Интерферометр сдвига
Иллюстрации
Показать всеРеферат
Союз Советских
Социалистических
Реслублик
ОП ИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЙТЕЛЬСо ВУ (473839 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 27.02.78 (21) 2587058/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл, G 01 В 9/02
Госудерстееииый комитет
СССР оо делам иэооретоиий и открытий
Опубликовано 15.07.79. Бюллетень № 26
Дата опубликования описания 25.07.79 (53) УДК 535.853..4 (088.8) (72) Авторы изобретения
Е. И. Астахова и А. А. Забелин (71) Заявитель (54) ИНТЕРФЕРОМЕТР СДВИГА
Изобретение относится к оптико-интерференционным устройствам и предназначено для исследования быстропротекающих процессов, например деформаций поверхностей при переменных нагрузках, а также оптических неоднородностей в баллистических экспериментах.
Известны интерферометры сдвига, в которых деформированный волновой фронт системой интерферометра раздваивается на две идентичные части, сдвинутые одна относительно другой, которые интерферируют между собой.
Наиболее близким техническим решением к рассматриваемому устройству является интерферометр сдвига, содержащий зеркальное сдвиговое интерференционное устройство, осветительную и наблюдательную системы.
Недостатком известного устройства является большое время экспозиции при регистрации быстропротекающих процессов, которое обусловлено зависимостью размеров источника света от величчны сдвига, и при использовании маломощных источников света требуются длительные экспозиции.
Целью изобретения является уменьшение экспозиции при регистрации быстропротекающих процессов.
Цель достигается тем, что в известном интерферометре сдвига, содержащем зер5 кальное сдвиговое интерференционное устройство, осветительную и наблюдательную системы, в осветительной и наблюдательных системах установлены поляризатор и анализатор, а в сдвиговом устройстве расположена полуволновая пластинка, плоскость главного сечения которой составляет угол 45 с плоскостью поляризации.
Такое конструктивное выполнение устройства позволяет производить освещение исследуемого объекта сквозь интерферометр
15 и с помощью поляризационных элементов осуществлять выделение интерференционной карп ны, не зависящей от размеров источника света.
Принципиальная схема интерферометра сдвига приведена на чертеже.
Интерферометр содержит источник 1 света, линзу 2, поляризатор 3, полупрозрачные зеркала 4 и 5, отражательные зеркала 6 и 7, полуволновую новую пластину 8, сферичес° «
673839
Формула изобретения
Составитель А. Медведев
Техред О. Луговая Корректор Г. Назарова
Тираж 865 Подписное
ЦН И И П И Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал П П П «Патент», r. Ужгород, ул. Проектная, 4
Редактор И. Шубина
Заказ 4056/35 кое зеркало 9, объективы 10, ll анализатор 12 и исследуемую неоднородность 13.
При этом источник I линза 2 и поляризатор 3 формируют осветительную систему, объективы 10, ll и анализатор 12 — наблюдательную систему.
Интерферометр работает следующим образом.
Световой пучок из осветительной системы первым полупрозрачным зеркалом 4 интерферометра делится на две части, которые с помощью зеркал 6 и 7 соединяются на втором полупрозрачном зеркале 5. Оба световых пучка, пройдя дважды исследуемую неоднородность 13 и отразившись от сферического зеркала 9, вновь направляются в интерферометр, где снова делятся на две части. Таким образом, при двойном прохождении света через систему интерферометра образуются четыре когерентных световых пучка и в наблюдательной системе в обц(ем случае наблюдается шесть интерференционных картин. Однако благодаря поляризатору 3 полуволновой пластине 8 и анализатору 12 на выход интерферометра попадают только два иптерферирующих пучка, и наблюдается интерференционная картина при неограниченном размере источника света.
Сдвиг волновых фронтов осуществляется зеркалом 7, на котором сфокусировано изображение источника 1, а настройка полос— поворотом жесткой пары зеркал 6 и 7. благодаря возможности использования маломощных и мощных источников света с неограниченными размерами существенно уменьшается время экспозиции и обеспечивается регистрация быстрых и сверхбыстрых процессов.
1О
Интерферометр сдвига, содержащий зеркальное сдвиговое интерференционное устройство, осветительную и наблюдательную системы, отличающийся тем, что. с целью уменьшения экспозиции при регистрации быстропротекающих процессов, в осветительной и наблюдательной системах установлены
zo поляризатор и анализатор, а в сдвиговом устройстве расположена полуволновая пластина, плоскость главного сечения которой составляет угол 45 с плоскостью поляризации.