Устройство для измерения динамических параметров электронных блоков

Устройство для измерения динамических параметров электронных блоков

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИС

ИЗОБРЕТЕНИЯ (F1167695 3

Срюз Советских

Соцналистннескнх

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 04.04.77 (21) 2469363/24-21 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.07.79. Бюллетень № 28 (45) Дата опубликования описания 30.07,79 (51) М. Кл.

G 0IR 31 f28

Государственный комитет (53) УДК 621.396.664 (088.8) по делам изобретений и открьпнй (72) Авторы изобретения О. П. Архипов, В. Г. Ермаков, В . А. Масенков и А. А. Мельников (71) Заявитель Пензенский филиал Всесоюзного научно-исследовательского технологического института приборостроения (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ

ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРОННЫХ БЛОКОВ

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения динамических параметров электронных блоков, например, при контроле интегральных схем различной степени интеграции по динамическим параметрам.

Известно устройство на основе кольцевого генератора, содержащего элемент совпадения, к выходу которого подключена 1р линия задержки (цепь последовательно соединенных микросхем), причем выход линии задержки соединен с индикатором через формирователь тестового импульса с объектом контроля и через ключ — с одним 15 из входов элемента совпадения. К другому входу элемента совпадения подключен выход второго ключа, вход которого соединен с выходом дискриминатора напряжения. К одному из входов дискриминатора напря- 2р жения подключен выход объекта контроля, а к другому — регулируемый источник опорного напряжения (1).

Недостатками известного устройства являются отсутствие возможности измере- 25 ния параметров микросхем с внутренней памятью, так как во втором такте работы устройства будет нарушаться условие самовозбуждения кольцевого генератора; большое время измерения из-за наличия 3р двух тактов работы при проведении одного измерения.

Цель изобретения — расширение функциональных возможностей и повышение быстродействия устройства.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство для измерения динамических параметров электронных блоков, содержащее элемент совпадения, с выходом которого соединен один из входов линии задержки, выход которой через формирователь тестового импульса соединен с входом объекта контроля, первый дискриминатор напряжения, с одним входом которого соединен регулируемый источник опорных напряжений, а с другим входом — выход объекта контроля, индикатор, введены второй дискриминатор напряжения, генератор импульсов опорной длительности, триггер и счетчик импульсов с регулируемым коэффициентом деления, причем первый вход второго дискриминатора напряжения соединен с выходом регулируемого источника опорных напряжений, а второй вход второго дискриминатора напряжения соединен с входом объекта контроля. Первый вход элемента совпадения соединен с выходом второго дискриминатора напряжения, второй вход элемента совпадения — с выходом триггера, первый вход которого

676953 соединен с выходом первого дискриминатора напряжения, а второй вход — с входом индикатора и выходом счетчика импульсов с регулируемым коэффициентом деления, вход которого соединен с вторым выходом линии задержки.

На чертеже показана структурная схема предлагаемого устройства.

Устройство содержит элемент 1 совпадения линии 2 задержки, индикатор 3, формирователь 4 тестового импульса, объект

5 контроля, дискриминаторы 6 и 7 напряжения, регулируемый источник 8 опорных напряжений, генератор 9 импульсов опорной длительности, триггер 10, счетчик 11 импульсов с регулируемым коэффициентом деления. Дискриминаторы 6 и 7 напряжения предназначены для фиксации уровней отсчета динамических параметров объекта контроля.

Устройство работает следующим образом.

Исходный импульс известной длительности, поступивший с генератора 9 импульсов опорной длительности в рециркуляционный контур, образованный элементом 1 совпадения, линией 2 задержки с формирователем 4 тестового импульса, вторым дискриминатором 7 напряжения, периодически сужается на величину задержки объекта 5 контроля.

Коэффициент деления счетчика 11 импульсов с регулируемым коэффициентом деления устанавливается равным коэффициенту деления объекта 5 контроля, и-й импульс с промежуточного выхода линии задержки (n — коэффициент деления объекта контроля или число импульсов, поступивших на вход объекта контроля до первого появления на его выходе требуемого отклика) через счетчик 11 импульсов переключает триггер 10, который выдает запрещающий потенциал на вход элемента 1 совпадения, и изменения потенциала на выходе элемента совпадения от поступления на ее второй вход импульса с выхода дискриминатора 7 напряжения не происходит.

Изменение потенциала на выходе объекта контроля под действием и-го импульса вызывает переброс триггера 10 в исходнос состояние, разрешив тем самым прохождение импульса с выхода дискриминатора 7 напряжения через элемент 1 совпадения на вход линии 2 задержки. Импульс на выходе элемента 1 совпадения по сравнению с импульсом на выходе дискриминатора 7 будет короче на величину задержки объекта о контроля.

Таким образом, при каждом появлении импульса с выхода объекта контроля импульс на выходе элемента совпадения су5

20 5

60 жа ется на величину задержки объекта контроля.

Сужение импульса опорной длительности происходит до момента равенства длительности циркулирующего импульса величине задержки объекта контроля. В момент равенства происходит срыв колебаний в рециркуляционном контуре. Действительное значение задержки объекта контроля можно определять как отношение длительности опорного импульса к числу импульсов, зафиксированному индикатором 3.

Поскольку измерение производится в один такт, то по сравнению с прототипом оказывается выигрыш в быстродействии.

Кроме того, предлагаемое устройство позволяет измерять динамические параметры микросхем с внутренней памятью.

Использование устройства дает возможность повысить быстродействие аппаратуры контроля электронных блоков, а также расширить ее функциональные возможности.

Формула изобретения

Устройство для измерения динамических параметров электронных блоков, содержащее элемент совпадения, с выходом которого соединен один из входов линии задержки, выход которой через формирователь тестового импульса соединен с входом объекта контроля, первый дискриминатор напряжения, с одним входом которого соединен регулируемый источник опорных напряжений, а с другим входом — выход объекта контроля, индикатор, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей и повышения быстродействия, в него введены второй дискриминатор напряжения, генератор импульсов опорной длительности, триггер и счетчик импульсов с регулируемым коэффициентом деления, причем первый вход второго дискриминатора напряжения соединен с выходом регулируемого источника опорных напряжений, а второй вход второго дискриминатора напряжения соединен с входом объекта контроля, первый вход элемента совпадения соединен с выходом второго дискриминатора напряжения, второй вход элемента совпадения соединен с выходом триггера, первый вход которого соединен с выходом первого дискриминатора напряжения, а второй вход которого соединен с входом индикатора и выходом счетчика импульсов с регулируемым коэффициентом деления, вход которого соединен с вторым выходом линии задержки.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

М 432431, кл. 2G 01К 31/28, 1974.

676953

Составитель В. Евпаков

Редактор Е. Караулова Техред А. Камышникова Корректор А. Степанова

Заказ 1542/9 Изд. № 439 Тираж 1090 Подписное

НПО «Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Я-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр, Сапунова, 2