Способ измерения параметров плазмы в электромагнитной ловушке

Способ измерения параметров плазмы в электромагнитной ловушке

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

,),)т4 . И

Союз Советских () 548I45

О П

ИЗОБРЕТЕН И Я

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 25.06.73 (21) 1933513/18-25 (51) Ч Кл G 01 N 27/00 с присоединением заявки— (23) Приоритет—

Государственный комитет (43) Опубликовано 30.03.80. Бюллетень № 12 (53) УДК 533.9 (088.8) по делам изобретений и открытий (45) Дата опубликования описания 30.03.80 (72) Авторы изобретения О. А. Лаврентьев, В. A. Потапенко и И. А. Степаненко (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ПЛАЗМЫ

В ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ЛОВУШКЕ

15

Изобретение, относится к диагностике плазмы, в частности может быть использовано для апределени я,провисания потенциала и плотности объемного заряда в плаз,ме в щелях электромагнитной ловушки.

Известен способ энергетического анализа заряженных частнц изменением потенциала ообирающего электрода, экви валентный методу задерживающего потенциала, используемого при работе многосеточных зондов (1).

Известен способ измерения .параметров плазмы путем регистрации выходящих в магнитную щель ловушек ионов (2).

Эти опособы могут быть непосредственно применимы к;измерению потенциала провисания в магнитной щели.

Цель изобретения — определение потенциала провисания объемного заряда в магнитной щели.

Это достигается тем, что на детектор ,ионов подают регулируемый отрицательный относительно камеры лг)вуц)ки потенциал и по его минимальному значению, соответствующему насыщению ионного тока,на детектор, судят об искомой;величине.

На чертеже изображена схема реализации предлагаемого способа, включающая соленоиды 1, QToHöàòåëüíî заряженные электроды 2, инжектор 8 электронов, плазму 4, отверстие 5 в электроде, детектор 5 ионов.

На детектор ионов подают регулируемый отрицательный относительно камеры ловушки, потенциал. В,качестве источника ионов используют коны плазмы, удерживаемые в потенциальной яме электронной ловушки, а детектор ионов помещают под регулируемый потенциал, находят минимальное значение потенциала, при котором наступает насыщение ионного тока, равное искомому потенциалу провнсания.

Предлагаемый способ позволяет определить потенциал провисания объемного заряда в магнитной щели.

20 Формула изобретения

Способ измерения |параметров плазмы в электромагнитной ловушке путем регистрации выходящих B магнитную щель ловушки

25,ионов, отличающийся тем, что, с целью определения потенциала прозисания объемного заряда в магнитной щели, на детектор ионов подают отрицательный относительно камеры ловушки потенциал и по з0 его минимальному значению, соответствую548145

Составитель Н. Богданова

Техрсд В. Серякова Корректор И. Осиновская

Редактор Т. Колодцева

Заказ 228/331 Изд. № 229 Тираж 1033 Подписное

НПО «Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Тип. Харьк. фил. пред. «Патент»

3 . с

% . ° » t с. c<» ; щему насыщению ионного тока на детек-.. тор, судят оо искомой величине.

Источники информации, принятые во

:внимание при экспертизе:

1. Козлов О. В. Электрический зонд в плазме, М., Атомиздат, 1969.

2. Синельников и др. 5КТФ № 30, 1960, 5 с. 256.