Проекционное устройство для контроля оптических элементов

Проекционное устройство для контроля оптических элементов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советских

Социалистических

Реслублмк

ОП ИКАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свил-ву— (22) Заявлено 13.07,77 (21) 2506638/27-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано15.02.79. Бюллетень М 6

Дата опубликования описания 18.02.79

tttt647573

2 (51) М. Кл.

601 М 11/02

Государственный комитет

СССР оо делам изооретений и открытий (53) УДК 535.88 (088.8) Ю. И. Ямщиков, Б, Н. Чуличкин, В. А, Аблеев и Г. H. Ильиных (72) Авторы изобретения ! (71) Заявитель (54) ПРОЕК11ИОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ

ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМГНТОВ

2(х )

H(x) =

„ х )4

Изобретение относится к области приборостроения, а более конкретно к" пр оекци онным аппаратам, и м ожет быть применено для контроля оптических деталей, в частности контактных линз, Известны устройства для контроля параметров линз, использующие проецир ование изображе ни я исследуемого объекта на экран с последующим измерением параметров изображения объекта (1).

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является устройство для контроля оптических элементов, содержащее источник света, конд лсор, проекционный объектив и экран f2).

Недостаток этого устройства заключается в низкой точности измерений иэза нерезкого изображения объекта, Целью изобретения является повьппе,пие точности измерения.

Эта цель достигается тем, что в плоскость апертурной диафрагмы проекционного объектива введен низкочастотный амплитудный фильтр, выполненный в виде плоскопараллельной пластинки с коэффициентом .пр опускания, измеряюшимся от 1 в центре до 0 по краям по формуле. где хо-значение, при котором функция

Н (x ) принимает максимальное значение; х — текущая координата пластинки, На чертеже представлена оптическая схема устройства.

Проекционное устройство содержит источник света 1, в данном случае лак пу накаливания, за которой находятся линза 2 конденсора, зеркало 3 и втьрая линза конденсора 4. Исследуемый

20 объект помешают на опорном столике 5,, имеющем прозрачное дно, 3а ним расположены объектив 6, отклоняющее зеркадо 7, низкочастотный амплитудный

647573

ЦНИИПИ Заказ 295/35 Тираж 1 089 Подписное

Филиал ППП Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4 фильтр О, помещенный в плоскости апертурной диафрагмы объектива 6, отклоняющее зеркало 9 и экран 10.

Схема работает следующими образом.

Свет от источника света попадает на 5 линзу конденсора 2. Горизонтально проходящий пучок света направляется вверх при помощи отклоняющего зеркала

3 по второй линзе конденсора 4. З тем свет попадает на исследуемый

10 предмет, помещенный на опорном столике 5 с прозрачным дном. Пучок света проходит через объектив 6, попадает на, отклоняющее зеркало 7 и затем на низ.

15 кочастотный амплитудный фильтр 8, находящийся в плоскости апертурной диафрагмы объектива 6. Фильтр 8 отфильтровывает низкие частоты и направляет от» фильтрованный пучок света на отклоняю20 шее зеркало 9, при помощи которого отфильтрованный пучок строит вторичное изображение неразрушенной контактной линзы на экране 10.

Формула изобретения

Проекционное устройство для контрос ля оптических элементов, преимущественно неразрушенных контактных линз, со» держащее источник света, конденсор, 1 проекционный объектив, экран, о т л ич а ю ш е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения, в плоскость апертурной диафрагмы проекционного объектива введен низкочастотный амплитудный фильтр, выполненный в виде пл оскопараллельной пласти нки с коэффициентом пропускания, изменяющимся от 1 в центре до 0 по краям по формуе:

„,„, (". ) -(.".) где х — значение, при котором функция

Н (к ) принимает максимальное значение; х — текущая координата пластинки.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе.

1. Патент США hb 3822096", кл. GOl М 11/02, 1973, 2. Патент ФРГ Ж 2283365, кл. GOl М 11/02, 1973.