Способ контроля размеров и обнаружения поверхностных дефектов в изделиях

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

И 62465

Класс 42к, 20аа, 42Ь, 12а»

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

С. И. Катаев, Г. А. Левин и P. А. Варитов

СПОСОБ КОНТРОЛЯ РАЗМЕРОВ И ОБНАРУЖЕНИЯ

ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ В ИЗДЕЛИЯХ

Заявлено 19 марта 194! г. за _#_o 30537!

Предметом изобретения является способ контроля размеров и обнаружения поверхностных дефектов в изделиях, с целью Нх автоматической выбраковки (при наличии трещин, раковин, вмятин, при неточных размерах, неправильной конфигурации и т. д.).

Сущность способа заключается в том, что сравнение исследуемой детали с эталонной осуществляется при помощи бегущего луча, методами, применяемыми в телевидении.

Для этого применяют телевизионный передатчик с так называемым бегущ им лучом, включающий: кинескоп . -флуоресцирующим экраном, выпрямителем и генератором токов развертки, в совокупности с объективом, фотоэлементом и усилителем. Однако в отличие от передатчика общеизвестного типа, на пути бегущего луча от кинескопа до изделия поставлена специальная призма, склеенная из двух частей, а параллельно фотоэлементу включен второй фотоэлемент таким образом, что токи обоих фотоэлементов протекают через общее сопротивление в противоположных направлениях. В одно гнездо закладывают исследуемое изделие, а в другое гнездо — его стандартный полноценный образец. Световой поток, идущий от экрана через объектив, разделяется в склеенной призме на два совершенно одинаковых потока. Это разделение происходит благодаря тому, что обе призмы склеены не по всей поверхности, а лишь вдоль узких полосок, образующих собой своего рода решетку, обладающую в среднем коэффициентом отражения порядка 0,5. Отраженный от этой решетки свет фокусируется на образце совершенно так же, как остаточный поток, проходящий через призму, фокусируется на изделии.

Таким образом, при нормальной работе трубки и при полной одинаковости деталей и фотоэлементов, расположенных одинаковым ооразом по отношению к деталям, результирующий ток в сопротивлении оказывается равным нулю. Но как только на место изделия попадет нестандартный экземпляр его, отличающийся от стандартного образца цветом, формой или каким-либо дефектом поверхности, так тотчас же баланс токов, протекающих через сопротивление, нарушится, Возник№ 62465 нут импульсы напряжения, которые усилятся затем усилителем и приведут к срабатыванию электромагнита сбрасывателя, отбрасывающего неполноценное изделие в сторону брака.

Ввиду полной осуществимости требующегося для этих целей телевизионного передатчика с бегущим лучом на четкость порядка 500 и более строек, получается возможность осуществления браковки изделия, дефекты поверхности которых измеряются площадью порядка чеS тырех миллионных долеи от площади проекции всего предмета

500где S — площадь проекции предмета.

При реализации устройства в качестве фотоэлементов целесообразно применить фотоэлектронные умножители, что упрощает схему усилителя.

Склеенные призмы могут быть также с успехом заменены решеткой с поверхностным отражением.

Чтобы решетчатая структура такого зеркала не приводила к заметной модуляции светового пучка при его развертке, эту решетку следует помещать в непосредственной близости от объектива. При этом решетка не будет давать на детали тени, а будет действовать, как апертурная диафрагма.

Предмет изобретения

Редактор B. Н. Погоржельский Техред А. А. Кудрявицкая Корректор Савельева

Подп. к печ. 15/1 — 62 г. Формат бум. 700(108 /и

Зак. 3394/10 Тираж 200

ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6

Объем 0,18 изд. л.

Цена 5 коп.

Типография, пр. Сапунова, 2.

Способ контроля размеро в и обнаружения поверхностных дефектов в изделиях путем:сравнения исследуемой детали с эталонной, о тл ич а ю шийся тем, что исследуемое и эталонное изделия одновременно освещают бегущим лучом, который предварительно разделяют при помощи приспособления по типу призмы или решетчатого зеркала на два отдельных луча, один из которых предназначен для обогащения поверхности контролируемого, а другой — эталонного изделия с той целью,. чтобы можно было обнаружить наличие расхождения размеров, либо дефекта, по разности фототоков двух дифференциально включенчых фотоэлементов, освещенных лучами, отраженными от поверхности эталонного и исследуемого изделий.