Способ измерения напряженности магнитного поля

Способ измерения напряженности магнитного поля

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

(Всьоо(оэнаа >! ейтхой "(нъ - 1 (зхймч9сйо(ЗВ фи6 л от в нн-а(фЦ А

° э ь ь» м ЙФВ юли

О П И C А Н И Е (и) 552578

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Оо(ое Соеетоких

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 09.01.76 (21) 2309710/21 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 30.03.77. Бюллетень № 12

Дата опубликования описания 11.04.77 (51) М. Кл G 01R 33/06

G 01R 33/02

Государстеенный комитет

Совета Мииистрое СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.317.44 (088.8) (72) Авторы изобретения (71) Заявитель

3. Х, Кувашов, В. М. Сапельников и P. С. Даукаев

Башкирский государственный университет имени 40-летия Октября (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕННОСТИ

МАГНИТНОГО ПОЛЯ

Изобретение относится к области электрическ(их и магнитных измерений и может быть использовано в измерительно-информационной технике для измерения напряженности магнитного поля.

Известен способ измерения напряженности магнитного поля, основанный на измерении изменения сопрот|ивления висмута от величин напряженности магнитного поля (1). Недостатком этого способа является невысокая чувствительность и точность измерения.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ измерения напряженности магнитного поля, основанный на эф(фекте Холла и заключающийся в измерении ЭДС Холла, которая зависит от напряженности магнитного поля (2).

Однако такой способ измерения напряженности магнитного поля обладает невысокой чувствительностью и точностью, а также связан с трудоемкой технологией изготовления самого датчика Холла. Кроме того, громоздкая и сложная аппаратура, применяемая для осуществления этого способа, приводит к повышению стоимости оборудования, используемого в процессе измерений.

Цель изобретения — повышение чувствительности и точности.

Это достигается тем, что по предлагаемому способу измерения напряженности магнитного поля, основанному на изменении свойств вещества, помещенного в магнитное поле и их измерений, в магнитное поле помещают ячейку с нематическим жидким кристаллом

5 и производят градуировку зависимости величины емкости ячейки от напряженности магнитного поля.

На фиг. 1 показано устройство, реализующее предлагаемый способ; на фиг. 2 — завп10 симость величины емкости от напряженности магнитного поля.

Электроды 1, соединенные с измерительным прибором 2, помещаются в магнитное поле 3; пространство между электродами за15 полняется жидким кристаллом 4.

В качестве жидкого кристалла используется нематический жидкий кристалл

С((Нзд+(О С6Н4 СООНз помещенный в ячейку, образованную двумя

20 электропроводящими пластинами со сторонами 15Х20 мм и расстоянием между ними

100 мкм. Эти пластины служат электродами при измерении емкости жидкого кристалла.

Ячейка помещается в магнитное поле, и из25 меряется величина емкости жидкого кристалла. Таким образом, снята зависимость величины емкости от напряженности магнитного поля, по которой при последующих измерениях емкости ячейки с жидким кристаллом в

30 магнитном поле определяется значение его напряженности. Используя полученную зависимость, также можно отградуировать измерительный пр ибор и снимать показания непосредственно с него.

Использование предлагаемого способа измерения напряженности магнитного поля обеспечивает по сравнению с существующими способами следующие преимущества:

a) повышает точность измерений; б) повышает чувствительность прибора; в) упрощает аппаратуру, так как не требует дополнительного питания датчика, помещенного в магнитное поле; г) удешевляет аппаратуру, так как изготовление датчика с жидким кристаллом значительноо проще.

552578

Формула изобретенная

Способ измерения напряженности магнитного поля, основанный на изменении свойств вещества, помещенного в магнитное поле и их измерении, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и точности, в магнитное поле помещают ячейку с нематическим жидким кристаллом и производят гра10 дуировку зависимости величины емкости ячейки от напряженности магнитного поля.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Чечерников В. И. Магнитные измерения.

15 М., Изд-во МГУ, 1963, с. 46.

2. Там же, с. 44.

Риз. 1

552I578

Составитель О. Богомолов

Техред А. Камышникова

Корректор Л. Орлова

Редактор С. Заика

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 755/19 Изд. № 312 Тираж 1054 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, K-35, Раушская наб., д. 4/5