Способ измерения световой характеристики вакуумных фотоэлектронных приборов

Способ измерения световой характеристики вакуумных фотоэлектронных приборов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЪСТВУ

Союз Советекик

Социалистических

11еспублик,н1> 632007 фи // (51) М. Кл.

Н 01 J 9/42 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 06.01.75(21) 2093571/18-25 с присоединением заявки №вЂ”

Государственный комитет

Совета Министров СССР но делам иаобретений и открытий

/ (23) Приоритет— (43) Опубликовано 05.11.78. Бюллетень № 41 (45) дата опубликования описания10.1178 (5З) УДК

621.383,292 (088.8) (72) Авторы изобретения

В.Л.Буряков, В.М.Грачев и О.В.Козлов (71) Заявитель (5 4 ) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СВЕТОВОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ

ВАКУУМНЫХ ФОТОЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ

Изобретение относится к области электронной техники может быть использовано для измерения световых характеристик и предела линейности вакуумных фотоэлектронных приборов.

Известен способ измерения световой характеристики фотоэлектронного прибора, основанный на освещении прибора световым генератором и регистрации выходного сигнала (lj .

Этот способ предусматривает определение предела линейности в условиях квазистатического режима работы, когда выходной ток фотоэлектронного прибора мало изменяется за время пролета электрона между, электродами.

Описанным способом невозможно измерить реальную световую характеристику при работе прибора в динамическом режиме, Известен также способ измерения световой характеристики .воздушных фотоэлектронных приборов путем осве 25 . щения фотокатода световым импульсом и осциллографирования импульсов выходного тока (2). Этот способ также не позволяет определить световую характеристику в динамическом режиме работы прибора.

Целью изобретения является определение световой характеристики в динамическом режиме работы.

Указанная цель достигается тем, что фотокатод освещают световым импульсом экспоненциальной формы с интенсивностью, обеспечивающей ограничение выходного импульса прибора на восходящем экспоненциальном участке светового импульса, и по осциллограмме импульсов тока строят в полулогарифмическом масштабе световую характеристику.

Способ измерения основан на использовании начального участка светового импульса малой длительности. Если интенсивность светового импульса достаточно велика, чтобы ток фотоэлектронного прибора на начальном участке светового импульса достиг своей предельной величины, ограничиваемой объемным зарядом,то осциллограмма тока фотоэлектронного прибора, измеренная за один световой импульс и построенная в полулогарифмическом масштабе, будет представлять собой световую характеристику фотоэлектронного прибора в динамическом режиме работы.

Примером реализации способа может служить измерение световой характе632007

Формула изобретения

Составитель В.Белоконь

T ехред З,фанта Корректор E.Äè÷èíñêàÿ

Редактор Т.Орловская

Заказ 6360/53 . Тираж 918

ЦНИИПИ roc

Подписное осударственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП Патент, r.Óæãoðîä, ул.Проектная,4 ристики при освещении фотокатода от искрового источника света с длительностью импульса на полувысоте

0,8+0,0? нс.

При этом производят осциллографирование сигнала фотоэлектронного прибора. При перегрузке в 30 — 100 раз (по вершине импульса) предельный линейный ток заведомо достигается на начальном экспоненциальном участке импульса. Для построения истинной формы светового импульса на этом участке проводят измерение при интенсивности света, уменьшенной нейтральными фильтрами в 10 — 100 раз, причем одновременно уменьшают ослабление сигнала входными аттенюаторами осциллографа в то же число раз, что позволяет получить осциллограмму того же участка светового импульса при малых токах на выходе фотоэлектронного прибора, где его характеристика будет заведомо линейной.

Предложенный способ позволяет измерять световую характеристику и предел линейности фотоприбора в динамическом режиме работы, что значительно повышает точность физических измерений.

Способ измерения световой характеристики вакуумных фотоэлектронных приборов путем освещения фотока5 тода световым импульсом и осциллографирования импульсов выходного тока, отличающийся тем, что, с целью определения световой характеристики в динамическом режиме работы, фотокатод освещают световым

10 импульсом экспоненциальной формы с интенсивностью, обеспечивающий ограничение выходного импульса прибора на восходящем экспоненциальном участке светового импульса, и по осцил)5 лограмме импульса тока строят в полулогарифмическом масштабе световую характеристику

Источники информации, принятые

20 во внимание при экспертизе:

1. Патент США Р 35158?8, кл. 250-207, 1971

2. Раванин В.A. и др. Способ измерения характеристик вакуумных фотоэлементов, Импульсная фотометрия, Л., Машиностроение, 1969, с. 6,