Способ измерения толщины слоев многослойных изделий

Способ измерения толщины слоев многослойных изделий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П И САНИE

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Соаетсимх

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 0301.77 (21) 2440605/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 150878,Бюллетень Ж (51) N. Кл.

0 01 В 7/06

С, 01 И 27/86

Государственный комитет

Совета Министров СССР но делам изобретений и открытий (53) УДК 620,179.14 (088.8) (45) Дата опубликования описания 0307.78

B.Ã. Брандорф, A.Í. Ермаков, Ю.Н. Кизилов и И.K. Урумов (72) Авторы изобретения

Львовский лесотехнический институт

P1) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЦИНИ СЛОЕВ слоев t 2j .

Изобретение относится к неразрушающему контролю изделий и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных объектов.

Известен вихретоковый способ б измерения толщины .покрытий н а электропроводящем основании, заключающийся в том, что о толщине контролируемого покрытия судят по сигналу вихретокового накладного преобразователя,1О установленного на поверхности контролируемого покрытия (11 .

Недостаток известного способа заключается в том, что он не позволя ет измерять толщину диэлектрического покрытия на диэлектрическом основании.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому результату является способ измерения толщины слоев многослойных изделий, заключающийся в том, что при изготовлении изделия между его слоями размещают электропроводящие межслойные элементы, накладной индуктивный преобразователь располагают на одной из поверхностей изделия, и по величине сигнала этого преобразователя судят о измеряемых толщинах

Однако известный способ не позволяет измерять толщину покрытий с необходимой точностью, так как при использовании его величина сигнала преобразователя зависит от электрофизических свойств межслойных элементов. Кроме того, при увеличении числа слоев, подлежащих контролю, точность измерения известным способом резко падает.

Цель изобретения — повышение точности измерений.

Цель достигается тем, что по предлагаемому способу в качестве межслойных элементов используют систему линейных проводников, через которые поочередно пропускают переменный ток.

На чертеже представлено устройство, поясняющее предлагаемый способ.

Устройство содержит источник 1 переменного тока, соединенный через коммутатор 2 с линейными проводниками 3,. заложенными между слоями 4, и накладной индуктивный преобразователь 5.

Толщина слоев измеряется следующим образом.

Устанавливают преобразователь 5 на поверхность контролируемогс изд»619763

Формула изобретения

Составитель П. Шкатов

«Редактор Т. Блохина Техред > - Богдан Коррек-.ор C . .Гарасин як

Заказ 4491/37 Тираж 873 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений н открытий

113035 Москва, -35с Раушская наб.L д. 4 5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ия 6 над проводником с током р коммутатор ставят в положение a., измерг а: вольтметром 7 ЭДС преобразователя 5, з ..личина которой пропорциональна индукции поля от тока в проводнике, с последняя однозначно зависит от толщины Т„„ „переключают коммутатор в положение "4" н преобразователем измеряют ЭДС в приемной катушке от тока в проводнике, которая пропорциональна толщине (T „+ Т ). Анало-, 10 гичные операции выполняют последовательно до положения (Х -1) коммутатора1 ЭДС в приемной катушке от тока в проводнике пропорциональна толщи(" зк+ 1 Ьх,+ ° -.t.. "iк+...-Т(1qx), l5 толщина -го слон определяется разностью толщин слоев и (i -1) сло ев, т.е. ,,. =(т,„.т,„.. т;„ "(,-1). 1)

С помощью предлагаемого способа можно измерять толщину слоев многослойных объектов не только диэлектриков, но. и из любых неферромагнитиых материалов. Возможен контроль толщины слоев неферромагнитных металлов и сплавов в сочетании с диэлектриком. Кроме того, для измерения толщины любого из (Е-1) слоев нет,необходимости в двухстороннем досту пе.

Способ измерения толщины слоев многослойных иэделий, заключающийся в том, что при изготовлении изделия между его слоями размещают электропроводящие межслойные элементы, накладной индуктивный преобразователь располагают на одной из поверхностей изделия, н по величине сигнала этого преобразователя судят о измеряемых толщинах слоев, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, в качестве межслойных элементов используют систему линейных проводников, через которые поочередно пропускают переменный ток.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Справочник под ред. Самойловича Г.С. Неразрушающий контроль металлов и иэделий, М., Машиностроение, 197б, с. 250.

2. Справочник под ред. Самойловича Г.С. Нераэрушающий контроль металлов и изделий, М., Машиностроение, 1975, с. 250.