Негативный фоторезист
Иллюстрации
Показать всеРеферат
Оп ИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЮТВДЬСТВУ (11) 622035
Союз Соввтсних
Соцмаиистичесних
Республин (61) Дополнительное к авт. свил-ву— (22) ЗаЯвлено31.07.75 (21)2165510/23 04 с присоединением заявки №(23) Приоритет— (43) Опубликовано30.08 78 Бюллетень ¹ 32 (45) Дата опубликования описания 17.07.78 (51) M. Кл.
Ci 03 С 1/(38
Гооудерствениый комитет
Совета Ниииотрав СССР оо делам изобретений и открытий (53) УДК 771.5 (088.8) (72) Авторы изобретения
Т. A Юрре, А. В. Ельцов, В. П. Душица, ll. H. Орлова и E. Г. Гук
Ленинградский ордена, Трудового Красного Знамфнй технологический институт им. Ленсовета (71) Заявитель (54) НЕГАТИВНЫЙ ФОТОРЕЗИСТ. Изобретение относится к негативным фоторезистам, которые могут найти применение в полупроводниковой технике.
Известен негативный фоторезист, включающий ароматические бисазиды в качестве светочувствительной компоненты, полимерное связующее - каучуки, содержатцие двойные связи, и растворитель
Такой фоторезист позволяет получать при экспонировании через фотошаблон нужный рельеф. Сшивку полимерного слоя обеспечивают ароматические бисазиды, но этим их функции ограничиваются, Ведение в светочувствительную компоненту элемен» тов (, группы. (A ) открывает возможности полифункционального использования фоторезиста.
Однако этот фоторезист имеет низкую адгезию к подложке и недостаточную кислотостойк ость . 20
Известен также негативный фоторезист включающий мышьяк - содержащий арилазид - lт - -арсено-(тт -азидобензилиден)ашлин или Q-арсено-(1 1 -азидо)-бензол. или бис-((Ц -азидофенил)- мышьяковую кислоту, полимерное связующее— циклизованный полизопреновый каучук, и растворитель (2 ., Однако такой фоторезист не обеспечиseer высокой разрешакнцей способности и достаточной адгезии слоя к подложке, кроме того, такой слой недостаточно кислотостоек.
С целью увеличения адгезии к подложке и разрешающей способности предлагается негативный фоторезист, содержащий в качестве полимерного связующего эпоксидированный циклокаучук или полиуретановый каучук при следую)цем количественном соотношении ингредиентов, sec,%:
Мышьякосодержаший арилазид 0,05-0, 30
Зпоксидированный циклокаучук или полиуретановый каучук 9,9-10, 1
Растворитель Остальное
Предлагаемый негативный фоторезист позволяет одновременно с получением рельефа при фотосшивке полимера легиро622035
Таблица 1
Содержание (вес.%) в составе, hb .ф
Компонент.Q -Арсено-(3ч азидобензнлиден)анилии
И-Арсено-(g -азидо)-бензол
Бис-(:И азидофенил)-мышьяковая кислота
Эпоксиди ованный циклоеаучук
Полиуретановый каучук
СХУ-50
4 -Ксилол
Ацетон
0,05
0,175
0,175
100
10,000
Юа
Остальное
Остальное
Остальное
lbua состава Ж 1, 3 проявитель О-ксилол; для % 2 - ацетон. Содержание эпоксигрупп 3,5%.
45 Таблица2
Разрешающая способность, лин/см
Адгезия,к различным подложкам
400
1 50-200
Фотолитография на
QiO, 5 0, 9i — полированный
Возможна фотолитография на що
Йиэлектрическая прони, цаемость пленки
2,0-2,5
4,5 55
3 вать полупроводниковую (8(нли Qg ) подложку мышьяком для создания РП - переходов в полупроводнике, поэтому в обработке полупроводниковых пластин исключается операция травления, дчющая наибольший процент брака при изготовле- нии полупроводниковых элементов.
Способ получения состава фоторезиста заключается в следующем.
Полимер, исполызуемый в качестве
10 пленкообразующей компоненты фоторезиста, растворяют при перемешивании в светочувствительном растворителе при КОМНаТ ной температуре. B раствор полимера, защищенный от действия света, добавляют >5 светочувстви.юльные мыщьякосодержащие арилазиды. В табл. 1 приведен составсветочувствительной композиции.
Светочувствительный состав наносят иа подложку центрифугиоованием, сушат о при 60 С, облучают через диапозитивный монтаж УФ-лучами (лампа. ДРШ-50).
После засветки светочувствительный слой
4 проявляют обработкой подходящим растворителе м.
В табл; 2 приведены физические свойства предложенного фоторезиста в cpa »» ненни с известным.
Составы испытывают в качестве фото резистов - диффузантов мышьяка, Фоторезист наносят на центрифуге на кремниевые пластины р-типа, сушат и экспониру ют в обычных условиях. Диффузию из фоторельефа проводят на воздухе при о
1250 С. В результате диффузии получают
P-h -переходы, имеющие большое время жизни неосновных носителей, и вольтамперные характеристики, близкие к теоре тическим. Зти переходы одинаковы для всех cocrahoa N 1-3, которые имеют одинаковые свойства. Их разрешакмцая способность составляют 400 лин/см возможно проведение фотолитографии на шлифованной поверхности кремния, составы обладают высокими диэлектрическими свойствами, для полиуретанов 3,0-3,5, а для эпоксидированного циклокаучука
2,0-2, 5.
622035
Зпоксидированный пиклокаучук или полиуретановый каучук
Растворитель
9,9-10, 1
Остальное.
Формуле изобретения
Негативный фоторезист, включаюший мьппьяксодержаший арилазид, полимерное связуюшее и растворитель, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что, с целью увелачения адгезии к подложке и разрешаю5 шей спосо ности фоторезиста, в качесгве полимерного связуюшего он содержит эпоксидирова..ный циклокаучук илн полиуретановый каучук при следуюшем соотношении компонентов, вес.%:
Мышьяксодержвший арилазид Оу05-0,30
Источники информапии, принятые во внимание при экспертизе:
1. Патент CllJA N9 3075950, кл. 96-48, 1963
2. Патент, CGlA % 3679670, кл. 96-48, 1972, Составитель B. Матросов.
Редактор В. Мирзвджанова ТехредЕ. Давидович: Корректор С. Шекмар
Заказ 5007/6 . Тираж 564 Подписное
UHHHllH Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
1.13035, Москва, Ж 35, Раушская иаб., д. 4I5
Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 3