Устройство для отклонения луча

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

r в1тан ж - !;1%а4аа И оиЬ Фотфн4е Цфф

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕДЬСТВУ

<и654004 (б1) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 16.11.77 (21) 2544673/18-25 с присоединением заявки М— (23) Приоритет—

Опубликовано 071080. Бюллетень Йо 37

Дата опубликования описания 0%10.80 (51)М. Кл.з

G 02 F 1/29//

G F 1/31

Государственный комитет

СССР ио делам изобретений и открытий (53) УДК 535. 8 (088.8) (72) Авторы изобретения

А. И. Иоффе, В. Г. Толчин и Б. Г. Турухано

Ленинградский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова

P f) Заявитель (54) УСТРОИСТВО ДЛЯ ОТКЛОНЕНИЯ ЛУЧА

Изобретение относится к оптико-ме,ханическим устройствам, а именно к системам отклонения падающего электромагнитного излучения, и может использоваться в устройствах оптической и голографической памяти, в многоканальных системах оптической обработки информации.

Известно устройство для отклонения луча, содер кащее источник излучения, ячейку с оптико-акустическим материалом и генератор ультразвуковых колебаний. Распространяющаяся ультразвуковая волна создает в среде дифракционную решетку, которая эф-15 фективно дифрагирует свет при освещении под углом Брвгга. Период решетки равен длине звуковой волны, изменяф которую можно менять период решетки и связанный с ним угол дифрак- 20 ции $1 ).

НедосТатком является неточность установки луча в заданной точке растра.

Наиболее близким техническим реше-2э нием к изобретению является устройство для отклонения луча, содержащее источник монохроматического излучения и диск с системой дифракционных решеток переменного периода, нанесен- 30 ных по его периферии, закрепленный на валу электродвигателя (2).

Отклонение луча в горизонтальном направлении происходит из-эа дйфракции на периодических структурах с переменным периодом. Отклонение луча в вертикальном направлении происходит из-за дифракции света на одной из дифракционных решеток, которая пфи вращении диска постепенно проходит через подающий пучок.

Однако известное устройство не. обеспечивает фиксации положения луча в заданной точке растра, что не позволяет использовать его для построе- . ния систем памяти ввиду невозможности записи и считывания заданного элемента матрицы произвольное время.

Цель изобретения - обеспечение точной фиксации луча в заданной точке растра.

Для этого известное устройство снабжено дополнительным диском, аналогичным первому, и установленным параллельно ему на расстоянии, не превышающем размер отдельной дифрак" ционной решетки, таким образом, что переирывающие дифракционные решетки обоих дисков ортогональны, причем оба электродвигателя шаговые и свяэа654004 ны между собой электронным блоком управления.

На чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого .устройства.

Плоская монохроматическая волна, исходящая из источника 1 монохроматического излучения, падает на дифракционные решетки, нанесенные на диске

2, закрепленном на валу шагового двигателя 3. Дифрагированный в первый порядок дифракции луч падает на дифракционные решетки, нанесенные на диск 4, закрепленный на валу шагового двигателя 5. В результате первой ступени дифракции (на решетках диска 2) происходит отклонение луча в направлении Y плоскости 6 наблюде- l5 ния, а в результате второй ступени дифракции (на решетках диска 4) - отклонение луча в направлении X той же плоскости.

Управляя шаговыми двигателями 3 и Щ

5, можно помещать в пучок лучей любые иэ дифракционных решеток дисков 2 и 4, т.е. однозначно определять угловое положение отклоненного луча, осуществляя точную фиксацию в любой заданной точке растра на произволь,ное время. Маска 7, помещенная после диска 4, выделяет лишь исЯольэуеьый первый порядок дифракции.

Устройство работает следующим образом.

36

0 О

Луч света с длиной волны =6328 А, испускаемый гелий-неоновым лазером, падает на стеклянный диск. 2 диаметром .300 мм с системой дифракционных решеток, поЛученных голографическим И способом - регистрацией интерференционной картины двух плоских волн с последующей обработкой фотозмульсии для получения фазовых дифракционных решеток. 40

Период решетки изменяется от 1,36 до 2 мкм. Диаметр отдельной решетки

3 мм. Направление штрихов радиальное ° .

Дифрагированный на первой системе .дифракционных решеток луч падает на второй диск, аналогичный первому, ус- 4 тановленный на расстоянии 2 мм. Параметры дифракционных решеток на диске 4 аналогичны параметрам дифракци= онных решеток на диске 2. Луч, дифрагированный на второй системе дифракционных решеток, проходит через маску 7, представляющую собой непрозрачный .экран с отверстием 40 х 40 мм, расположенный на расстоянии 250 мм от второго диска. Первый порядок дяфракции, выделенный после прохождения маски, регистрируют в виде прямоуголв ного точечного растра в плоскости 6 наблюдения на матовом экране, расположенном на расстоянии 750 мм от маски.

Наличие второго диска и вращение обоих дисков с помощью шаговых двигателей позволяет получать прямоуголю ный. точечный растр и точно фиксировать положение луча в любой заданной точке растра, что позволяет использовать изобретение как в системах считывания, так и в системах записи информации.

Формула изобретения устройство для отклонения луча, содержащее источник монохроматического излучения и диск с системой дифраиционных решеток переменного периода, нанесенных по его периферии, закрепленный на валу электродвигателя, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью; обеспечения точной фиксации луча в заданной точке растра, оно снабжено дополнительным диском, аналогичным первому, и установленным параллельно ему на расстоянии, не превышающем размер отдельной дифракционной решетки, так что перекрывающиеся дифракционные решетки обоих дисков ортогональны, причем оба электродвигателя шаговые и связаны между собой электронным блоком управления.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Рытов С. И. Дифракция света на ультразвуковых волнах. Известия AH

СССР, физ. 1937, 9 2, 222.

2. Патент СЖЛ 9 3619033, кл. 350-160 1971.

654004

Составитель В. Траут

Ре акто Л. Письман Тех е А.Ач, Ко екто Е. Папп

Закаэ 8660 7 Тирак 69 Подписное

BHHHIIH Государственного комитета СССР по делам иэобретений и открытий

113035 Москва X-35 Ра ская наб. д . 4 5

Филиал ППП Патент, г. Улсгород, ул. Проектная, 4