Способ обнаружения дефектов в не экспонированных светочувствительных материалах, например, фотои кинопленках

Способ обнаружения дефектов в не экспонированных светочувствительных материалах, например, фотои кинопленках

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СССР

М 57600!

Класс 57 с, 13;

p) Q

Я 1!

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зарегистрировано в Бюро изобретений Госплана при СНК СССР

П. В. Тимофеев, В. И. Архангельский и А. Я. Штаркер.

Способ обнаружения дефектов в неэкспонированных светочувствительных материалах, например, фото- и кинопленках.

Заявлено 25 января 1936 года в ВКК за ¹ 185321.

Опубликовано 31 августа 194С года.

Часто заснятые ки но- и фотопленки и другие светочувствительные материалы бракуются вследствие обнаружения на них после проявления механических и других дефектов, например, царапин. В целях избежания брака, выявляемого лишь после проявления, фиксации и сушки пленки, необходимо иметь возможность обнаруживать дефекты в светочувствительных материалах до съемки, чтобы вырезать куски материала, имеющие дефекты.

Настоящее изобретение касается способа обнаружения дефектов в неэкспонированных светочувствительных материалах, например, фото- и кинопленках. Он заключается в том, что исследуемый материал просвечивают или освещают неактиничными, например, инфракрасными лучами, при пропускании его через камеру, задерживающую все остальные лучи спектра.

При этом наблюдают изображение материала на экране фотоэлектронной трубки, флуоресцирующего под действием прошедших сквозь светочувствительный материал или отраженных от него лучей, и определяют наличие механических и других дефектов в исследуемом светочувствительном материале.

На чертеже изображена примерная схема устройства для осуществления предлагаемого способа.

Предлагаемый способ сводится к следующему.

Неэкспонированную пленку 1 или тому подобный светочувствительный, материал продвигают с малой ско ростью лентопротяжным или тому подобным механизмом 2 перед соответствующим ширине пленки окном и освещают неактиничными, например, инфракрасными лучами от источника 8 через светофильтр 4. Просвечиваемый участок пленки посредством объектива 5 через второй светофильтр 6 проектируют на катод 7 фотоэлектронной трубки 8 в виде стеклянной колбы с двумя плоскими стенками, на Одной из которых внутри трубки нанесен полупрозрачный, например, цезиевый фотокатод 7, а на другой имеется флуоресцирующий экран 9. Между катодом 7 и экраном 9 расположен анод 10, например, в виде редкой сетки. Прошедшие сквозь исследуемый светочувствительный материал или отраженные от него лучи, падая на фотокатод, вызывают фотоэлектронный поток с последнего, действием которого вызывается флуоресценция экрана 9. На10

Госпланиздат

M 28338

Отв. редактор П. В, Никитин Техред А . И. Хрощ

Тип. «Печатный Двор», зак, ¹ 519, 15 — 525 блюдая на экране 9 изображение исследуемого светочувствительного материала, определяют наличие в нем механических и других дефектов.

Предмет изобретения.

Способ обнаружения дефектов в неэкспонированных светочувствительных материалах, например, фото- и кинопленках, отличающийся тем, что исследуемый материал просвечивают или освеща1от неактиничными, например, инфракрасными лучами при пропускании его через камеру, задерживающую все остальные лучи спектра, наблю, дают изображение материала, например, пленки, на экране фотоэлектронной трубки, флуоресцирующем под действием прошедших сквозь светочувствительный материал или отраженных от него лучей и определяют наличие механических и других дефектов в исследуемом светочувствительном материале.