Способ измерения толщины крупногабаритных неферромагнитных изделий

Способ измерения толщины крупногабаритных неферромагнитных изделий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О и и C À., Ö Е

ИЗОБРЕТЕпЙЯ

/ (1 ) 619782

Сф4оз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (63) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 071с. 6 (23) 2410049/25-28 с присоединением заявки УВ

{23) Приоритет .

{43) Опубликовано 150828,Бюллетень Ж Зр (45) Дата опубликования описания рЗр778 (5Ö М. Кл.

Ст 01 .В 7/06

Государственный комитет

Совета Мннистров СССР но делам изобретений н открытия (5З) УДК 621.317;

:531.717. .11(088,8) (72) Авторы изобретения

ВХ. БрандорФ и В.Л. Котляров

Львовский лесотехнический институт и Львовский ордена Ленина политехйический институт (7() Заявители (54 1 СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ КРУПНОГАБАРИТНЬ Х

НКЕКРРОМАГНИТНЫХ-ИЗДКЛИЙ. лия f1) Изобретение относится к области неразрушающего контроля изделий и может быть использовано для измерения толщины крупногабаритных иэделий.

Известен способ измерения толщины крупногабаритных неферромагиитиых изделий, заключающийся в том, что на одной поверхности изделия размещают источник основного магнитного поля, например кольцевую рамку с током, с противоположной стороны изделия на расстоянии, равном максимальному значению измеряемой толщины, устанавливают измерительный преобразователь, например индукционный, соосно источнику основного магнитного поля размещают источник компенсирующего магнитного поля, перемещая измерительный преобразователь перпеидикулярио поверхности изделия, находят точку, в которой результирующее магнитное поле равно нулю, измеряют с помощью индикатора линейных величин расстояние между измерительным преобразователем и поверхностью изделия и пО разности между максимальным значением измеряемой толщины и измеренным расстоянием судят о толщине изде- .

Недостаток известного способа заключается в сложности процесса измерения, что предопределяется наличием проводной связи между источниками поля, располагаемыми но разные стороны крупнопабаритного объекта.

Цель изобретения — упрощение процесса измерения.

Цель достигается тем, что по предлагаемому способу источник компенсирующего магнитного поля располагают с той же стороны иэделия, что н источник основного магнитного поля на фиксированном расстоянии от него. то - . На чертеже представлено устройст. во для реализации предлагаемого способа.

Устройство содержит коаксиально и жестко связанные источник 1 основГ ного магнитного поля н источник 2 комПенсирующего магнитного поля, расположенныЕ на одной поверхности изделия 3 и включенные встречно, и измерительный преобразователь 4, расположенный с противоположной стороны изделия 3 коаксиально с источниками.

Толщина изделия измеряется следующим образом.

Измерительный преобразователь 4 перемещают перпендикулярно понерхнос619782

Формула изобретения

Составитель Н. Кесоян

Редактор В Блохина Техреду Э.Чужик Корректор С. Гарасиняк

Заказ 4491/37 Тираж 872 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва Ж-35 Раушская наб. д. 4 5

Филиал ППП "Патент, r. Ужгород, ул. Проектная, 4 ти иэделия 3 до положения, когда сиг- нал на его выходе станет равным нулю, что свидетельствует а нулевом значении.полн источников в точке расположения преобразователя. Индикатором линейных величин (не показан) измеряют расстояние от преобразователя 4 до ближайшей к нему поверхности изделия

3. Величину измеренного расстояния вычитают из максимального значения измеряемых толщии, которые .для этой системы источников поля определяются 10 их геометрией и отнселением ампервитков, и получают значение измеряемой толщины иэделия.

Таким образам, оба источника поля располагаются на одной поверхности у5 иэделия, и проводная связь между элементами толщиномера, располагаемыми ио разные стороны крупногабаритного изделия, отсутствует, что упрощает процесс измереиия. 20

Способ измерения толщины крупногабаритных неферромагнитных изделий, эаключаизяийся в том, что на одной поверхности изделия размещают источник основного магнитного поля, например кольцевую рамку с током, с противоположной стороны изделия на расстоянии, равном максимальному значению измеряемой толщины, устанавливают измерительный преобразователь, например индукционный, соосно источнику основного магнитного поля размещают источник компенсирующего магнитного поля перемещая измерительный преобразователь перпендикулярно поверхности изделия, находят точку, в которой результирующее магнитное поле равно нулю, измеряют с помощью индикатора линейных величин расстояние между измерительным преобразователем и поверхностью изделия н по разности между максимальным значением измевяемой толщины и измеренным расстоянием судят о толщине изделия, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью упрощения процесса измерения, источник компенсирующего магнитного поля располагают с той же стороны изделия, что и источник основного магнитного поля на фиксированном расстоянии от него.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

l. авторское свидетельство СССР

В 352114,кл. С 01 В 7/06, 1969.