Устройство для обнаружения поверхностных дефектов металлизированных оснований резисторов

Устройство для обнаружения поверхностных дефектов металлизированных оснований резисторов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ п 590834

Союз Советских

Соииалистичесних

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.09.69 (21) 1360300/26-09 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.01.78. Бюллетень № 4 (45) Дата опубликования описания 13.02.78 (51) М. Кл. Н 01С 17/00

Государственный комитет

Совета Министров СССР ло лолам изобретений и открытий (53) УДК 621.396.692. .002.5 (088.8) (72) Автор изобретения

Я. А. Склярский, О. М. Тесеоглу и М. П. Чулок

Одесский завод сопротивлений (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ

ДЕФЕКТОВ МЕТАЛЛИЗИРОВАННЫХ ОСНОВАНИЙ

РЕЗИСТОРОВ

Изобретение относится к технологии радиодеталей, а именно к конструктивному выполнению устройства для обнаружения поверхностных дефектов металлизированных оснований резисторов.

Известны устройства для автоматического обнаружения поверхностных дефектов, содержащие сканирующий источник света и два датчика, подключенные к блоку сравнения, соединенному с исполнительным блоком механизма разбраковки.

Однако эти устройства не обнаруживают мелких дефектов металлического слоя, нанесенного на белое керамическое основание, вследствие того, что коэффициенты отражения света от металлического слоя и от основания незначительно отличаются один от другого.

Целью изобретения является создание устройства, обеспечивающего надежное обнаружение даже незначительных дефектов металлизированной поверхности.

Для этого используют источник света с поляризатором, а один из датчиков устанавливают в направлении падающего на основание светового потока и снабжают анализатором поляризации.

На чертеже изображена схема устройства.

Точечный световой поток 1, сформированный с помощью источника 2 света и конденсатора 3, пройдя через установленный после источника 2 поляризатор 4 и отразившись от прозрачной плоскопараллельной пластинки 5, попадает на поверхность исследуемого металлизированного основания 6 резистора. Первый отраженный световой поток 7, пройдя че5 рез пластинку 5 и анализатор 8 поляризации, через объектив 9 попадает на фотокатод датчика 10. Второй отраженный световой поток

11, отразившись от поверхности основания 6, через объектив 12 поступает на фотокатод

10 датчика 13, установленного под тем же углом а к оси основания 6, что и датчик 10.

Электрические сигналы с датчиков 10 и 13 поступают в блок 14 сравнения, подключенный к исполнительному блоку 15 механизма раз15 браковки (не показан).

В поляризованном свете дефекты металлизированного слоя основания 6 будут белыми на черном фоне слоя, вследствие того, что поляризованный свет, отразившись от металли20 зированного слоя, пройдя через анализатор 8, гасится, а световой поток, отраженный от основания 6, деполяризуется и не гасится анализатором. В то же время та часть отраженного потока, которая направляется на дат25 чик 13, характеризует дефект с точки зрения его отражатощих свойств в обычном свете.

Таким образом, устройство дает информацию о каждом дефекте по двум различным параметрам, что повышает надежность обна30 ружения дефектов.

По характеру электрических сигналов, сни590834

Составитель Э. Фридолина

Texpeд И. Михайлова Корректор Л. Орлова

Редактор Н. Суханова

Заказ 3326/14 Изд. ¹ 17о Тираж 995

НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, )К-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Типография, пр. Сапунова, 2 маемых с обоих датчиков как в отдельности, так и в виде суммы и разности, судят о наличии дефекта. Поскольку каждой группе однотипных дефектов соответствует определенная комбинация электрических сигналов датчиков, можно сортировать основания по виду дефектов. Суммирование сигналов обоих датчиков повышает чувствительность устройства к слабо выраженным дефектам и улучшается разрешающая способность.

Формула изобретения

Устройство для обнаружения поверхностных дефектов металлизированных оснований резисторов, содержащее источник света и два датчика, подключенные к блоку сравнения, соединенному с исполнительным блоком, отличающееся тем, что, с целью повышения

5 надежности обнаружения дефектов, перед источником света установлен поляризатор, датчики размещены под одинаковыми углами относительно оси контролируемого основания, а один из датчиков, для которого направление

10 падающего на него отраженного от основания светового потока совпадает с направлением светового потока от источника света, снабжен анализатором поляризации.