Устройство для получения тестов бесповторных комбинационных схем

Устройство для получения тестов бесповторных комбинационных схем

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

:(ii) 570897

ОГ) ИСАНИ Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 18.02.75 (21) 2107802j24 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 30.08.77. Бюллетень № 32

Дата опубликования описания 08.09.77 (51) М. Кл.з G 06F 11/00

Государственный комитет

Совета Министров СССР ло делам изобретений и открытий (53) УДК 681.3(088.8) (72) Авторы изобретения

А, Я. Бессмертных и H. И. Ишков (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ТЕСТОВ

БЕСПОВТОРНЫХ КОМБИНАЦИОННЫХ СХЕМ

Изобретение относится к вычислительной технике, а именно к устройствам контроля и поиска неисправностей в бесповторных комбинационных схемах.

Известно устройство для получения тестов бесповторных комбинационных схем, содержащее блок управления, коммутатор переменных логической функции, коммутатор переменных элементарных конъюнкций и индикатор тестовых наборов. Блок управления соединен с коммутаторами переменных логической функции и переменных элементарных конъюкций, выходы коммутатора переменных логической функции подключены к одноименным входа м коммутатора переменных конъюнкций, нагрузкой которого является индикатор тестовых наборов (1).

Недостатком данного устройства является необходимость выполнения логических преобразований для получения полного проверяющего теста, особенно минимального, когда приходится решать комбинаторные задачи, связанные с перебором числа коныонкций и нахождением минимальных покрытий матриц.

Известно также наиболее близкое по техническому решению к изобретению устройство для получения тестов бесповторных комбинационных схем, содержащее блок управления, коммутатор переменных логической функции, коммутатор переменных элементарных коньюнкций, коммутатор конъюнкций, индикатор тсстовых наборов, причем первый выход блока управления подключен к управляющим входам коммутатора переменных логической функции н коммутатора конъюнкций, выходы которого соединены с управляющими входами коммутатора переменных элементарных коньюнкций, первая группа выходов коммутатора переменных элементарных конъюнкций подсоединена к первой группе входов индикатора тестовых наборов (2).

Недостатком данного устройства является невозможность получения минимальных проверяющих тестов, входящих в число диагностиБ ческнх.

При контроле комбинационных схем целесообразно реализовать наборы проверяющего теста, а при обнаружении факта неисправности — оставшиеся наборы, которые в сумме с

20 проверяющим составляют полный диагностический тест. Это уменьшит время контроля.

Цель изобретения — расширение функциональных возможностей устройства за счет получения полных проверяющих тестов, входя25 щих в получаемый диагностический тест и имеющих наименьшую длину.

Это достигается, тем, что в устройство введены группа элементов И и индикатор переменных логической функции, причем выход

30 блока управления соединен с управляющим

570897 входом индикатора переменных логической функцип, вторая группа выходов коммутатора переменных элементарных конъюнкций — — с группой входов индикатора переменных логической функции и с первыми входами группы элементов И, вторые входы которых связаны с выходами коммутатора переменных логической функции, выходы группы элементов И подключены к второй группе входов индикатора тестовых наборов.

На фиг. 1 изображена структурная схема устройства; на фиг. 2 — принципиальная электрическая схема одного из возможных вариантов его технической реализации.

Устройство содержит блок 1 управления, коммутатор 2 конъюнкций, коммутатор 3 переменных элементарных конъюнкций, индикатор 4 переменных логической функции, коммутатор 5 переменных логической функции, группу элементов И 6, индикатор 7 тестовых наборов.

Коммутатор 2 конъюнкций и коммутатор 5 переменных логической функции подключены к одному из выходов блока 1 управления, индикатор 4 переменных логической функции— к другому выходу блока управления. Одна группа выходных шин коммутатора 3 переменных -элементарных конъюнкций подсоединена к одноименным входам индикатора 7 тестовых наборов, другая — к одноименным входам индикатора 4 переменных логической функции, к входам группы элементов И 6, стоящих между выходами коммутатора 5 переменных логической функции и входами индикатора 7 тестовых наборов.

Блок 1 управления представляет собой устройство, выполненное на коммутирующих элементах, с помощью которых осуществляются подача и снятие напряжения источника питания на входы коммутатора 2 конъюнкций, коммутатора 5 переменных логической функции и индикатора 4 переменных логической функции.

