Способ измерения напряженности магнитного поля
Иллюстрации
Показать всеРеферат
(Всьоо(оэнаа >! ейтхой "(нъ - 1 (зхймч9сйо(ЗВ фи6 л от в нн-а(фЦ А
° э ь ь» м ЙФВ юли
О П И C А Н И Е (и) 552578
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Оо(ое Соеетоких
Социалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 09.01.76 (21) 2309710/21 с присоединением заявки № (23) Приоритет
Опубликовано 30.03.77. Бюллетень № 12
Дата опубликования описания 11.04.77 (51) М. Кл G 01R 33/06
G 01R 33/02
Государстеенный комитет
Совета Мииистрое СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.317.44 (088.8) (72) Авторы изобретения (71) Заявитель
3. Х, Кувашов, В. М. Сапельников и P. С. Даукаев
Башкирский государственный университет имени 40-летия Октября (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕННОСТИ
МАГНИТНОГО ПОЛЯ
Изобретение относится к области электрическ(их и магнитных измерений и может быть использовано в измерительно-информационной технике для измерения напряженности магнитного поля.
Известен способ измерения напряженности магнитного поля, основанный на измерении изменения сопрот|ивления висмута от величин напряженности магнитного поля (1). Недостатком этого способа является невысокая чувствительность и точность измерения.
Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ измерения напряженности магнитного поля, основанный на эф(фекте Холла и заключающийся в измерении ЭДС Холла, которая зависит от напряженности магнитного поля (2).
Однако такой способ измерения напряженности магнитного поля обладает невысокой чувствительностью и точностью, а также связан с трудоемкой технологией изготовления самого датчика Холла. Кроме того, громоздкая и сложная аппаратура, применяемая для осуществления этого способа, приводит к повышению стоимости оборудования, используемого в процессе измерений.
Цель изобретения — повышение чувствительности и точности.
Это достигается тем, что по предлагаемому способу измерения напряженности магнитного поля, основанному на изменении свойств вещества, помещенного в магнитное поле и их измерений, в магнитное поле помещают ячейку с нематическим жидким кристаллом
5 и производят градуировку зависимости величины емкости ячейки от напряженности магнитного поля.
На фиг. 1 показано устройство, реализующее предлагаемый способ; на фиг. 2 — завп10 симость величины емкости от напряженности магнитного поля.
Электроды 1, соединенные с измерительным прибором 2, помещаются в магнитное поле 3; пространство между электродами за15 полняется жидким кристаллом 4.
В качестве жидкого кристалла используется нематический жидкий кристалл
С((Нзд+(О С6Н4 СООНз помещенный в ячейку, образованную двумя
20 электропроводящими пластинами со сторонами 15Х20 мм и расстоянием между ними
100 мкм. Эти пластины служат электродами при измерении емкости жидкого кристалла.
Ячейка помещается в магнитное поле, и из25 меряется величина емкости жидкого кристалла. Таким образом, снята зависимость величины емкости от напряженности магнитного поля, по которой при последующих измерениях емкости ячейки с жидким кристаллом в
30 магнитном поле определяется значение его напряженности. Используя полученную зависимость, также можно отградуировать измерительный пр ибор и снимать показания непосредственно с него.
Использование предлагаемого способа измерения напряженности магнитного поля обеспечивает по сравнению с существующими способами следующие преимущества:
a) повышает точность измерений; б) повышает чувствительность прибора; в) упрощает аппаратуру, так как не требует дополнительного питания датчика, помещенного в магнитное поле; г) удешевляет аппаратуру, так как изготовление датчика с жидким кристаллом значительноо проще.
552578
Формула изобретенная
Способ измерения напряженности магнитного поля, основанный на изменении свойств вещества, помещенного в магнитное поле и их измерении, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и точности, в магнитное поле помещают ячейку с нематическим жидким кристаллом и производят гра10 дуировку зависимости величины емкости ячейки от напряженности магнитного поля.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:
1. Чечерников В. И. Магнитные измерения.
15 М., Изд-во МГУ, 1963, с. 46.
2. Там же, с. 44.
Риз. 1
552I578
Составитель О. Богомолов
Техред А. Камышникова
Корректор Л. Орлова
Редактор С. Заика
Типография, пр. Сапунова, 2
Заказ 755/19 Изд. № 312 Тираж 1054 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, K-35, Раушская наб., д. 4/5