Способ диагностики повреждения нерва

Способ диагностики повреждения нерва

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советскив

Социалистических

Республик

<1665890 ???? rg (61) ???????????????????????????? ?? ??????. ????????-???? (??) ???????????????? 2 53. 076 (?1) 24 1 5086>

А 61 В 5/05

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий

Опубликовано 050679 5юллетень ¹ 21 (53) УДК615.475 (088.8) Дата опубликования описания 0506,79 (72) АвтОр изобретения

B. П. Берснев

Ленинградский ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский нейрохирургический институт им. проф. A.Ë. Поленова

I (71) Заявитель (54) СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ПОВРЕЖДЕНИЯ НЕРВА

Изобретение относится к медицине и может быть применено в клинической нейротравматологии.

Известен способ диагностики Повреждения нерва путем введения в два участка нерва микроэлектродов, раздражения одного участка нерва импульсным электричЕским током и регистрации на другом участке потенциалов деиствия fl).

Однако известный способ не позволяет определить степень повреждения в ходе нейрохирургической операции.

Целью изобретения является определение степени повреждения в ходе нейрохирургической операции.

Эта цель достигается тем, что микроэлектроды вводят с помощью .стериотаксического устройства поочередно в каждый пучок нерва выше и ниже места повреждения его, регистрируют потенциалы действия каждого из пучков и по количеству поврежденных пучков определяют степень . повреждения нерва.

Способ осуществляют следующим образом.

Нейрохирург надевает телескопические очки или проводит исследова -: ние под операционным микроскопом.

Под нерв дистальнее и проксимальнее его поврежденного участка подводят глубинную лампу для выявления пучков нерва неизмененной части по обе сто-; роны от места повреждения, которые видны в проходящем свете глубинной лампы и не видны на уровне поврежде ния нерва, ориентируют пучки по сосудам нерва. С помощью стереотаксического устройства вводят раздражающий и регистрирующий мультимикроэлектро ды по обе стороны от места поврежде ния на уровне наибольших изменений нерва по проекции пучка и через эпи- неврий и периневрий на одну и ту же глубину до появления потенциалов действия амплитудой 0,1- 1мВ,выявляют наличие проводимости пучка,- и электроды извлекают.

Стереотакоическим устройством изменяют положение мультимикроэлектродов поочередно по проекции других пучков и по окружности нерва. При наличии вызванных потенциалов действия циклы, повторяют над другими пучками. Выявляют исчезновение проводимости наружного пучка нерва по отсутствию вызванных потенциалов и вводят стереотаксическим устройст- вом вглубь нерва одновременно раз3 665 дражаЮции и регистрируюций мультимикроэлектроды на расстояние несколько большее диаметра наружного пучка к более глубокс расположенному пучку йо поперечнику нерва и производят исследование. Такие циклы повторяют ,цо вызывания потенциалов, и мультимикроэлектроды извлекают, или проходят поперечник нерва полностью при отсутствии потенциалов на всех уровнях исследования. По количеству поврежденных пучков определяют степень повреждения нерва.

Предлагаемый способ позволяет определить степень повреждения в ходе нейрохирургической операции.

Формула изобретения

Способ дигностики повреждения нерва путем введения в два участ890 4 ,ка нерва мнкроэлектродов, раздражения одного участка нерва электрическим--током и регистрации на другом участке потенциалов действия, о тл и ч а ю ц и и с я тем, что, с целью определения степени повреждения в ходе нейрохирургической операции, микроэлектроды вводят с помошью стереотаксического устройства поочередно в каждый пучок нерва выше и ниже места повреждения его, регистрируют потенциалы действия каждого из пучков и по количеству поврежденных пучков определяют степень повреждения неРва.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Нейрохирургия. Ред. В. A. Иустина. 1971, т. 4, с..159-163.

Составитель С. Малютина

Ре акто 0. Иванова Техред 3. Фанта КорректоР И. Муска

Заказ 3026/4 Тираж 671 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений н открытий

113035 Москва Ж-35 Ра шская наб. д. 4 5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4