Способ контроля качетсва откачки фотоэлетронных умножителей

Способ контроля качетсва откачки фотоэлетронных умножителей

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕ?ЕЛЬСУВУ (61) Дополните, ьное. к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.01.77(21) 243 9645/18 25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано, 15.04.78.Бюппетень ¹ 14

Союз Советских

Социалистических

Республик (11) 6П3023 (5l) М. Кл."

Н 0 1 J 3 9/О 2

Государственный KoloTBT

Саввта Мнннстрав СССР аа делам нзабретеннй н аткрытнй (45) Дата опубликования описаниФ 27.03.78 (72) Авторы изобретения

В. А. Гаванин, И. А. Прагер и Т. А. Трофимова (71) Заявитель (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОТКАЧКИ

ФОТОЭЛЕКТРОННЫХ УМНОЖИТЕЛЕЙ

Ьравнивают со значением порога чувствител ности, измеренным при коэффициенте усиления второго динода, составляюшем 0,1-0,5 от максимального.

В основу предлагаемого способа контроля положены следующие физические явления.

Для идеального ФЭУ, в котором отсут ствуют такие побочные явления, как автоалектронная эмиссия, газоразрядные процессы, ионная и оптическая обратная сязь, пробои и т.д.,известны соотношения определяющие вклад, который вносит во флюктуацию вторично-амиссионного усиления изменение коэффициента вторичттой эмиссии второго диода, Порог чувствительности и (пм/Г ц р) идеального ФЭУ определяется соотношением

2e3 $ (a+ s) Феи Фк где 1фецн „=соответственно интегральная чувствительность фотоумножителя и фоп к»тода;

J- ток на выходе ФЭУ; заряд электрона;

Изобретение относится к области электронного приборостроения, в частности к способу изготовления и контроля качества откачки фотоэлектронных умножителей (ФЭУ), Известей способ контроля качества от в качки ФЭУ по предельному вакууму a èçãîтовленным ФЭУ P), Однако такой способ не определяет относительный вклад давления щелочных металлов, которые определяют параметры и ста- !О бильность работы ФЭУ.

Известен способ контроля качества откачки ФЭУ, включаюший измерение порога чувствительности ФЭУ при постоянном коэффициенте усиления умножительной системы l2).!а

Однако этот способ не позволяет разде» лить эффекты, связанные с процессами алектронной амиссии, и эфекты, связанные с ка-. чеством откачки ФЭУ, т. е. не позволяет осуществить точный контроль качества от- N качки ФЭУ. ,Оля повышения точности контроля по предлагаемому способу, значение порога чувствительности, измеренное при максимальном коэффициенте. усиления второго динода, (53) УДК 621.383. 292 (088.8 ) 603023

Составитель Ю, Кутенин

Редактор Л. Батонова Техред Е. Давидович Корректор А. Власенко

Заказ 1865/49 Тираж 960 Подписное

ЦНИИПИГосударствениого:комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4

af полоса прону<:канин усилителя, которая в дальнейшем принимается равной 1; (1 В)-фактор шума, учитывающий пополнительные шумы, вносимые процессом вторично-эмиссионного умножения, Относительное изменение пороговой чувствительности 2

-„Ц в случае- идеального ФЭУ (за сче г изменения коэффициента усиления второго динода).

Если в условиях реального ФЭУ изменить коэффициент сбора электронов с первого на второй динод, т. е. коэффициент усиления второго пинода, попдерживая при этом. постоянное значение коэффициента усиления всего ФЭУ (путем незначительного измнения напряжения питания), то при этом меняется число электронов, участвующих в ионизации и возбуждении остаточных щелочных металлов и газов, количество ко торых определяется качеством откачки.

Если при сравнении значений пороговой чувствительности будет установлена значительная разница, не соответствующая изменению усиления второго динода, это ука жет на наличие в ФЭУ остаточных щелочных металлов и газов, Таким образом, сравнивая различные образцы ФЭУ опнотицной конструкции попороговой чувствительности, т е. по периметру, зависящему от ионизации и возбуждения остаточных металлов и газов, изменяя коэффициент усиления второго динода, можно контролировать качество откачки приборов.

Пример. Контролируют качество откачки партии ФЭУ. Для этого измеряют значения порога чувствительности ФЭУ при постоянном коэффициенте усиления умножи-; тельной системы, при максимальном коэффициенте усиления второго динода и при усилении второго пинопа, составляющем

0,1-0,5 от максимального.

Изменение коэффициента усиления второго пинода осуществляют при помощи магнитного поля или изменением питающих напряжений, или тем и другим опновременно.

Затем измеренные значения пороговой чувствительности сравнивают; чем меньше разность полученных значений, тем выше качество откачки, Критерием качества является разность 0 измеренных пороговых значений чувствительности, При значениях (F — Г ))7

2 качество откачки ФЭУ неудовлетворительное.

Предлагаемый способ контроля позволяют оптимизировать технологический процесс

15 откачки ФЭУ, повысить процент выхода годных изделий и улучшить такой важнейший параметр ФЭУ, как пороговая чувствитель ность, S

20 Формула изобретения

Способ контроля качества откачки фотоэлектронных умножителей, включающий . измерение порога чувствительности фотоэлект» ио ронных умножителей при постоянном коэффициенте усиления умножительной системы, отличающийся тем, что,сцелью повышения точности контроля, значение по30 рога чувствительности, измеренное при . максимальном коэффициенте усиления второго динода, сравнивают со значением порога чувствительности, измеренным при коэффициенте усиления второго динода, составляо35 шем 0„1-0,5 от максимального.

Источники информации, принятые во внимание при эксчертизе: . l. Гартман В. и Бернгард Ф. "Фотоэлектронные умножители, М.Л., Госэнерго® издат, 1961, с. 51 52.

2, Соболева-Н, Н.;и др."Фотоэлектронные умножители, М., Наука, 1965, с. 366-377.