Устройство для измерения сопротивления проводящих пленок
Иллюстрации
Показать всеРеферат
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик (-< <) б 24 1 7 7К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 060477 (Я) 2472336/18-21 (Я) N. кл.
Cj 01 2 27/02 с присоединением заявки %
Государственный комитет
Совета Министров СССР оо аелам изобретений и открытий (5З) УЛК 681. 128.6 (088. 8) (43) Опубликовано 150978. бюллетень № 34 (45) Лата опубликования оансаиия 31,07.78 (72) Авторы и б е ения л. N. лыньков, B. В. соловьев, В. N. паркун и Н. Н. Ворозов
Минский радиотехнический институт (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЯ
ПРОВОДЯ1\ИХ ПЛЕНОК
Изобретение относится к области измерения электрических переменных величин и может быть использовано, например, в микроэлектронике для измерения сопротивления проводящих пленок в процессе изготовления интегральных микросхем.
Известно устройство для измерения сопротивления проводящих пленок, состоящее из диэлектрической подложки с адгезионным подслоем металла и расположенными на нем токоведущими электродами, соединенными с измерительной схемой (1) .
В процессе осаждения на токоведущие электроды тонкой проводящей пленки контролируется электрическое сопротивление осаждаемой пленки, Однако в результате перегибов осажденной пленки на границе токоведущих электродов в этих местах возникают механические напряжения и неравномерность толщины осажденной пленки по длине, что искажает истинное значение сопротивления пленки и снижает точность измерения сопротивления.
Целью изобретения является повышение точности измерения сопротивления проводящих пленок.
Это достигается тем, что между токоведущими электродами компланарно с ними размещеи слой диэлектрика.
Осаждаемая поверх токоведущих электродов устройства проводящая пленка не имеет перегибов, равномерна по толщине, вследствие чего точность тантала, ниобив и нихрома повьатается на 50%.
На чертеже показано предлагаемое устройство для измерения сопротивления проводящих пленок, разрез. устройство содержит ситалловув подложку i, а на ней — адгезиониый подслой титана 2 с токоведущими алквтиниевыми и никелевыми электродами 3 и
4, соответственно между которьвчи компланарио с ними размещен слой диэлектрика 5 окиси алюминия. устройство работает следукщим образом.
На поверхность токоведущего элеистрода 4 и слоя диэлектрика 5 осаждается тонкая пленка металла, чапример тантала, ниобия или нихрома. Токоведущий электрод 4 в процессе осаждения пленки металла соединен с измерительной схемой, например с циФровым омметром, в результате чего осуществляется контроль толщины и измерение
624177
Формула изобретения
Составитель Jo Герасичкин редактор Т. Янова Техред К. Раврон Корректор A. Кравченко
Заказ 5177/36 .ЦНИИПИ
Тираж 1112 Подписное
Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
113035,Москва, Ж-35, Раушская наб,,д. 4/5
Филиал ППП Патент, г. ужгород, ул. Проектная, 4 сопротивления осаждаемых металлических пленок. устройство для измерения сопротивления проводящих пленок, включающее в себя диэлектрическую подложку с адгезионным подслоем металла и расположенными на нем токоведущими электродами, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения, между токоведущими электродами компланарно с ними размещен слой диэлектрика.
Источники инФормации, принятые во внимание при экспертизе:
1. Авторское свидетельство СССР
М 386350, кл. (01 н 27/00, 10.07.70.