Способ определения геометрических параметров фотографической системы пузырьковой камеры

Способ определения геометрических параметров фотографической системы пузырьковой камеры

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ma Ъ „ » i: . ф

И Е (n) 57086I

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 08.08.75 (21) 2166390/25 с присоединением заявки Ме (23) Приоритет

Опубликовано 30.08.77. Бюллетень М 32

Дата опубликования описания 19.09.77 (51) М. Кл.2 G 01Т 5/06

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений (53) УДК 539.1.073 (088.8) и открытий (72) Авторы изобретения

Э. В. Козубский

Объединенный институт ядерных исследований (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

ФОТОГРАФИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ ПУЗЫРЬКОВОЙ КАМЕРЫ

Изобретение относится к технике физическото эксперимента с применением стереофотограмметрического способа съема информации.

Известны способы определения геометрических параметров фотографической системы путем стереофото съемки системы реперных крестов в фотографируемом объеме и измере ния изображений. К недостаткам таких способов относится то, что при наличии только плоской системы реперных крестов, они не дают возможности откорректировать координаты входных зрачков фотограмметрических камер, точнее — высоты этих зрачков над плоскостью реперных крестов.

Известен также способ определения теометрических параметров фототрафической системы пузырьковой камеры путем стереофотосъемки системы реперных крестов в фотографируемом объеме и измерения изображений, согласно которому к стеклу-иллloìènàòoðó прижимают призму с системой реперных крестов на ее плоскостях и производят фотосъемку этой системы крестов, Однако этот способ характеризуется недостаточной точностью определения высоты входных зрачков и потерей части фотографируемого объема.

Цель изобретения — определение высоты входных зрачков объективов фотографической системы пузырьковой камеры с двумерной системой реперных крестов.

Поставленная цель достигается тем, что одновременно с фотографированием реперных крестов на плоскости стекла-иллюминатора фотографируют мнимые изображения входных зрачков объективов фотокамер, для чего съемку производят в несколько этапов соответственно числу фотокамер путем установки на

10 каждом этапе в одной из камер осветителя, а в остальных — фоточувствительного материала.

На чертеже показана схема устройства, на котором осуществляется предлагаемый способ.

15 Схема включает объективы 1 и 2 фотокамер, стекло-иллюминатор 3 пузырьковой камеры, плоскость гравировки системы реперов в пространстве объекта 4, выравнивающие стекла 5 и 6 фотокамер, конденсор 7 и источник света 8. С целью упрощения чертежа толщина стекла-иллюминатора показана редуцированной к воздуху. Изображения зрачка объектива 1, образуемые благодаря отражениям света на плоскостях стекла-иллюминатора 3 обозначены соответственно как 1, 1" и 1", а пзобрахкения входното зрачка объектива 1 в картинной плоскости объектива 2 — через Г2, 1 "2" и 1 "2 ", реперные кресты на стекле-иллюминаторе — P>, P>..., а их изображения в

570861 картинной плоскости объектива 2 — Р(2 1), 1 (2,2)

Масштаб изображения плоскости реперных крестов определяется на основе измерения расстояний между реперными крестами на 5 стекле — иллюминаторе и расстояний между их изображениями в картинных плоскостях фотокамер. Эти измерения дают соотношения:

Н1 Н1

= M„=M, (1) 10

Ф1 Ф, где Н) и Н2 — высоты входных зрачков объективов 1 и 2 над стеклом-иллюминатором 3, Ф) и Ф2 — фокусные расстояния фотокамер

1и2, 15

М) и М2 — масштабы изображения плоскости реперных крестов 4 в фотокамерах 1 и 2, Можно получить данные для следующих соотношений:

В(1 2) (Н1 + H )

С вЂ” M(1 2>—

Ф

1(1, 2> ° 21

B(1 2) (% + H2 + 2d)

= M(2, 2)—

1 ((1,2), 2) Ф2

В(1 2) (Н,+Н,+Ы)

= М(з,2) =, (2)

С1(1 2), 21 ф, где В<1,> — расстояние между осями фотокамер 1 и 2; 30

С)<1,2) 2)) — соответствующее расстояние в картинной плоскости фотокамеры 2, М<12) — масштаб изображения для плоскости мнимого изображения входного зрачка камеры 1 в первой поверхности стекла-иллюминатора 3 и т. д., d — редуцированная к воздуху толщина стекла-иллюминатора..

Из измерений расстояний между осями фотокамер Вь2 и измерений расстояний С между осями фотокамер и изображений входных зрачков фотокамер в картинных плоскостях фотокамер можно определить масштабы изображений для плоскости мнимых входных зрачков фотокамер М(12) — для первого мнимого изображения, М2 2 — для второго мнимого изображения, и т. д. Отсюда, на основании соотношения (2) можно получить

Ф, = 2d (М(2,2) М(1, 2)) (3) и, применяя выражение (1), найти значения высоты входного зрачка для камеры 2.

H2 = M22d (4) (2 2) — (l 2) и аналогично для остальных камер способ дает возможность найти высоты входных зрачков объективов, чем достигается та же цель, что и в случае фотосъемки двух плоских систем реперных крестов, расположенных на известном расстоянии друг от друга.

Преимуществом способа является также то обстоятельство, что по положению изображений входных зрачков на фотоматериале легко получить информацию о наклоне фотосистемы относительно стекла-иллюминатора или клиновидности стекла-иллюминатора.

Формула изобретения

Способ определения геометрических параметров фотографической системы пузырьковой камеры путем стереофотосъемки системы реперных крестов в фотографируемом объеме и измерения изображения, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью определения высоты входных зрачков объективов фотографической системы пузырьковой камеры с двумерной системой реперных крестов, на плоскости стеклаиллюминатора одновременно с фотографированием реперных крестов фото)графируют мнимые изображения входных зрачков объективов фотокамер, для чего съемку производят в несколько этапов соответственно числу фотокамер путем установки на каждом этапе в одной из камер осветителя, а в остальных— фоточувствительного материала.

57086i

/)/ д

// l/

//

1 1

/

/ /

/

/ 1.

Составитель Ю. Левитан

Редактор Н. Коляда Техред И. Карандашова Корректоры: Л. Денискина и Н. Аук

Заказ 1978/14 Изд. № 708 Тираж 725 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2