Способ квалиметрии поверхностных слоев электропроводящих материалов

Способ квалиметрии поверхностных слоев электропроводящих материалов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П И С А Н И Е 111) 578559

Сотов Советских

Социалистических

Республик

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (б1) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 05.11.73 (21) 1967181/25-28 (51) л1. К 7 с G 01В 7 06

G 01М 27) 02 с присоединением заявки чо (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.10.77. Бюллетень ¹ 40 (45) Дата опубликования описания 14.11.77

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 620.179.14 (088.8) (72) Авторы изобретения

Л. H. Лариков и Ю. В. Корнюшин

Институт металлофизики АН Украинской ССР (71) Заявитель (54) СПОСОБ КВАЛИМЕТРИИ ПОВЕРХНОСТНЫХ

СЛОЕВ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ МАТЕРИАЛОВ

ЬД2 (<а), 1

Я ((О ) (О

Изобретение касается средств, не нарушающих структуры объектов контроля, и может быть использовано для контроля качества поверхностных слоев электропроводящих материалов.

Известен способ контроля качества (квалиметрии) электропроводящих материалов, заключающийся в том, что через определенный участок материала пропускают токи различных частот и по величине тока судят о ре- 10 зультатах контроля (1).

Однако достоверность контроля качества таким способом недостаточна, так как зависимость величины тока от электрофизических свойств определяется эмпирически для задан- 15 ной частоты тока.

Наиболее близким к изобретению является способ контроля качества диэлектрических слоев на изделиях из электропроводящих материалов, для чего контролируемую поверх- 20 ность контактируют с электродами, через которые пропускают токи различных частот, и по их параметрам судят о результатах контроля.

Однако достоверность контроля этим спо- 25 собом материалов без диэлектрика недостаточна. Полученные зависимости в этом способе неоднозначны в случае контроля поверхностных слоев электропроводящих материалов. ЗО

Цель изобретения — повышение достоверности контроля.

Для этого создают в поверхностных слоях распределенный прямоугольный контур тока так, что его ширина превосходит длину более чем в десять раз, определяют обобщенный параметр где R (e) — величина полного сопротивления на частоте <о;

AR (о) — изменение сопротивления прп изменении частоты от максимального значения то1 до минимального — то, измеряют частоту тока отз, на которой этот параметр отличается от своего значения на частоте от> на 5 — 20%, определяют второй обобщенный параметр сравнивают обобщенные параметры и по результатам сравнения судят о качестве поверхностных слоев.

Сущность способа з"ключается в том, что

На I<0IiTpo7npx e IbIÉ "1aTcpna;, на1 .ладыва1от два протяженных параллельных электрода, длина которых более чем в десять раз превышает расстояние между ними.

578559 гг

R (2) "з

R(») о г <"з

R (" г) / (" з) Формула изобретения

C.0,.òäвитсль А. Духаиии

Тсхрсд Л. Гладкова

Корректор Л. Орлова

Редактор О. Юркова

Заказ 2416/10 Изд. М 878 Тираж 907

НПО Государственного коз:i тета (о ..т ; д1ииистров СССР

iQ .,ела; ииобрстсиий1 и открь .тпй

113035, Москва, )K-35, 1заушская иаб., д. 4/5

Подписное

Типография, пр. Сапунова, 2

При этом создается прямоугольный контур тока, ширина которого более чем в десять раз превосходит длину. Электроды подключают к схеме измерения полного сопротивления на различных частотах тока.

Измеряют сопротивления на заданном минимальном со2 и максимальном в1 значениях частот й(о») и R((o>). Определяют изменение сопротивления для этого интервала ЛЛ (го) .

Затем измеряют частоту о», на которой обобщенный параметр

gRã („,),, г(г, ) отличается на 5 — 20 /о, определяют второй обобщенный параметр и затем сравнивают полученные обобщенные параметры d u h. Эти параметры корректируются с электрофизическими свойствами поверхностных слоев и их толщиной. По этим параметрам может осуществляться одновременный контроль несплошностей в поверхностных слоях и их толщины.

Способ квалиметрии поверхностных слоев электропроводящих материалов, заключающийся в том, что контролируемую поверхность контактируют с электродами, через которые пропускают токи различных частот, и по их параметрам судят о результатах контроля, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, создают

5 в поверхностных слоях распределенный прямоугольный контур тока так, что его ширина превосходит длину более чем в десять раз, определяют обобщенный параметр х ог (<„),„

Я (и,) где R (со) — величина полного сопротивления на частоте го;

ЛР(со) — изменение сопротивления при из15 менении частоты от максимального значения со1 до минимального о», измеряют частоту тока о», на которой этот параметр отличается от своего значения на частоте о» на 5 — 20о/о, определяют второй

20 обобщенный параметр сравнивают обобщенные параметры и по

25 результатам сравнения судят о качестве поверхностных слоев.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Городинский И. А. Магнитные и элсктри30 ческие методы испытания металлов. М., Госпланиздат, 1940, с. 15.

2. Авторское свидетельство СССР Х 284392, G 01г1 27/04, 1967