Способ определения внутренних дефектов поликристаллических материалов на основе кубического нитрида бора

Способ определения внутренних дефектов поликристаллических материалов на основе кубического нитрида бора

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (11, 575557 (61) Дополнительное к авт. свид-ву

rg (51) М. Кл. (22) Заявлено 14.06.76 (21)2378072/26-2, Ст 018 27/02 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет(43) Опубликовано 05. 10.77. Бюллетень №3 (45) Дата опубликования описания 26.10.77

Государственный номнтет

Совета й1нннстров СССР по делам нзооретеннй н открытий (53) УДК 543. 257 (088. 8) (72) Авторы изобретения

A. Н, Михайлов, 11, 11. Кучеренко, A. M. Монахов и Л. A. Монахова

Всесоюзны и нау чно-иссле дова тел ьский и конструкторско-технологический институт природных алмазов и инструментов (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРБД1тЛБ11ИЯ В! IÓ EÐÅI II IÈÕ ДБФEKTOB

ПОЛИКРИСТАЛЛИЧ1:СКИХ МАТЕ РИАЛОВ НА ОСНОВЕ

КУБ11×БСКОГО НИТРИДЛ БОРА .

Изобретение относится к неразрушаюшим способам контроля и может быть использов»но на предприятиях, производяших изделия из синтетических сверхтвердых мат . палов на основе кубического нитридв бора.

B промы>пленности материалов на»снове кубического нитридв бора широко применяется визуальный контроль по шпифам . Этот способ контроля относится к разрушаюшим и, кроме того, он не позволяет обнаруживать дефекты во всем объеме поликристалла.

Известны способы контроля, основанные на измерении магнитных характеристик 1 1), Эти способы »е могут быть использованы для контроля поликриствллических материалов на основе кубического нитридв бора ввиду малой величины магнитной проницаемости этих материалов, Наиболее близким техническим решением к предложенному является способ контроля, включаюший нанесение на поверхность исследуемого материала покрытия, пропускание электрического тока и измерение электрических характеристик I 2j, 11едостатком способа является необьективность контроля, так как внешний слой поликристалла имеет более низкое электрическое сопротивление, чем остальной объем.

Целью изобретения является повышение

5 To п>ости контроля.

Поставленная пель достигается тем, что с поверхности матери; лв предварительно удаляют графит, а в качестве покрь>тия прпмеHÿþò меtапп илH сплав с более низким электрическим сопротивлением, чем у иопикристаппическ ого материала.

В качестве покрытия используют металл>,I и ст лавьч из группы меди, серебре и алюл>иния.

Пример . Были использоваHbl пилил». рические заготовки на основе кубического> нитрида бора. Заготовки перед измерением тшательно очишали от графита в концентрированной серной кислоте с добавкой, -5Ъ

>и бихромата калия, затем в асплаве шепоч>.й

I едкое кали и едкий натр . 11вдежный электрический контакт к заготовкам обеспечивали нанесением серебряной пасты нв противоположные терцы заготовки. Электросопротивление заготовок измеряли термометре>м.

575557

С оста в и тел ь М. Криве н ко

Редактор Т. Орловская Техред П. Андрейчук Корректор М, немчик

Заказ 4025/29 Тираж 1101 Подписное

ВНИИНИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„д. 4/5

Филиал ППП Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Преимухцества предложенного способа контроля материалов на основе кубического нитрида бора следуюшие °

1) способ позволяет получить объективную оценку качества поликристалла во всем объеме без его разрушения;

2) снижается трудоемкость изготовления режущего инструмента за счет повышения качества контроля;

3) упрошается контроль поликристаллов, при этом уменьшаются затраты времени.

Формула изобретения

1. Способ определения внутренних дефек. тов поликрпсталлических материалов на основе кубического нитрида бора, включающий нанесение покрытия на поверхность исследуемого материала, пропускание через него электрического тока и измерение его электрических характеристик, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения точности„ с поверхности предварительно удаляют графит, а в качестве покрытия применяют металлы или сплавы с более низким электрическим сопротивлением, чем у ис следуемого поликристаллического материала.

)() 2.Способпоп, 1, о тли чаюшийс я тем, что в качестве покрытия применяют металлы или сплавы из группы меди, серебра или алюминия.

Источники информации, принятые во вни15 мание при экспертизе:

1. Патент США № 3179878„кл. 3245, 1972.

2. Авторское свидетельство И. 386350, кл, Я 01 R 2277/j0000, 1973.