Способ измерения деформаций металлических изделий

Способ измерения деформаций металлических изделий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

(6l) Дополнительное к авт. гвид-ву— (22) Заявлено09.08.76 (23)2396447/25-28 с присоединеиием заявки N 2395956/228 (23) Приоритет— (43) Опубликовано25.12.78.Бюллетень Ие47 (45) Дата Опубликования огп1 сан и я 27, 12.78

Государственный номнтет

Совета Мнннотров СССР го делам нзооретеннй и открытнй (Я) g fj j(531.781. .2g 088.8 ) B. Е Лялин Р.-Ю.,Ю. Гульбииас, Л. -.А., П„, Лаурутис и Б., B. Рудгалызис (72) Авторы изобретения

Каунасский политехнический институт иа1. Лнтанаса Снечкуса (Vl) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕЩ4Я Д",.=.ф(3РЯ.аЦИЙ )лЕ -;УЛЛИ)т)- СКИ

ИЗДЕЛИЙ

С) по измерительной базе и по нему определяют деформ ацшо (21.

Недостатко. . данного способа является сло)кность процесса измерения, связанная с необходимостью точной юстировки фотоприемников.

Цслью изобретения является упрощение процесса измерения. =)то достигается тем, что ограни )ивают область измерительной базы с помощью диэлектрического покрь)тия, сканирук)т по ней тО локальныи электрическим полем, создаваеMb!ì с помощью электронно-лучевой трубки с металловолокоиным экраном, I! измеряют временной интервал сканирования по длительности импульса электрического тока, снимаемого с изделии.

На чертеже представлена схема рса.:)изации способа.

На поверхности металлического изделия

1 ограничивают измерительную базу с помощью диэлектрическо)о покрытия 2, кото20 рое наносят, например, па торцовые поверхности изделия. Параллельно измеритсл)ной базе, представляк)щей в данном случае образуюц1ую боковой иове px H()c ли из;и лип

Изобретение относится к электрическим методам измерейия деформации и может быть использовано для измерения радиальных и осевых деформаций вращающихся деталей.

Известен способ измерения деформаций металлических изделий, заключающийся в том, что фиксируют с помощью магнитных меток измерительную базу на поверхности вращающегося изделия, устанавливают магнитные датчики и по сигналу рассогласования импульсов, снимаемых с магнитных датчиков, определяют деформацию (l).

Недостатком известного способа является невозможность его изменения для металлических изделий, выполненных из иемагнитного материала.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ измерения деформаций металлических изделий, заключающийся в том, что фиксируют с помощью оптических меток измерительную базу на поверхности изделия, сканируют по ней лазерным лучом, измеряют фазоприемниками временной интервал сканирования

О П и C. А Й К В )„,638842

ИЗОБРЕТЕН ЙЯ н втОРскОмм сВЙдВтильству

Формула изобретения

Составители Е. Подналый

Тскред О. Луговая Корректор Л. Веселовская

Тираж 030 Подписное

Редан fQp Л. Иародная

Закал 7268/Ю

ЦНИИПП Государственного канитета Совета Министров СССР яо десдаи изобретений и открытий

t li 3O ß. )досква, )К-З5, Раушская иаа, д 4ф

Филиал ППП к Патента, г. Ужгород, ул Проектная, 4 на расс гоянин 2О Я) мкм усганавлнва от ь ран электронно-лучевой трубки с метал.н)волоконным экраном 3, Отклоняк)щая система которой подключена — генера,ору 4 пилоОбразного напря)кения, а катод — к выхОду источника 5.постоянного напря)кения.

ПО измерительной базе изделия j, ограниченной диэлектрическим покры7ием 2, ска

HHpy)oT ле)кальным электрическим полем, соЗ-. даваемым электронно-лучевой трубкОЙ с металловолоконнцм экраном.)1мнульс тока, на-" веденный B H33%3HH в pe3$J)bTBTe пробоя разрядного Броме)кутка металловолОКОнный экран — по1 pxBGcTb издечня, снимают через вал 6, на котором закреплено вращающееся изделие, с помощью токосъемника 7 н pe"

Зистооа 3.

С помощью измерителя 9 временных HHтервалов изме1)я)от временной интервал сканирования по длительности электрического тока, снимаемого с изделия j, н по величине временйого и) тервала сканирования опреДЕЛЯЮТ ДЕфОРмаЦИЮ, Использование электрических методов позволяет Отказаться от сло)нных оптических сканнрукнцих устройств н существенно упростить процесс )остировки при определении деформации изделия.

Способ измерения деформаций металлических изделий, заключакнцийся в том, что фиксируют измерительную базу на поверхности изделия, сканируют по ней зондирующим сигналом, измеряют временной интервал сканиг)овация по измерительной базе и по нему определяют деформацию, отличиюьцайся тем, что, с целью упрощения процесса измерения, ограничивают область измерительной базы с помощью диэлектрического покрытия, сканируют по ней локальным электрическим полем, создаваемым с помощью электронно-лучевой трубки с металловолоконным экраном, н измеряют временной интервал сканирования по длительности импульса электрического тока, снимаемого с изделия.

Источники информации, принятые во внимание прп экспертизе:

1. Авторское свидетельство СССР № 373212, кл. G О! В 7/24, l971

2. Шаманин В. A., Хватан A. М. Фотоэлектронный тензометр для измерения деформации материалов при высоких температурах. Заводская лаборатория, 1973, _#_ 9, с. 1 1,34 — 1137.