Устройство контроля надежности омических контактов полупроводниковых диодов

Устройство контроля надежности омических контактов полупроводниковых диодов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советских

Социалистических

Респубпик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЙТЕЛЬСТВМ

«»673940 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 09.02.78 (21) 2579261II18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М.Кл.

G 01 R 31/26

Государственный квинтет

СССР по делам нзобрвтеннй н открытнй (53) УДК 621.382..2 (088.8) Опубликовано 15.07.79. Бюллетень №26

Дата опубликования описания 25.07.79 (72) Авторы изобретения

В. Г. Зебрев и А. Ю. Обрезков (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ НАДЕЖНОСТИ ОМИЧЕСКИХ

КОНТАКТОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДОВ

Изобретение относится к электронной технике. Устройство, в частности, предназначено для контроля качества полупроводниковых диодов при испытании их на воздействие вибрации и механических ударов с целью определения кратковременных и постоянных обрывов и коротких замыканий омических цепей испытуемых приборов.

Известно устройство для проверки полупроводниковых диодов на обрыв и короткое замыкание (1), содержащее уравновешенный мост, в одно из плеч которого включен испытуемый диод, а в другое — эталонный прибор, а также импульсный усилитель, включенный параллельно испытуемому ди-. оду, триггер и исполнительное устройство.

Возникновение неисправности фиксируется по разбалансу моста.

Недостатками данного устройства являются необходимость подбора эталонного диода при испытании разных типов диодов, а также необходимость предварительного уравновешивания мостовой схемы.

Наиболее близким к предлагаемому является устройство контроля надежности омических контактов полупроводниковых диодов (2), содержащее генератор импульсов, блок обнаружения обрывов и коротких замыканий и блок индикации, причем возникновение неисправностей в испытуемом диоде фиксируется Ilo увеличению высокочастотных гармонических составляющих импульсов, снимаемых с испытуемого диода.

Недостатком данного устройства является низкое быстродействие, определяемое быстродействием используемых аналоговых устройств обработки сигнала, что не позво1О ляет обнаружить кратковременные отказы длительности менее определенной величины, т. е. снижает точность и достоверность результатов измерений.

Целью изобретения является повышение

1 точности измерений и упрощение конструкции.

Указанная цель достигается тем, что блок обнаружения обрывов и коротких замыканий содержит два согласующих устройства, триггер и устройство разделения импульсов, вход

2ц которого соединен через согласующее устройство с одной из клемм для подключения испытуемого диода, а выходы соединены с блоком индикации и с управляющим вхо673940

1О

15 то

Формула изобретения

3 дом триггера, при этом тактовый вход триггера соединен через второе согласующее устройство с генератором импульсов и второй клеммой для подключения испытуемого диода, а выход — с блоком индикации.

Структурная схема описываемого устройства контроля надежности полупроводниковых диодов представлена на чертеже.

Устройство содержит генератор 1 двуполярных импульсов блок 2 обнаружения обрывов и коротких замыканий, включающий согласующие устройства 3 и 4, устройство 5 разделения импульсов с выходами 6 7, а также триггер 8 и блок индикации 9, образуемый двумя идентичными счетчиками импульсов. Устройство 5 представляет собой совокупность резистивнодиодных вентилей, обеспечивающих разделение импульсов положительной и отрицательной полярности, приходящих на его вход, Для обнаружения и фиксации кратковременных постоянных обрывов и кратковременных коротких замыканий в цепи контролируемого диода Рх, например, при воздействии механических ударов или испытаниях на вибропрочность он подключается через соединительные проводники или контактное устройство к клеммам между выходом генератора 1 импульсов и входом устройства 5 разделения импульсов через согласующее устройство 3. Двуполярные сигналы от генератора 1, проходя через исправ4 нии и появлении дефекта (дребезг) блок индикации подсчитывает количество отказов.

Постоянный обрыв устройство фиксирует как наличие одного обрыва.

Если происходит короткое замыкание в цепи проверяемого диода, то сигналы отрицательной полярности проходят аналогично описанному выше и блок индикации 9 обрывы не фиксирует, а импульсы положительной полярности проходят через другую цепь устройства 5 разделения импульсов и сигнал на его выходе 7 фиксируется блоком индикации 9 как наличие в схеме короткого замыкания.

При восстановлении дефекта устройство автоматически устанавливается в исходное состояние, а ве случае повторения неисравностей схема работает аналогично описанному выше.

Таким образом, предлагаемое устройство позволяет обнаруживать и фиксировать кратковременные и постоянные обрывы и кратковременные короткие замыкания в цепи диодов в широком диапазоне типономиналов диодов, его схемное решение существенно проще схемы прототипа. Выбор частоты генератора импульсов позволяет фиксировать кратковременные отказы требуемой длительности.

5О ный испытуемый диод D, преобразуются в импульсы отрицательной полярности, воздействующие на вход устройства разделения импульсов. При этом на входе 7 устройства разделения импульсов присутствует сигнал логического нуля, а на выходе

6, соединенном с управляющим входом триггера 8 — импульсы, соответствующие импульсам входной последовательности с генератора 1. На тактовом входе триггера присутствуют импульсы, соответствующие импульсам входной последовательности с генератора 1, противофазные импульсам на выходе 6 устройства 5. Благодаря этому на выходе триггера присутствует неизменный сигнал, например, логического нуля. Таким образом, при контроле исправного диода на выходе блока индикации 9 отсутствуют показания.

В случае возникновения обрыва в цепи проверяемого диода на управляющем входе триггера устанавливается постоянный потенциал логической единицы и первый. импульс на тактовом входе триггера переключает его в другое устойчи го .остояние. Перепад напряжения на ыходе триггера фиксируе-,"я блажим индикации. При пропада35 ьо

Устройство контроля надежности омических контактов полупроводниковых диодов, содержащее генератор импульсов, блок обнаружения обрыва и коротких замыканий и блок индикации, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений и упрощения конструкции, блок обнаружения обрывов и коротких замыканий содержит два согласующих устройства, триггер и устройство разделения импульсов, вход которого соединен через согласующее устройство с одной из клемм для подключения испытуемого диода, а выходы соединены с блоком индикации с управляющим входом триггера, тактовый вход которого соединен через второе согласующее устройство с генератором импульсов и второй клеммой для подключения испытуемого диода, а выход — с блоком индикации..

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

N 277954, кл. G 01 R 31/26, 07.04.69.

2. Авторское свидетельство СССР

Ма 397857, кл. G 01 R 31/26, 21.11.70.

673940

Составитель И. Музанов

Редактор Т. Юрч икова Техред О. Луговая Корректор М. Шароши

Заказ 4065/41 Тираж 1089 Подписное

ЦН И И ПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал П П П «Патент>, r. Ужгород, ул. Проектная, 4