Устройство для измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов
Патент 693274
Авторы
Классы МПК
- G01R27/28 - для измерения затухания, усиления, сдвига фаз или производных от них характеристик четырехполюсников, например двухканальных схем; для измерения переходных характеристик (в линиях передачи H04B 3/46)
- G01R31/26 - испытание отдельных полупроводниковых приборов (измерение содержания примесей G01N)
- G01R31/317 - испытание цифровых схем
Устройство для измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов
Иллюстрации
Реферат