Система для контроля качества отжига стекла

Система для контроля качества отжига стекла

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

K АВТОРСКОМУ СВИДЕТГЛЬСТВУ

Ii642263

Сеюэ Соввтсмик

Соцнваистнчккик

Респубаии (6l) Дополнительное к авт. свид-ву (22) ЗаЯвлено14.10.76 (21) 2410485/29-33 с присоединением заявки РЙ (23) Приоритет

Опубликовано 1501.79. Бюллетень % 2

Дата опубликования описания 1501.79 (51) М. Кл.

С 03 В 25/00

Государственный комитет

СССР оо делам изобретений и открытий (53) УДК 666.1.038.7 {088.8) (72) Авторы изобретения

А.А.Бялик и С.И.Кадлец

Ф

Киевский филиал Всесоюзного научно-и ледовательского ;. и проектно-конструкторского институт по ЙЩ{фф 1ирдции ! (7l) Заявитель предприятий промышленности строит хмааариалов

{54) CHCTE?1A gJIR I;CPTPOJIH К 19ECTBA СГ ;ИГ CTEKJIA

Изобретение относится к стекольной промышленности и мох<ет быть использовано для контроля качества отдельных образцов стекла и изделий из него.

Известна система для контроля качества отжига стекла, содержащая источник излучения и приемник (lj .

Эта система не позволяет судить об однородности получаемого стекла, являющегося основным критерием качества отжига.

Известна и другая система для контроля качества отжига стекла, содержащая мирру, установленную между осветителем и коллиматором, объектив и светоприемник (2) .

Недостатком известной системы является низкая точность контроля качества отжига стекла, связанная с субъективностью определения предельного угла разрешения мирры, рассматриваемой через исследуемое стекло.

Эта неточность приводит к неправиль-. ному определению категории оптической однородности стекла и, как следствие, к неправильному его дальнейшему использованию. К числу недостатков системы отнс>сится н большая сложность привеса нонт1оля, вызванная необходимостью последовательного просмотра большого числа мирр и, как следствие. низкая производительность контроля качества отжига.

Указанные недостатки не позволяют использовать известную систему для массового контроля качества отжига оптического стекла или для контроля качества отжига листового полированного стекла, а при выборочном контроле отдельных образцов стекла не позволяют судить а качестве отжига с достаточной точностью.

Целью предполагаемого изобретения является повышение качества контроля.

Г!оставленная цель достигается тем, что известная система для контроля . качества отжига стекла, содержащая мирр,, установленную мех;ду осветителем и коллиматором, объектив и светоприемник, снабжена устройством измерения временного интервала, пороговым блоком, детектором, фильтром и электродвигателем, причем светоприемник подключен ко входу фильтра, выход которого соединен с одним из входов детектора, другой вход которого соединен с пороговым блоком, выходы детектора подключены к соответствующим входам

642263 устройства измерения временного интервала, а мирра выполнена с радиально расположенными штрихами и эксцен.трично установлена на валу электродвигателя.

На фиг. 1 изображена система для контроля качества отжига стекла; на фиг. 2 — временная диаграмма его работы.

Осветитель 1 имеет источник света 2 и конденсатор 3, радиальную мир- Ю ру 4, эксцентрично установленную на валу двигателя 5, коллиматор 6, объектив 7, диафрагму 8, светоприемник 9, фильтр 10, детектор ll, устройство измерения временного интервала 12, )5 пороговый блок 13 и механизм перемещения стекла 14.

Устройство измерения временного интервала 12 содержит триггер 15 с раздельными входами,. генератор 16 20 квантующих импульсов, схему 17 совпадения, счетчик 18 импульсов и индикатор 19.

