Способ дефектоскопии магнитной головки

Способ дефектоскопии магнитной головки

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Соаетских

Социалистиыесюа

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (") 669394 (61) Дополнительное к авт. свитт-ву— (22) Заявлено 16.01.78 (21) 2572243/18 — 10 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет—

Опубликовано 25.06.79. Бюллетень № 23

Дата опубликования описания 05.07.79 (51) М. Кл.

G 11 В 5/46

Государственный комитет

СССР оо делам нзооретеннй и открытий (53) УД К 621. 31 7. .799:681.84 (088.8) (72) Авторы изобретения

В. П. Тищенко, Б. Н. Трупов, В. В. Данилов, А. П. Гавриш.

Я. Г. Дригибка и Ю. В. Белинский (71) Заявитель (54) СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ МАГНИТНОЙ ГОЛОВКИ

Изоорете((ие относится к магнитной записи, а именно к способам дефектоскопии магнитной головки.

Известен способ дсфектоскопии магнитной головки путем визуализации результата воспроизведения магнитной головкой контрольного сигнала, записанного на магнитной ленте (1). Известный способ обеспе швает проверку магнитной головки в ус IQBfiiix> близкик к p(.àëüffû31 условиям ее использоваHHÿ. Однако этот способ весьма трудоемок.

Известен также спосоо дефектоскопии магнитной головки путем визуализации резулbTàта воздействия на пленочный магHèтооптический датчик внешним магнитным полем и магнитным полем рабочего зазора магнитной головки (2) . Этот способ обеспечи вает относ ител ы(ую простоту процесса дефектоскопии магнитной головки.

Цель изобретения — - повышение разреfiIBIoIIKé спосооности дефектоскопии магнитной головки.

Это достигается за счет того, что в процессе воздействия внешним магнитным полем производят преобразование лабиринтНоН доменной структуры пленочного магнитооптическогo дат)ика 13 )folio;;obfeffffoQ состояние, при воздеlfcTHliii магHllTfffl l 1голем рабочего зазора )faf IIIITII()ff голoi IiHi изменяют направление намагни (еннос11 i HH(. Têof3 пленочного магнитооптического дат (и на на

fipOTff f3OIIO IO)f(fIOE, а !Iри I3IIE3% fl,iff.ffifffIH сравнивают картину off(пределения ма fili THol поля рабочего зазора магнитной головки эталонной картиной. При этом II(III();ff3,1(. внешнего м)апштного поля со13мсщают с оськ) легкого намагничивания пленочного магнитооптическогo датчика, перпендикулярной его плоскости.

Дефектоскопия магнитной головки согласно предлагаемому способу проискодит

15 следующим образом. На пленочный .",1агHèтооптический датчик с лабиринтной доменной структурой воздействуют внешним магнитным полем. Г1ри этом направление внеHIнего м а гн итного поля сов ме(па 1от с оськ) легкого намагничивания п1eHosffof o магни2о тооптического датчика, ffepff(. Hдикулярной его плоскости. В процессе воздействия внешним магнитным полем производят преобразование лаби ринтной доменной структуры пленочного магнитооптического датчика

669394

Составитель Е. Розанов

Техред О. Луговая Корректор Н. Степ

Тираж 680 Подписное

ЦН И И П И Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, )К вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Редактор Е. Гончар

Заказ 3667/42 в монодоменное состояние. На пленочный магнитооптический датчик воздействуют также магнитным полем рабочего зазора магнитной головки. При этом процессе воздействия магнитным полем рабочего зазора магнитной головки изменяют направление намагниченности участков пленочного магнитооптического датчика на противоположное.

Результат воздействия на пленочный магнитооптический датчик внешним магнитным полем и магнитным полем рабочего зазора магнитной головки визуализируют на экране. При этом в процессе визуализации производят сравнение картины распределения магнитного поля рабочего зазора магнитной головки в зависимости от частоты и силы тока в ее обмотке с эталонной картиной, полученной посре1ством эталонной магнитной головки.

Использование изобретения позволяет zo в значительной степени повысить разрешающую способность дефектоскопии магнитной головки. Кроме того использование изобретения обеспечивает значительное ускорение процесса дефектоскопии магнитной головки.

ы

Изобретение может быть использовано при серийном производстве магнитных головок.

Формула изобретения

Способ дефектоскопии магнитной головки путем визуализации результата воздействия на пленочный магнитооптический датчик внешним магнитным полем и магнитным полем рабочего зазора магнитной головки, отличающийся тем, что, с целью повышения разрешающей способности, в процессе воздействия внешним магнитным полем производят преобразование лабиринтной доменной структуры пленочного магнитооптического датчика в монодоменное состояние, при воздействии магнитным полем рабочего зазора магнитной головки изменяют направление намагниченности участков пленочного магнитооптического датчика на противоположное, а при визуализации сравнивают картину распределения магнитного поля рабочего зазора магнитной головки с эталонной картиной, причем направление внешнего магнитного поля совмещают с осью легкого намагничивания пленочного магнитооптического датчика, перпендикулярной его плоскости.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Ефимов E. Г. Магнитные головки.— М., «Энергия», 1967, с. 51.

2. Авторское свидетельство СССР № 532126, кл. G 11 В 5/46, !975.