Устройство для измерения искажений в ядерных фотоэмульсиях
Иллюстрации
Реферат
Союз Советских
Соцмалмстммеских
Реслублик
ОП ИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕН Ия
К АВТОРСКОМУ СВИДПЕЛЬСТВУ (11) 542 1 57 (6i) Дополнительное к авт. свил-ву
Я (51) М. Кл.
Q 01 Т 5/02
Я 01 В 11/02 (22) Заявлено 07. 10.75(21) 2178440/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет
Государственный комитет
Совета Министров СССР оо делам иэооретений н открытий (43) Опубликовано 25.06.78.Бюллетень № 23 (45) Дата опубликования описания 22.05.78 (53) УДК 539. 1.073 (088.8) (72) Автор: изобретения
В. И. Баранов (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ИСКАЖЕНИЙ
В ЯДЕРНЫХ ФОТОЭМУЛЬСИЯХ
Изобретение относится к экспериментальной ядерной физике, а именно к методам регистрации заряженных частиц с помощью специальных фотографических материалов (толстослойных ядерных фотоэмульсий), и может быть использовано при анализе траекторий движения заряженных частиц для введения необходимых поправок иа искажения геомечрической формы сле дов частиц в эмульсии.
Известные устройства для оценки искажений в ядерных фотоэмульсиях основывают» ся на определении стеееени искривления от . дельецах прямолинейных следов заряженных частиц в эмульсии, взятых в качестве тестовых Я Для этих целей обычно используют следы частиц от специального тестового облучения, перпендикулярногоплоскости эмулн:ии. Так,измерение кривизны тестовых следов проводится под микроскопом, что снижает скоросгь измерений„по этой же причине обычно затруднительно получение информации о характере распределеееия искажений по полю плас гннки, 2
Известен способ оценки уровня искажений в амульсионных слоях, облученных пер пендикулярно плоскости слоя тестовым пучком заряженных часгиц12 (, в значитель ной мере свободный от недостатков микроскопных методов. Устройство для измерений по атому способу содержит источник света, ось которого направлена под углом к измеряемой пластинке, и регистрирующий прибор, расположенный за пластинкой. Уро вень искажений определяют путем измерения кривизны тестовых следов заряженных частиц нэ наблюдения дюфракционного рассеяния света, падающего под несколькими углами к измеряемой пластинке. При атом пластинку поворачивают, наблюдая дифрак» циониый эффект через определенные угловые интервалы поворота пластинки. Однако отмечается необходимость последовательных измерений для получения полной информации о распределении искажений по полю и изменение формы изображения дифракционной .картины при наблюдении ее по эффекту рас» сеяния s пластинке, вращающейся на. различные углы, Это приводит к необходимо542157
25 счи трансформирования отдельных изображений дифракционной картины в индивидуаль ном порядке.
Цель изобретения — ускорение измерений искажений растровыми методами. Для этого устройство содержит несколько цветных источников света, расположенных в плоскости, совпадающей с плоскостью ре» гистрации, под различными углами к пластинке. 10
На фиг. 1 показана схема расположения основных элементов устройства для измерения искажений.
Устройство включает исследуемую пластинку 1 с растром в эмульсионном слое, источники 2 света, расположенные в вертикальной плоскости наблюдения с угловым интервалом 6 между собой, наблюдатель
3 (или фиксирующий прибор, фотоаппарат), цветные сфетофильтры 4, причем угол по- 20 ворота пластинки до момента возникновения эффекта в одной из зон эмульсии обозначен- /Ь, а угол наблюдения - c6
На фиг. 2 показано положение пластинки 1 при ее повороте на угол /Ь
Изучаемую пластинку с растром различной степени регулярности по полю устанавливают в одно из положений, обеспечивающих возникновение дифракционного эффекта, наблюдаемого визуально, и закрепляют неподвижно. Возникновение дифракционных эффектов для участков эмульсии с иными yr ловыми характеристиками теста обеспечивается изменением угла наклона источника света соответственно. Группа источников
2 света, расположенных в, вертикальной плоскости наблюдения с заданным угловым интервалом б, одновременно обеспечивает возникновение визуального эффекта во всех участках эмульсии соответственно уг40 ловому положению источника света. Для выделения дифференционных эффектов, соответствующих дискретным значениям угла кривизны теста, служат цветные светофильтры
4. Лостаточно ограничиться всего тремя ис 45 точниками света с тремя цветными фильтрами: красный, синий и зеленый, что позволяет оценить также и промежуточные значения угла кривизны по результату аддитивного сло50 жения красок.
Замена поворота пластинки 1 на угол/ 1, как показано на фиг. 2, перемещением исI точника света 2 в положение 2, дает возможность наблюдать дифракционные эффекты рассеяния света одновременно для участка эмульсии с кривизной тестовых следов $ и, Угол между источниками света 8 равен сумме углов поворота пластинки jb1 и P .
Внедрение предложенного устройства возможно, в частности, при облучениях эмульсионных камер в импульсных магнитных полях, где требуются данные î распределении искажений по полю, которые используются для коррекции основных измерительных данных, выполненных под микроскопом, Устройство может быть использовано для оптимального выбора участков для микроскопных измерений в обычных лабораторных условиях, так как нижний уровень появления дифракционного эффекта невысок и соответствует общему уровню облучений для экспериментальных работ. Устройство значительно ускоряет процедуру измерений искажений по полю (по сравнению с растровым прототипом) не менее, чем в 1020 раз, получают документальные данные о распределении и уровне дистормий по пластинке.
Проведенная экспериментальная проверка устройства при измерении ложного рас"еяния протонов с энергией 70 ГэВ, подтверждает ожидаемый положительный эффект.
Формула изобретения
Устройство для измерения искажений в ядерных фотоэмульсиях путем измерения кривизны тестовых следов заряженных час» тиц, содержащее источник света, ось которого направлена под углом к измеряемой пластинке, и регистрирующий прибор, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью ускорения измерений, устройство содержит несколько цветных источников света, оси которых расположены в плоскости, совпадающей с плоскостью регистрации, под различными углами к пластинке.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:
1, Пауэлл С. и др. Исследование элементарных частиц фотографическим методом. Изд-во, "ИЛ", М., 1962, с. 59.
2. Авторское свидетельство СССР
М 269337, Q 01 Т 5/02, 10.08.67.
542157
Составитель В; Кожевников
Редактор П. Горькова Техред К. aapo% Корректор Е. Паип
Заказ 3304/4 Тираж 702 По днисное
БИИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открьгтий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„д. 4/5
Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4