 (прототип).

2. Бардин А.Н. "Сборка и юстировка оптических приборов", М., "Высшая школа", 1968, стр. 61-67.

540134 г

I и

Редактор Т. Иванова

Корректор Н. Золотовская

Заказ 6338/113 Тираж 844 . Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

\и

Ф I

Составитель 8. Яншин

Техред И, Асталош

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4