Способ определения концентрации элемента с помощью спектрального анализа

Способ определения концентрации элемента с помощью спектрального анализа

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик (») 559157

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) ЗаЯвлЕно22.10.74 (21) .2069637/25 (63) M. Кл.е

Q 01 н! 21/20 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Государственный квинтет

Совета Инннстров СССР

h0 делам нзоорвтеннй н вткрытнй (43) Опубликовано 25 05,77.Áþëëeòåíü № 19 (53) УДК 543.423 (088.8) (45) Дата опубликования описания 29.07.77 (72) Автор изобретения

И, Ф, Мельник (71) Заявитель

Производственное объединение "Кировский завод (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ЭЛЕМЕНТА

С ПОМОШЬЮ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ссн, ет — :ветс „° ет ср.

Изобретение относится к эмиссионному спектральному анализу и может быть использовано для установления химического состава вешеств.

Известен способ спектрального анализа путем. измерен!!я величин, пропорциональных логаряфму отношения интенсивности спектральной линии анализируемого элемента и интенсивности линии элементавнутреннего стандарта и определения кон тО цеитрации элемента по формуле! б глеб,„,,,- интенсивности линии вналнзи руемого элемента и элемента внутреннего стандарта, С ан. — концентрация анализируемого элемента, О л ф - постоянные.

Недостатком известного способа являет- gg ся изменение члена С гст со временем изза влияния структуры образца и зависимость его от условий робоотбора, приводяшее к систематическим ошибкам и снижению точностк анализа. 25

Цель изобретения - повышение точности анализа.

Это достттгается тем, что измеряют величины, пропорциональные интенсивности, по меньшей мере, одной дополнительной чн нии элемента - внутреннего стандарта. При этом в качестве дополнительной использу« ют ту линию элемента -:внутреннего стандарта, отношение интенсивности которой к интенсивности линии сравнения или к интенсивности другой дополнительной лттнии элемента - внутреннего стандарта изменяется от вариаций того же самого параметра условий анализа или пробоотбора, например, от структурной разнородности проб.

Концентрацию анализируемого элемента определяют по формуле

СР ан. ср. тм

П = и С ат!. е- р с p . n где Лср.„„- !!!!теис!!вность W -ой с!ил!вше!!" дополнительной спектральной линии злеме !» та - внутреннего стандарта, 2с „- и!!те!ь ÂÂíÎñ f4 «сновной лн!!н ори! не!!т!н, J

5591 дпя случая многоканальных фотоэпектричесм ких спектральных установок или интенсивностьь а -ой спе дише и дополнительной спектральной линии элемента внутреннегс стандарта, Соя. - концентрация енапизиру емого элемента, < p; — коэффициент, харак теризуюшнй с ге пень слежения величины зе изменением величины

J . Р а Я р- постоянные, О произведение поИ

Формула изобретения

15 ,Способ определения концентрапии эпе мента с помощью спектрального анализа, заключающийся в регистрации спектров атандартных и анализируемых образцов, изме- N рении интенсивности линии анализируемого элемента и эпементавнутреннего стан .

57

1 дарта, о .т,п, и ч а ю шийся тем, что., с цепью повышения точности анализа, измеряют интенсивность, по меньшей мере, одной дополнительной пинии элемента - внутреннего стандарта и по полученным значениям определяют концентрацию анализируемого элементе по формуле С 1

= с,„

i Д

С. с. 11

OH. где Э „- интенсивность пинии анапизируе мого элемента

Jс кнтенсивность пинии элемента внутреннего стандарта °

3с „3 - интенсивности Ъ-ой и и ой до попнятепьних линяй эпе мента - внутреннего стандарта, Сд„- концентрация анализируемого элемента;

Kñ - коэффициент3 а;Ь - постоянные 3

- произведение ло 1

Составитель В, Ковба

Редактор Н, Разумова Техред 3. Фаж а Корректор A. Гриценко

Заказ 1501/96 Тираж 1 101 Подписное

UHHHHH Государственного комитета Совета Министров СССР по дедам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, r. Ужгород, ул. Проектная, 5