Способ определения параметров дефекта

Способ определения параметров дефекта

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз е.оветскик

Социалистических

Республик (t i) 59 9 20 1 (61) Дополнительное к авт. санд-ву (22) Заявлено 251276 (21) 2434572/25-28

2 (51) М. Кл. с присоединением заявки ¹

С 01 N 27/86 (23) Приоритет (43) Опубликовано 250378Бюллетень № 11

{45) Дата опубликования описания 090378

Геетдеретееииыб иааитет

Вееете Миниетрае йййР ее ивлев изабретеиие

s етирытиб (5З) УДК 620.179.143 (088. 8) (72) Авторы изобретения

Б.М. Зайдель, Б.И. Колодий, А.A. Орловский, B.Â.ÏàHàñþê и A.ß.Òåòåðêî

Pl) Заявитель

Физико-механический институт AH CCP (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ IIAPANETPOB ДЕФЕКТА

Изобретение касается дефектоскопии методом вихревых токов и может быть использовано для определения параметров дефектов.

Известно определение глубины зале- 5 гания дефекта путем сравнения амплитуд сигналов на разных частотах (lj.

Этот способ предполагает наличие двух измерительных трактов, работающих на разных частотах и включающих в себя 10 высокочастотные генераторы. Аппаратура, реализующая этот способ, сложна в изготовлении и эксплуатации.

Ближайшим по технической сущности к изобретению является способ.опреде- !5 ления параметров дефектов, заключающийся в том, что возбуждают в контролируемом объекте электромагнитное поле, измеряют в результирующем поле дну иэ сс ставляющих аномального поля, представляют сигнал от этой составляющей в комплексной плоскости и определяют глубину залегания и эффективную величину дефекта соответственно по измерению угла наклона и размаха го-. 25 дографа; который получают при сканиРовании над дефектом 1.2 .

Для упрощения реализации способа на поверхности иэцелия определяют положение максимумов тангенциальноя и нормальной составляющих индукции аномального поля и по расстоянию между ними определяют глубину залегания дефекта, а эффективные размеры дефекта находят при известной глубине по величине максимальных значений составляющих аномального поля.

На фиг. 1 изображено устройство, реализующее способ определения параметров дефекта; на фиг. 2 показана зависимость составляющих магнитной индукции аномального поля дефекта от расстояния до дефекта.

Устройство состоит из генераторной катушки 1 и двух пар измерительных катушек 2,3 и 4,5 для измерения соответственно тангенциальной и нормальной составляющих индукции магнитного поля. Измерительные катушки расположены на прямой линии, проходящей через центр генераторной катушки симметрично относительно его с целью компенсации первичного поля при встречном соединении измерительных катушек, Генераторная катушка 1 подсоединяется к генератору 6 гармонических колебаний, à пара катушек 2.3, измеряющих тангенциальную составляющую индукции аномального магнитного поля. посред.твом переключателя 7 подсоединяется

599201

)(=

,-г, ЦНИИПИ Заказ 1400/35 . Тираж 1112

Подписное филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проек-.иая, 4 к милливольтметру 8. Сканируя катушками поверхность контролируемого изделия, Фиксируют точку (см.фиг.2), в которой наблюдают максимум сигнала

Фквивая а ), наведенного тангенииальной 5 составляющей индукции магнитного поляр .Для данной конструкции датчика таких точек две,используют одну из них.

Затем производят измерение нормальной составляющей, и фиксируют на поверх- 10 ности один из максимумов сигнала, наведенного этой составляющей (кривая ф ). Измеряют расстояние на поверхности между зафиксированными точками.

Умножая полученное значение расстоя- )5 ния t <, на коэффициент К, получают искомое значение глубины залегания дефекта и . Для определения коэффициента к постоянного для данного материала и частоты контроля, изготавливают прокладку иэ этого материала толщиной 41, кладут ее на контролируемое изделие и проделывают все описанные выше операции. для случая с прокладкой получают расстояние t . Из

Формулы 25 получают искомый коэффициент пропорциональности. При известной глубине залегания И и сигнале Е одной из пар катушек в точке максимума эффективный

1 размер дефекта Р определяют по упрощенной формуле

Р =Н Т

Для построения графика Н (и ) Используется ряд прокладок известной толщины из контролируемого материала и одну прокладку единичной толщины с отверстием единичного диаметра.

При реализации данного способа за счет измерения только амплитудных характеристик сигнала существенно упрощается аппаратура контроля.

Формула изобретения

Способ определения параметров дефекта, заключающийся в возбуждении электромагнитного поля в контролируемом объекте и измерении в результирующем поле аномального магнитного поля, отличающийся тем, что, с целью упрощения реализации способа, на поверхности изделия определяют положение максимумов тангенциальной и нормальной составляющих индукции аномального поля и по расстоянию между ними определяют глубину залегания дефекта, а эффективные размеры дефекта находят при известной глубине по величине максимальных значений составляющих аномального поля.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Авторское свидетельство CCCP

tt 191196, кл. g 01 Й 27/86, 1965.

2. Авторское свидетельство СССР

М 179070, кл. С 01 14 27/86, 1965.