Один из выходов блока управления, связанный с входами коммутатора конъюнкций и коммутатора переменных логической функции, служит для подачи напряжения в устройство на время считывания наборов теста, другой, связанный с индикатором переменных логической функции — для снятия напряжения при приведении устройства в исходное положение.

Коммутатор 2 конъюнкций — это набор коммутирующих элементов, соответствующих элементарным конъюнкциям, с помощью которых осуществляется подключение входа коммутатора 2 к соответствующему выходу.

Коммутатор 3 переменных элементарных конъюнкций выполнен матричным с двумя группами выходных шин. Коммутирующие элементы, объединенные входными шинами, соответствуют переменным элементарным конъюнкций, а объединенные выходными шинами — переменным логической функции. Выходные шины одной из групп, соединенные с входами индикатора 7 тестовых наборов, подключаются к входным в положении коммутп5

1О

65 рующих элементов, соогвстствующем пали шю переменных независимо от их;нн ического. Выходные шины другой группы, соединенные с входами индикатора 4 переменных логической функции, подключаются к входным в положении тех же коммутирующих элементов, соответствующем переменным без инверсии.

Индикатор 4 переменных логической функции изготовлен на индицирующих элементах памяти, сохраняющих информацию о переменных при получении всех наборов теста, Каждый индицирующий элемент соответствует переменной логической функции.

Коммутатор 5 переменных логической функции выполнен на коммутирующих элементах, соответствующих переменным логпческой функции. Во включенном положении коммутируюших элементов вход коммутатора подключается к соответствующему выходу.

Группа элементов И 6, число элементов И в которой соответствует количеству переменных логической функции, на которое рассчитано устройство, в исходном положении открыта и соединяет собственные входы с выходами. При подаче напряжения на первые входы элементы И закрываются и разобщают выходы от входов.

Индикатор 7 тестовых наборов представляет собой набор индицирующих элементов, соответствую;цих переменным в наборах теста, а состояние элементов соответствует состоянию этих переменных в наборах.

Устройство работает следующим образом.

В исходном положении устройства все коммутирующие элементы находятся в выключенном состоянии. Для приведения в. исходное положение элементов памяти индикатора переменных логической функции необходимо с помощью коммутирующих элементов блока управления снять напряжение источника питания с входа индикатора переменных логической функции. Для получения наборов разрыва с помощью коммутатора 3 переменных элементарных конъюнкций в устройство вводится логическая функция в дизыонктивной нормальной форме, а с помощью коммутатора 5 набираются переменные инверсной логической функции.

Затем с помощью коммутатора 2 выбирается одна из конъюнкций включением соответствующего коммутирующсго элемента. При подаче напряжения с блока 1 управления индикатор 7 тестовых наборов отображает информацию о состоянии переменных в наборе разрыва, а индикатор 4 переменных логической функции — информацию о контролируемых этим набором переменных. Далее последовательно выбираются включением соответствующих коммутирующих элементов коммутатора 2 следующие конъюнкции, все переменные которых или их часть пе контролируются получаемыми наборами. При последовательной подаче питания с блока управления каждый раз считывают информацию с индикатора тестов ы х н а бор ах.

570897

Выбор конъюнкций и получение наборов разрыва происходит до тех пор, пока не останется переменных, пс контролируемых полученными наборами. Фиксируют все наборы разрыва, которые в сумме контролируют все переменные логической функции. Эти наборы войдут в проверяющий тест. Затем устройство приводится в исходное положение.

Для получения наборов шунтирования с помощью коммутатора 3 переменных элементарных конъюнкци|й в устройство, вводится инверсна я логическая функция в дизыонктивной нормальной форме, а с помошью коммутатора

5 переменных логической функции набираются переменныс логической функции. Затем с помогцыо коммутатора 2 выбирается одна из конъюнкций инверсной логической функции включением соответствующего коммутирующего элемента.

При подаче напряжения с блока 1 управления индикатор 7 тестовы. . наборов отображает информацию о состоянии переменных в наборе шунтирования, а индикатор 4 переменных логической функции — информацию о контролируемых этим набором переменных. Затем последовательно путем включения соответствующих коммутирующих элементов коммутатора 2 выбираются следующие конъюнкции, все переменные которых или часть переменных не контролируются получаемыми наборами. Эти не контролируемые наборами переменные считываются с индикаторами 4 переменных логической функции. При последовательной подаче питания с блока 1 управления каждый раз считывается информация с индикатора 7 о тестовых наборах.

