Эталон для измерения диаметра ядра электрозаклепок и сварных точек

Эталон для измерения диаметра ядра электрозаклепок и сварных точек

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Ресттублик

З6113О (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 20.11.74(21) 2076746/28 (51) М, Кл 01 1ч 29/04 с присоединением заявки №

Гасударственный комитет

Совета Министров СССР по делам изооретений и открытий (23) Приоритет (43) Опубликовано05.06.77.Бюллетень № 21 (45) Дата опубликования описания 09.08.77 (53) УДК 620.179,16 (088,8) (72) Авторы изобретения

Р, С. Огрызков и В. М. Швадченко (71) Заявитель (54) ЭТАЛОН ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УЛЬТРАЗВУКОВЫМИ

УСТРОЙСТВАМИ ДИАМЕТРА ЯДРА ЭЛЕКТРОЗАКЛЕПКИ

И СВАРНЫХ ТОЧЕК

Изобретение относится к области машиностроения и может быть использовано при контроле качества электрозаклепок и сварных точек зеркально-теневым методом с помощью ультразвукового дефектоскопа при одностороннем доступе к объекту контроля.

Известен эталон для настройки дефектоскопа перед измерением диаметра ядра сварной точки по ширине импульса реверберации на экране электроннолучевой труб-. lo ки. Эталон представляет собой тест образец, сваренный через материал--свидетель, диаметры точек в котором определены по

его рентгенограмме.

Недостаток эталона состоит в том, что 15 он не обладает универсальностью, применим только с одним искателем, специально подобранным по форме донышка, повторяющей форму отпечатка от электрода сварочной машины на эталоне, и не позволяет 20 создать акустического контакта между,искателем и головкой электрозаклепки, Известен также эталон с бобышкой, диаметр которой равен наименьшему допустимому диаметру ядра электрозаклепки 25 (сварнои точки), и диском, повторяющим по кривизне, толщине и марке материала верхний элемент соединения.

Недостатками его являются сложность изготовления и трудоемкость при использовании.

1.(елью изобретения является повышение производительности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что набор пластик составлен из пластин с одинаковыми чистотой поверхностей, толщиной, размерами и формой, одна из которых сплошная, а в каждой из других в геометрическом центре выполнено отверстие, диаметр которого определяет коэффициент ослабления ультразвуковых колебаний одинаковый с коэффициентом ослабления от минимально . допустимого диаметра ядра сварной точки или электрозаклепки и увеличивается от пластины к пластине на шаг, например, равный 1 мм, На фиг. 1, 2 изображен общий вид эталона в рабочем — îëîæåíèè; на фиг, Э - зависиЧость коэффициента ослабления от диа-метре ядра.

561130

Пластине 1 с отверстием и пластине 2 без отверстия установлены горизонтально в прорезях на корпусе 3, выполненном из органического стекла, а остальные пластины с отверстиями уложены вертикально и служат для замены пластины 1 при переходе к измерению ядер другого диаметра.

Для получения необходимой для работы пластины 1 варится партия образцов со сварными точками (или электрозаклепками) на оптимальном режиме для получения необходимых по ГОСТ 14776-69. или ГОСТ

15878-70 диаметров ядер, и для каждого ядра определяются коэффициенты ослабления А 15 444 0 4

4иl д о где А . - минимальная амплитуда ультрай44И 4 звуковой волны при наличии ядра 4 -го диаметра, A — амплитуда ультразвуковой волнь о при отсутствии ядра.

Потом образцы разрушают, измеряют истинные диаметры ядер и выбирают образец с диаметром ядра, равным минимально допустимому, и по соответствующему этому ядру значению коэффициента ослабления на графике (фиг, 3), снятому предварительно на отверстиях различного диаметра, выбирают необходимое для пластины 1 эталона значение диаметра отверстия. Пластина без отверстия служит для определения амплитуды ультразвуковой волны при отсутствии отверстия A, а пластина с отверстиемр 4 для опре; аления А п44 П

Работа с эталоном заключается в следующем: призматические искатели, включенные для зеркально-теневого метода контроля, устанапивают сначала на пластину эталона без отверстия и включают дефектоскоп. Затем ручками управления дефектоскопа устанавливают на экране электронноучевой трубки определенную высоту имульса (А„) и измеряют ее, например, в децибеллах.

Далее, не меняя положения органов управления дефектоскопом, переносят искатели на пластину эталона с отверстием, находят минимальную аплитуду сигнала (А )

ttf4 V путем перемещения искателей около отверстия так, чтобы оно всегда пересекало ультразвуковой пучок, и тоже измеряют ее, например, в децибеллах. Далее находят от-:

4 ношение — шоо — —:н .. нтнноннши. ное4фин

4 о " 44 и4 циент ослабления, соответствующий минимально допустимому ядру электрсэеклепки или точке. Затем приступают к измеречию коэффициента ослабления ультразвуковых колебаний на точках или электрозаклепках в изделии, Измерения производятся аналогичным образом. Если ядрс точки или электрозаклепки на изделии имеет коэффициент ослабления ультразвуковых колебаний больше, чем эталонный, то она бракуется. При этом следует иметь в виду, . что для воспроизведения результатов контроля необходимо сохранять постоянными и одинаковыми при .изготовлении эталона и контроля изделия параметры контртхпя, углы ввода искателей, рабочую частоту и т. д.

В процессе контроля может оказаться, что амплитуда сигнала А одинакова дпя эталона и изделия. В этом случае разбраковку можно вести по абсолютной величине амплитуды А 444 4 а

За счет использования отверстий с раэличными диаметрами, подобранными по коэффициенту ослабления ультразвуковых колебаний, значительно упрощается технология изготовления эталона и процесс контроля.

Использование набора пластин позволяет применять эталон при разных сочетаниях толщин и марок свариваемых материалов, что делает его универсальным, Формула изобретения

Эталон для измерения ультразвуковыми устройствами диаметра ядра электрозаклепки и сварных точек, содержащий набор пластин, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности кон троля,набор пластин составлен из пластин с одинаковыми чистотой поверхностей, тол« шиной, размерами и формой, одна из котс рых сплошная, а в каждой из других в геометрическом центре выполнено отверстие, диаметр которого определяет коэффициент ослабления ультразвуковых колебаний одинаковый с коэффициенто!. ослабления от минимально; допустимого диаметра ядре сварной точки или электрозаклепки и увели -. чивается от пластины к пластине не шаг, например, равный 1 мм.

561130

>mini Отб нн

pm/. с Риг.,7

Заказ 1565/149 Тираж 1 1 01 Подписное

UHHHHH

Филиал ППП "Патент", г. Умтород, ул. Проектная, 4