Способ измерения разности длин спектральных линий по спектро-фотограмме тваймана

Способ измерения разности длин спектральных линий по спектро-фотограмме тваймана

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Х 59683

Класс 42), 3„

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зарегистрировано в Бюро изобретенай Госплана при СНК СССР

Н. И. Бортников.

С11оо5 измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограмме Тваймана.

Заявлено 27 декабря 1939 года в НКВ аа 1"г т66

Опубликовано 30 апреля 1941 года. обладающих равным почерне

Известный метод логарифмического сектора в таком виде, какой был дан ему Твайманом, обладает недостатком, снижающим точность этого метода.

При измерении длины линий на спектрограмме определение концов линий представляет затруднения. Для избежания их обычно пользуются растром по способу Мертона, но это значительно усложняет анализ и в промышлен ности способ Мертона распространения не получил.

Б США пользуются измерительной лупой, у которой рядом со шкалой имеется изображение спектральной линии с отметкой того участка линии, на который нужно ориентироваться при измерении разности длин линий. Это приспособление значительно уменьшает погрешности определения разности длин линий. Однако желательно было бы достичь еще большей точности и объективности в определении разности длин спектральных линий.

Предметом настоящего изобретения является способ измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограмме Тваймана, по которому указанную разность определяют путем измерения разностей ординат участков линий, ни ем.

Для таких измерений рационально воспользоваться полуавтоматическим микрафотометром, дополнив его механизмом микрометренного перемещения рамки со спектрофотограммой с тем, чтобы можно было, перемещая рамку со спектрофотограммой, замерять положения участков линий, обладающи одинаковым почернением.

Щель фотоэлемента должна быть по высоте ограничена диафрагмой так, чтобы фотометрировался небольшой участок длины спектральной линии.

Тогда разности длин линий будут определяться путем нахождения участков линий с одинаковым почернением.

Здесь надо отметить, что для спектрального анализа, в конечном счете, нужны не длины линий, а их разности.

Потому следует находить не самые концы линий, а разность длин линий с почернениями, соответствующими области нормальных экспозиций.

При вышеописанном методе сочетания логарифмического сектора и микрофотометра устраняется основной недостаток, приводящий к погрешностям при обычном микрофотометрировании, по59683

Отв. Редактор П. В. Никитин

Тип. «Сов. печ.», М 66519. Зак.. Ь 3916 †4

Цена 35 кои

Госвлаииздат являющийся вследствие различного профиля спектральных линий.

С другой стороны здесь используются хорошие качества логарифмического сектора, по сравнению с клиновым ослабителем, позволяющие, в отличие от последнего, изготовить логарифмический сектор точно по расчету для получения определенной зависимости разности длин линий от концентрации определяемого элемента, и не имеющие вредной селективности в поглощении лучей. Зч и преимущества логарифмического сектора ранее не моглч быть использованы в полной мере, так как распространению метода логарифмического сектора препятствовали погрешности измерений разностей длины спектральных линий.

Предмет изобретения.

Способ измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограмме Тваймана, о т л и ч.а ю шийся тем, что указанную разность измеряют путем измерения разностей ординат участков линий, обладающих равным почернением.