Описанная схема работает следующим образом. 25

Световой поток от осветителя 1, проходя через радиальную мирру 4, попадает во входной зрачок коллиматора 6. Коллиматор 6 направляет параллельный световой лучок на исследуемое стекло 20 и при помощи объектина 7 образует в плоскости установки светопрнемника 9 иэображение мирры 4. Дифрагма 8 служит для вырезания из изображения мирры узкой полосы, в пределах которой разрешающая способность мирры 4, практически, . постоянна. При вращении эксцентрично установленной мирры 4 плавно изменяется ширина полос участка мирры, проектируемого на исследуемое стек- 40 ло 20, т.е. разрешающая способность мирры.

При отсутствии стекла в поле зрения прибора изображение мирры проектируется в IIJfocKocTb установки свето- 45 приемника без искажений и размытостей и глубина модуляции светового пучка в течение всего периода измерения остается постоянной, независимо от того, какой участок мирры проектируется 50 на светоприемник. Появление стекла в поле зрения прибора вызывает искажения и рассеяние света, обусловленные неоднородностью стекла. При этом, чем выше качество отжига, тем однородней стекло и тем выше его разрешающая способность. При вращении мирры 4 глубина модуляции светового пучка остается постоянной (максимальной) до тех пор, пока через стекло проектируются участки мирры, разрешающая способность которых меньше разрешающей способности исследуемого стекла, Когда разрешающая способность проектируемогo участка мирры становится больше разрешающей способности стек- ti5 ла, глубина модуляции светового пучка уменьшается.

Светоприемник 9 регистрирует.прошедший через стекло 20 переменный световой поток и выдает переменный сигнал 21 на фильтр 10, выделяющий оги. бающую сигнала 21 (сигнал в Ъ) . Сигнал 22 поступает на вход детектора

11, который при достижении установленного схемой 13 порога срабатывания 23 выдает сигнал 24 на входной триггер 15 устройства 12 измерения временного интервала. Триггер 15 выдает разрешающий сигнал 25 на один иэ входов схемы 17 совпадения., ко второму входу которой подключен выход генератора 16. Разрешающий сигнал 25. выдается триггером только в интервале времени между сигналами

24 детектора 11 и квантующие импульсы 25 со входа генератора 16 поступают в счетчик 18 только в этом временном интервале .

При этом длительнбсть измеряемого временного интервала обратно пропорциональна степени однородности стекла и, следовательно, качеству отжига: чем выше качество отжига, тем меньше регистрируемый временной интервал. Индикатор 19, шкала которого может быть отградуирована в единицах разрешающей способности стекла или непосредственно в категориях оптической однородности, осуществляет индикацию результатов измерения.

Механизм 14 перемещения стекла непрерывно или ступенчато по заданной программе перемещает стекло перпендикулярно подающему на него световому потоку. При этом устройство осуществляет последовательное определение качества отжига всех участков контролируемого образца стекла. При контроле движущейся ленты стекла предложенное устройство может работать без механизма перемещения стекла. формула изобретения

Система для контроля качества отжига стекла, содержащая мирру, установленную между осветителем и коллиматором, объектив и светоприемник, отличающаяся тем, что, с целью повышения качества .контроля, она снабжена устройством измерения временного интервала, пороговым блоком, детектором, фильтром и электродвигателем, причем светоприемник подключен ко входу фильтра, выход которого соединен с одним из входов детектора, другой вход которого соединен с пороговым блоком, выходы детектора подключены к соответствующим входам устройства измерения временного интервала, а мирра выполнена с радиально расположенными штрихами и эксцен64?263

Фиг. 1

yиа.7

Составитель Л.Шарова

Техоед Э.ЧУжик Коооектор Т. Вашкович

Тираж 55K Годписное

Ш!ИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035 Москва Ж-35 Ра скан наб. д. 4/5

Редактор В,Телухин

Заказ 7684/21 с c Р"

Филиал III .П Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 трично установлена на валу злектродвигателя.

Источники информации, принятый во вн имание при экспертизе

1. Авторское свидетельство: СССР

h 403634, кл. С 03 В 27/00, 1971. Справочник по производству стекла,т.l, М., Госстройиздат, 1963, с,289.