Способ микроспектрального анализа химического состава вещества

Способ микроспектрального анализа химического состава вещества

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТИЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик («)635788 (б1) Дополнительное к авт, саид-ву (22) Заявлено 2604.76 (21) 2351231/18-25 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет

Опубликовано 071081.Бюллетень N9 37

Дата опубликования описания 071081

Р )М. Кл.

G 01 и 21/02

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 535. 8 (088.8) (72) Авторы изобретения

В.A.Àãååâ и A.A.ßíêoâñêèé

Ордена Трудового Красного знамени Институт физики

AH Белорусской CCP (71) Заявитель

Изобретение относится к области промышленных методов аналитического контроля химического состава вещества и может быть использовано в про-. изводстве материалов, в машиностроении, геологии, при обработке, резке и сварке деталей лучом оптического квантового генератора (ОКГ), при проведении спектрального анализа с высокой концентрационной чувствительностью практически на все элементы.

Известен способ микроспектрального анализа химического состава вещества, заключающийся в плавлении, испарении и возбуждении атомов иссле- 15 дуемого вещества, воздействием на него излучения лазера и в регистрации эмиссионного спектра этого вещества j1) °

Основным недостатком такого спо- соба спектрального анализа является малая интенсивность спектральных линий, что связано с малым содержанием паров в.общем количестве продуктов световой эрозии.

Наиболее близким по технической. сущности и достигаемому результату является способ спектрального анализа химического состава вещества, заключающийся в плавлении, испарейии ЗО и возбуждении атомов исследуемого вещества воздействием на него потока тепловой энергии и регистрации эмис:— сионного спектра этого вещества (2 ).

В этом способе анализируемое вещество одновременно с воздействием излучения ОКГ подвергают воздействию электрического разряда, что приводит к некоторому увеличению интенсивности спектральных линий.

Недостатком этого способа является недостаточно сильное увеличение интенсивностей спектральных линий.

При использовании этого способа необходимо наличие двух источников потоков тепловой энергии, причем необходимо строго синхронизировать время запаздывания развития электрического разряда относительно начала действия. лазерного излучения на анализируемое вещество. Кроме того, в известном способе спектрального анализа возможно загрязнение спектра линиями материала электродов.

Цель изобретения — увеличение интенсивностей излучения спектральных линий, особенно линий примесей.

Это достигается благодаря тому, что в исследуемом, веществе стимулируют процесс объемного испарения путем (54) СПОСОБ NHKPOCIIEKTPAJIbHOIО АНАЛИЗА ХИМИЧЕСКОГО

СОСТАВА ВЕЩЕСТВА