Способ измерения шероховатости поверхности при ее обработке на станке

Способ измерения шероховатости поверхности при ее обработке на станке

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советских

Социалистических

Респубпнк (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено 23.05.77 (2! ) 2487697/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 05.01.793юллетень №1

Дата опубликования описания06.01.79 (51) M. Кл, Q 01 В 11/ЗО

Государственный комитет ссср на делам изабретений и открытий (5З) УЙК 531,71 (088.8) (72) Авторы изобретения Р. Б. Мартиросян и С. Р. Маркарян ь

I с (Ереванский политехнический институт имени Карла Маркса (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ l1lEPOXOBATOCTH ПОВЕРХНОСТИ

ПРИ ОБРАБОТКЕ EE НА CTAHKE

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерениям, основанным на явлении интерференции света.

Известен способ определения качества обработки поверхности, заключающийся в том, что на исследуемую поверхность направляют скользящий по поверхности пучс< световых лучей и по отношению спектральных коэффициентов отражения этих лучей от исследуемой и эталонной поверхностей судят о средней высоте неровностей поверхности (l ).

Такой способ определения шероховатости поверхности приемлем только для матовых стеклянных шлифованных поверхностей.

Известен способ измерения шероховатости поверхности при обработке ее на станке, заключающийся в том, что на исследуемый участок поверхности направляют световой пучок лучей н наблюдают интерференционную картину (2).

При этом на измеряемую поверхность накладывают плоское стекло. Интерференционная картина возникает в результате образования воздушного клина между плоскопараллельной стеклянной пластиной и контролируемой поверхностью, К недостаткам данного способа относятся. невозможность оценки шеро".оватости цилиндрических поверхностей; субъективность оценки яркости интерференционной картины наблюдателем; невозможность измерения точной величины высоты неровностей поверхности внесение в результат измерения погрешности, обусловленной неточным изготовлением плоскопараллельной стеклянной плас-. тины.

Целью изобретения является увеличение точности и упрощение измерения шероховатости поверхности и пределах Кв — — 0,8—

20 мкм.

Поставленная цель достигается тем, что определяют угол падения луча на исследуемый участок поверхности, длину волны; соответствующую цвету интерференционной картины исследуемого участка поверхности, угловые параметры режущего инструмента и по ним судят о шероховатости поверхности.

2О

Предложенный способ поясняется чертежом.

Пучок параллельных лучей l лампы 2 накаливания направляют на исследуемую поверхность 3 детали 4 в плоскости, перпен