Выбор коныонкций и получение наборов разрыва проводятся до тех пор, пока не останется переменных логической функции, не контролируемых получснными наборами шунтирования. Эти полученные наборы войдут в проверяющий тест.

Объединяя все зафиксированные наборы разрыва и шунтирования, получают полный проверяющий тест. При переборе конъюнкций в различной последовательности можно получить различные полные проверяющие тесты.

При переборе конъюнкций в указанной последовательности получают полный проверяющий тест наименьшей длины.

Для получения наборов полного диагностического теста, содержащего в себе любой из проверяющих тестов, последовательно перебирают все имеющиеся коныонкции логической и инверсной логической функции.

На фиг. 2 представлен один из возможных вариантов технических реализаций устройства, расчитанного для комбинационных схем, реализующих логические функции до трех переменных.

При увеличении числа переменных логической функции увеличивается только число элементов устройства. Пр, нцип построения и работа устройства не меняются, 5

Ьлок 1 управления выполнен па двух кнопках 8 и 9. При включении кнопки 8 снимастся напряжение источника питания с устройства для его приведения в исходное состояние. При включении кнопки 9 подается питание источника на устройство на время считывания наборов теста.

Коммутатор 2 конъюнкций имеет персключатели 10, 11 н 12, во включенном состояшш которых к входу подключается соогвстствующий выход.

Коммутатор 3 переменных элементарных конъюнкций изготовлен матричным. В качестве коммутирующих элементов выбраны переключатели 13 — 21 с фиксированным нейтральным положением. В одном из включенных положений к входным шинам подключаются обе группы выходных шин, а в другом включенном положении — только шины, соединенные с входами индикатора 7 тестовых наборов.

Индикатор 4 переменных логической функции состоит из электромагнитных реле 22 — 24, включенных по схеме с самоблокировкой, и комбинационных электрических лампочек, включенных в цепь самоблокировкп.

Коммутатор 5 переменных логической функции выполнен на переключателях 25, 26 и 27, во вклю:снном состоянии которых соответствующие выходы подключаются к входу коммутатора.

В качестве элементов И 6 применены электромагнитные реле с нормально замкнутыми и нормально разомкнутыми контактамп.

Индикатор 7 тестовых наборов представляет собой световое табло на электрических коммутационных лампочках 28, 29 и 30, соответствующих переменным в наборах теста.

Пгеимуществом предлагаемого устройства перед известным является то, что оно позволяет получить наименьшие проверяющие тесты, входящие составной частью в диагностические, а также наборы полных проверяющих тестов, в том числе и наименьшей длины, упорядоченные по коли.еству обнаруживаемых ими неисправностей. При контроле схеме это приведет к сокращению времени контроля.

Формула изобретения

Устройство для получения тестов бесповторных комбинационных схем, содержащее блок управления, коммутатор переменных логической функции, коммутатор переменных элементарных конъюнкций, коммутатор коныонкций, индикатор тестовых наборов, причем первый выход блока управления соединен с управляющими входами коммутатора переменных логической функции и коммутатора коньюнкций, выходы которого соединены с управляющими входами коммутатора переменных элементарных конъюнкций, первая группа выходов коммутатора переменных элементарных конъюнкций соединена с первой группой входов индикатора тестоьых наборов, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью расширения функ570897 циональных возможностей, в устройство введены группа элементов И и индикатор переменных логической функции, причем выход блока управления соединен с управляющим входом индикатора переменных логической функции, вторая группа выходов коммутатора переменных элементарных конъюнкций соединена с группой входов индикатора переменных логической функции и с первыми входами группы элементов И, вторые входы которых соединены с выходами коммутатора переменных логичсской функции, выходы группы элементов И соединены с второй группой входов индикатора тестовых наборов.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР МО458830, кл. G 06F 11/00, 1974, 2. Авторское свидетельство СССР № 388261, 10 G 06F 11/00, 1971.

570897

Составитель И. Сигалов

Техред И. Карандашова Корректор И. Позняковская

Редактор И. Грузова

Подписное

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 1942/5 Изд. Ко 711 Тираж 818

НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, )К-35, Раушская наб., д. 4/5