Способ дефектоскопии

Патент 642606

Авторы

• БАХРАХ ЛЕВ ДАВЫДОВИЧ
• ЛИПКИН АРКАДИЙ САМУИЛОВИЧ
• РОЗИНЬКОВ НИКИТА СЕРГЕЕВИЧ

---

Классы МПК

• G01B9/02 - интерферометры
• G01N21/88 - выявление дефектов, трещин или загрязнений