Способ измерения эллиптичности шариков

Способ измерения эллиптичности шариков

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СССР

Класс 42b, 8„„ фе 63О59

ОЛИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зсрсгггс у ро ано в Бюро ивобрстениб Госнгана нри CHIC СССР

Б""g 1.

1. с 4 Е11 (,".Ц

БИЮЛ1;Л, -., Ю В Коло иийцев

Способ измерения эллиптичности шариков

Заявлено 20 июня 1941 года в Иаркомвооружения 3a X 1432 (313308) Опубликовано 31 января 1944 года

Как известно, испытание шариков на эллиптичность производится измерением их диаметров с помощью микрометра, оптиметра и т. п. приборов. Однако, величина эллиптичностн редко превышает несколько десятых микрона и эти приборы оказываются недостаточно чу вствительнымн. Кроме того результаты измерения сильно искажаются из-за наличия случайных пылинок или забоин на испытуемой поверхности, а также вследствие температурных воздействий.

Предметом изобретения является способ измерения эллиптичности шариков путем сравнения их поверхностей с эталонными на интерферометре сравнения типа Твайсмана.

Оптическая схема интерферометра для измерения эллиптичности шариков представлена на чертеже, где обозначены: Q — лампа накаливания, 1 — конденсорная линза, Т— диафрагма с круглым отверстием, К вЂ” плоское зеркало, Oi и О.—

o стронОкические ооъективы, Sg1, S2 -, Ъя и $и, 34я, 34з — плоские зеркала, L, L4 и L, L4 — склеенные линзы, М вЂ” две склеенные плоскопараллельные пластины с полупрозрачным слоем серебра между,ними, R — испытуемый шарипа. R= и

R4 — сферические зеркала, 0 — окуляр. Выходящий сиз объектива Oi параллельный пучок лучей разделяется пластинкой М на две части. Из каждой части вырезается четыре узких пучка %, N, N;, N4 и Ni, N, Ыя, N4, причем пучки N, N4, Хз, и N4 показаны на чертеже, а оси остальных пучков лежат в плоскости, перпендикулярной чертежу. После отражения ог сферических .поверхностей .все пучки идут обратно TIQ прежнему направленп1о и собираю|ся объективом 0=» в фокальной плоскости окуляра О . Установку собирают так, чтобы пучок

N4 интерферировал с пучком N i, пучок Х. — с .пучком N2 и т. д.

Четыре интерференционные картины наблюдают на поверхности объектива 04 непосредственно глазом (убрав окуляр О и помести глаз на его место) или с помощью телескопической лупы.

Юстировкой интерферометра добиваются того, чтобы сири испытании заведомо идеального шарика

«4 б3059

«г,з г я /, l,; ! (!, Отв. редактор Я. Л. Л!п.галлов, к пос

Госпла пздат Тпп. Госп IAHI<3дата, и,. Воровского, К"„Ióãа Л!О!!80. Зак. 20! (качество этого шарика легко проверить, поворачивая его вокруг вертикальной оси) разность хода для всех четырех пучков была равна нулю, что проверяется по появлению нулевой белой полосы в пентре каждой интерференционной картины. Если после этого мы будем испытывать шарик эллиптический, то при нълевой разности хода, наJ

I пример, для пар пучков Х вЂ” 5,, и

N.1 — N4 разность хода пучков1 Х1—

Nl и1 N3 — Ма будет отличной от нуля и соответству1ощHp н левые интерференционные полосы окажутся смещенными от центра поля зрения. Измерив это смещение и выразив его в ширине полос (как известно, смещение по",сс На ширину одной полосы соответствует изменению разнюсти хола па 0,25—

0,3,), мы легко сможем измерить эллиптичность шарика с точностью до 0,1 « — .точность, ед1ва-ли достижимая какигм-нибудь другим, не иilтерференционным, методом.

Предмет изобретения

1. Способ измерения эллиптичности шариков, отличающийся тем, что шарик номе!па!от в интерферометр сравнения типа Твайма1на, снабженньш двумя парами с1ферически1х эталонных поверхностей, отраженные которыми световые волны интерферируют с волнами, отраженными диаметрально противоположно расположенными в двух взаимоперпендикулярных направлениях участками поверхности шарика, давая в поле зрения интерферометра четыре системы интерференционных полос, с целью изме1зения разности диаметров шарика пепосредствен110 по смещению пнтерферепционных полос в поле

ЗРЕH I I H.

2. Прием осуществления способа и. 1, отличающийся тем, что ивтерферометр предворительно юстирует пю эталон1ному шарику на совпадение нулевых интерференционных полос с центром поля зрения, а измерение разности диаметров испытуемого шарика производят путем отсчета смещения из центра поля зрения нулевых интерференционпых полос.